本发明专利技术提出一种光纤网络综合测试系统，包括：光源发生器，用于连接到待测光纤的第一端接口，并发出测试光源，所述测试光源的波长可选；光功率计，用于连接到待测光纤的第二端接口，接收所述测试光源，进行相对或绝对功率测试，以获得所述待测光纤的光功率测试结果，所述测试光源用于光功率计测试时的波长为1310nm或1550nm；光损耗计算装置，根据光功率计测试所述测试光源，计算出光功率差值作为待测光纤的光损耗测试结果；测试控制装置，用于控制系统工作，并接收各测试结果从而形成测试报告；以及集中控制计算机，接收所述测试控制装置上传的测试报告。本发明专利技术能够实现综合测试，能够适应不同的测试场景，生成统一的测试报告远程传输，实现远程集中监控。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光纤通信领域，特别涉及的是。
技术介绍
光纤网络测试是对光纤光缆布线网络的性能、质量的检测；广泛应用于光纤通讯网络、综合布线系统、光器件生产与研究中；一般而言，对于光线网络而言，性能要求非常高，测试项目非常多。目前的光纤网络测试仪器，测试项目分散，适用的测试场景也十分单一，在实际运用时，一般都是测试员通过各项仪器进行测试，对测试结果进行记录，最终再进行统计分析，测试项目的不集中会造成各种项目测试的不便，测试结果数据的分析和查阅也非常繁琐，增加了操作者的学习负担与工作时间。此外，现有的光纤测试方法也有待改进的地方。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种光纤网络综合测试系统，能够实现综合测试，能够适应不同的测试场景，生成统一的测试报告远程传输，实现远程集中监控。为解决上述问题，本专利技术提出一种光纤网络综合测试系统，包括:光源发生器，用于连接到待测光纤的第一端接口，并发出测试光源，所述测试光源的波长可选；光功率计，用于连接到待测光纤的第二端接口，接收所述测试光源，进行相对或绝对功率测试，以获得所述待测光纤的光功率测试结果，所述测试光源用于光功率计测试时的波长为1310nm或1550nm;光损耗计算装置，根据所述光功率计测试所述测试光源的发射光和接收光，计算出光功率差值作为待测光纤的光损耗测试结果；测试控制装置，用于控制系统工作，并接收各测试结果从而形成测试报告；以及集中控制计算机，用于和所述测试控制装置有线或无线通信，接收所述测试控制装置上传的测试报告。根据本专利技术的一个实施例，还包括:故障定位仪，用于根据所述测试光源通过所述待测光纤而检测出光源泄漏点，从而定位待测光纤的故障事件发生点，以获得故障测试结果，所述测试光源用于故障定位仪测试时的波长在可见光范围内。根据本专利技术的一个实施例，所述用于故障定位仪测试的测试光源为红光源，通过电流驱动所述光源发生器发光。根据本专利技术的一个实施例，还包括:光纤普查仪，用于连接到待测光纤的第二端接口，在所述测试光源通过待测光纤且所述待测光纤经受敲击后，接收并将敲击信息转换为音频和/或视频信号，将测试光源作为波形显示，从而找出目标光纤，以获得目标光纤测试结果，所述测试光源用于光纤普查仪测试时的波长为1550nmo根据本专利技术的一个实施例，在所述光纤普查仪的音频输出端口连接有音频输出装置。根据本专利技术的一个实施例，用于敲击所述待测光纤的物件为硬金属便携工具。根据本专利技术的一个实施例，还包括:光时域反射仪，用于根据所述测试光源通过所述待测光纤而检测整个待测光纤的轮廓，识别并测量所述待测光纤的跨度、接续点和连接头，通过一描述所述待测光纤的轨迹线给出待测光纤的衰减值位置和大小，以获得衰减值位置和大小的测试结果，所述测试光源用于光时域反射仪测试时的波长在可见光范围内。本专利技术还提供一种使用前述任意一种光纤网络综合测试系统的综合测试方法，包括:步骤SI:将光源发生器和光功率计分别连接到待测光纤的第一端接口和第二端接口，启动光功率计，选择测试光源的波长为131Onm或1550nm;步骤S2:光功率计接收所述测试光源，进行相对或绝对功率测试，以获得所述待测光纤的光功率测试结果，发送光功率测试结果给测试控制装置；步骤S3:光损耗计算装置根据所述光功率计测试所述测试光源的发射光和接收光，计算出光功率差值作为待测光纤的光损耗测试结果，发送光损耗测试结果给测试控制装置；步骤S4:测试控制装置接收各测试结果从而形成测试报告，并上传测试报告给集中控制计算机。根据本专利技术的一个实施例，在步骤S3和步骤S4之间还包括:步骤S5:故障定位仪根据所述测试光源通过所述待测光纤而检测出光源泄漏点，从而定位待测光纤的故障事件发生点，以获得故障测试结果，发送故障测试结果给测试控制装置，所述测试光源用于故障定位仪测试时的波长在可见光范围内。根据本专利技术的一个实施例，在步骤S3和步骤S4之间还包括:步骤S6:拆下所述光功率计，将光纤普查仪连接到待测光纤的第二端接口 ；光纤普查仪在所述测试光源通过待测光纤且所述待测光纤经受敲击后，接收并将敲击信息转换为音频和/或视频信号，将测试光源作为波形显示，从而找出目标光纤，以获得目标光纤测试结果，发送目标光纤测试结果给测试控制装置，所述测试光源用于光纤普查仪测试时的波长为 1550nm。根据本专利技术的一个实施例，在步骤S3和步骤S4之间还包括: 步骤S7:光时域反射仪根据所述测试光源通过所述待测光纤而检测整个待测光纤的轮廓，识别并测量所述待测光纤的跨度、接续点和连接头，通过一描述所述待测光纤的轨迹线给出待测光纤的衰减值位置和大小，以获得衰减值位置和大小的测试结果，发送衰减值位置和大小的测试结果给测试控制装置，所述测试光源用于光时域反射仪测试时的波长在可见光范围内。根据本专利技术的一个实施例，所述步骤S7进一步依次包括以下步骤:触发所述光时域反射仪测试模块状；设置波长，所设波长与测试系统传输波长相对应，若系统开放15 5 Onm波长，则测试波长选择1550nm波长；设置脉宽，脉宽越长，动态测量范围越大，测量距离更长，若在OTDR曲线波形中产生盲区大，则短脉冲注入光平低，以减小盲区；设置测试范围，待测光纤长度的1.5?2倍距离之间；设置平均时间，一般采用统计平均的方法来提高信噪比，平均时间越长，信噪比越尚;设置光纤参数，包括折射率和后向散射系数和后向散射系数的设置；参数设置好后，OTDR发送光脉冲并接收由光纤链路散射和反射回来的光，对光电探测器的输出取样，得到OTDR曲线，根据OTDR曲线分析光纤质量；判断光纤接头清洁度，若插损过大、测量不可靠、曲线多噪音或使测量不能进行，则清洁OTDR接头或补测活接头；判断待测试光纤长度，若屏幕无法全部显示波形信息，说明测试量程过小，需加大量程，若曲线测试长度与实际长度差距较大，则判断为有断点；判断光纤质量，OTDR测试的光纤波形斜率基本一致，若某一段斜率较大，说明衰减较大，若曲线主体为不规则形状、斜率较大或弯曲，判断为光纤质量劣化；判断接头损耗，包括熔接点损耗及连接头损耗，若熔接点损耗大于0.1dB,且熔接头损耗大于0.5dB，则判断为连接点质量差；判断鬼影，鬼影表现为反射强的点经多次反射形成的反射峰，若某点的反射峰到始端的距离是其中一强反射点到始段距离的倍数，则判断为鬼影；判断正增益现像，若光纤波形上出现正衰减，采用双向测试法进行测试;测试值相加除以二，为实际损耗值。采用上述技术方案后，本专利技术相比现有技术具有以下有益效果:通过光源发生器向待测光纤内通入测试光源，测试光源的波长可选，从而可根据具体测试项目而选择，通过光功率计接收该测试光源可以获得光功率测试结果，而通过光损耗计算装置可以进一步获得光损耗测试结果，测试控制装置可以获取这些测试结果并形成测试报告上传给集中控制计算机，从而实现统一控制集中监控，且实现了不同测试项目的综合，适合不同测试场景的需求。【附图说明】图1为本专利技术一实施例的光纤网络综合测试系统的结构框图；图2为本专利技术另一实施例的光纤网络综合测试系统的结构框图；图3为本专利技术实施例的光纤网络综合测试方法的流程示意图。【具体实施方式】为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的【具体实施方式】做详本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光纤网络综合测试系统，其特征在于，包括：光源发生器，用于连接到待测光纤的第一端接口，并发出测试光源，所述测试光源的波长可选；光功率计，用于连接到待测光纤的第二端接口，接收所述测试光源，进行相对或绝对功率测试，以获得所述待测光纤的光功率测试结果，所述测试光源用于光功率计测试时的波长为1310nm或1550nm；光损耗计算装置，根据所述光功率计测试所述测试光源的发射光和接收光，计算出光功率差值作为待测光纤的光损耗测试结果；测试控制装置，用于控制系统工作，并接收各测试结果从而形成测试报告；以及集中控制计算机，用于和所述测试控制装置有线或无线通信，接收所述测试控制装置上传的测试报告。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李楚元，
申请(专利权)人：大豪信息技术威海有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37
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