光纤免缠绕插损回损测试仪制造技术

技术编号:10529706 阅读:366 留言:0更新日期:2014-10-15 11:25
本实用新型专利技术公开了一种光纤免缠绕插损回损测试仪。它包括中央处理器,中央处理器通过光发射模块连接波分复用器,波分复用器信号的输出端连接光分路器,光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上,光分路器的回损信号端连接回损测试模块;回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输,还包括一个能够提供时间基准的时钟芯片,时钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。采用上述的结构后,可以通过时钟芯片提供时间基准,回损测试模块记录返回的菲涅尔反射,回损测试模块通过与时钟芯片的同步,可以将不同端面的反射值区分开,就达到了免于光纤缠绕的目的,测试方便可靠,避免了光纤在测试时受伤,还可以极大地提升产品测试效率。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光纤免缠绕插损回损测试仪,其特征在于:包括中央处理器,中央处理器通过光发射模块连接波分复用器,波分复用器信号的输出端连接光分路器,光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上,所述光分路器的回损信号端连接回损测试模块;回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输,还包括一个能够提供时间基准的时钟芯片,时钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周永军
申请(专利权)人:镇江奥菲特光电科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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