全自动光插回损测试仪及测试方法技术

技术编号:10198372 阅读:182 留言:0更新日期:2014-07-11 04:21
本发明专利技术公开了一种全自动光插回损测试仪及测试方法。它包括中央处理器,中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接波分复用器;波分复用器信号的输出端连接光分路器,光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上,光分路器的回损信号端连接回损测试模块;回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输,还包括一个能够提供时间基准的钟芯片,钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。采用上述的结构及方法后,实现了同时测试光纤跳线在1310nm和1550nm两个波长的光学性能;可以将不同端面的反射值区分开,就达到了免于光纤缠绕的目的,其测试方便可靠,即避免了光纤在测试时受伤,又极大地提升产品测试效率。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种全自动光插回损测试仪,其特征在于:包括中央处理器,中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接波分复用器;所述波分复用器信号的输出端连接光分路器,光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上,所述光分路器的回损信号端连接回损测试模块;回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输,还包括一个能够提供时间基准的钟芯片,钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周永军
申请(专利权)人:镇江奥菲特光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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