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本发明公开了一种全自动光插回损测试仪及测试方法。它包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接波分复用器；波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，光分路器...
该专利属于镇江奥菲特光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过镇江奥菲特光电科技有限公司授权不得商用。

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