【技术实现步骤摘要】
一种可测量侧面或内部并可自动上下料的测量系统
本技术涉及一种非接触式视觉成像尺寸测量系统，更具体地，涉及一种可测量侧面或内部并可自动上下料的测量系统。
技术介绍
非接触式尺寸测量装置以光电、电磁、超声波等技术为基础，在仪器的测量元件不与被测物体表面接触的情况下，即可获得被测物体的各种外表或内在的尺寸数据特征。非接触式尺寸测量系统与传统的接触式测距系统相比精度更高、操作更方便、安全系数更高、洁净度高、测量过程中对被测物的污染程度小，从而被应用于工业生产及科学研究的多个领域。典型的非接触式尺寸测量方法如激光三角法、电涡流法、超声测量法、视觉成像测量法、超声波测量法等等，其中视觉成像测量法是指通过机器视觉产品(即图像摄取装置，分CMOS相机和CCD相机两种，CMOS相机像素较高，大约为2500万像素，CCD相机像素较低，大约为150万像素)将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号，图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，进而根据判别的结果来控制现场的设备动作，在测量缺陷和防止缺陷产品被配送到消费者...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种可测量侧面或内部并可自动上下料的测量系统，其特征在于，包括: 控制系统； 工作台； 设于所述工作台上的第一导轨组件，该第一导轨组件包括固接于所述工作台上的左支座与右支座、以及跨接于所述左支座与右支座之间的第一导轨； 设于所述第一导轨上的测量组件，该测量组件可沿所述第一导轨来回往复地滑移；设于所述工作台之上、第一导轨之下、及左支座与右支座之间的自动上下料组件；以及设于所述自动上下料组件旁侧的至少一个用于夹紧待测物且具有良好透光性的载具组件， 其中，所述自动上下料组件设有吸料组件，该吸料组件设有至少一组吸嘴装置，所述载具组件设有用于偏转待测物侧面或内部结构光线的光偏转器，所述测量组件、自动上下料组件、以及载具组件与所述控制系统电连接。2.如权利要求1所述的可测量侧面或内部并可自动上下料的测量系统，其特征在于，所述自动上下料组件包括: 与所述第一导轨垂直设置的第二导轨； 设于所述第二导轨之上的上下料支座； 设于所述上下料支座上的吸料组件；以及 设于所述第二导轨外侧的至少一个置物台， 其中，所述上下料支座可沿所述第二导轨前后往复滑动，所述吸料组件可沿所述上下料支座上下往复滑动。3.如权利要求2所述的可测量侧面或内部并可自动上下料的测量系统，其特征在于，所述上下料支座包括: 与所述第二导轨滑动连接的支座底座；以及 与所述支座底座垂直且固接的至少一个支座撑板， 其中，所述支座撑板包括底部与引导部，所述底部在其下部与所述支座底座固接，所述引导部在所述底部的上部一体式地结合该底部并且沿该底部的宽度方向向内收缩从而形成具有水平台面的两个肩部。4.如权利要求3所述的可测量侧面或内部并可自动上下料的测量系统，其特征在于，所述支座底座之上、支座撑板的内侧设有吸料组件驱动气缸，所述支座撑板的外侧固接有第三导轨，其中，所述第三导轨与所述支座底座垂直设置，所述第三导轨的宽度不大于所述引导部的宽度，且所述第三导轨的对称中心平面与所述引导部的对称中心平面处于同一平面，所述第三导轨的顶端高于所述引导部的顶端或者与所述引导部的顶端齐平。5.如权利要求4所述的可测量侧面或内部并可自动上下料的测量系统，其特征在于，所述吸料组件包括: 与所述支座撑板相垂直设置且呈方形平板结构的吸嘴支座；以及 悬挂于所述吸嘴支座的端部下表面的吸嘴装置， 其中，所述吸嘴支座上开设有数目与所述支座撑板的数目相同的通孔，所述吸嘴装置通过一吸嘴连接部与所述第三导轨滑动连接，所述吸嘴支座由所述吸料组件驱动气缸支撑及驱动，所述吸嘴支座通过所述通孔套设于所述支座撑板的引导部上，所述通孔的尺寸及形状被设置成能够允许所述引导部及第三导轨同时穿过，所述吸嘴支座的宽度不小于所述支座撑板的...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴加富，缪磊，何勇军，
申请(专利权)人：苏州富强科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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