Including the corona discharge detection device, the invention relates to a Kinect ranging photon number: fixed base; two degree of freedom platform is arranged on the fixed base; the combination detection module is arranged on the two degree of freedom platform, integrated with Kinect depth sensor and whole blind ultraviolet imaging instrument; the control processing module, respectively. With two degrees of freedom Kinect PTZ, depth sensor and whole blind ultraviolet imager, two degrees of freedom control PTZ movement, measuring signal and receiving Kinect, depth sensor and blind ultraviolet imager, the corona discharge detection and correction. Compared with the prior art, the invention has the advantages of high correction precision, simple structure, etc., and solves the problem that the photon number distance correction of the surface corona discharge of the traditional power equipment is not accurate.
【技术实现步骤摘要】
一种Kinect测距修正光子数的电晕放电检测装置
本专利技术涉及一种电晕放电紫外成像检测光子数装置,尤其是涉及一种Kinect测距修正光子数的电晕放电检测装置。
技术介绍
日全盲紫外成像是一种可视化的高压设备表面放电检测方法,具有探测距离远、非接触、放电位置定位准确的诸多优点,近几年在电力系统高压设备放电检测中得到了较广泛的应用。目前实验室研究和现场放电检测中多采用“光子数”作为放电量化参数,但在工程实际中检测放电时,紫外成像仪的测试距离并不固定,而距离对光子数有着明显影响。在相同放电强度下,距离越远则检测到的光子数越小,导致检测结果没有可对比性,使得在制定紫外成像检测的相关导则中难以确定具体的光子数阈值。因而研究光子数与距离之间的关系并将光子数修正到某统一观测距离下具有重要的现实意义。为此,就有必要获取被测设备表面放电处到观测点的距离。目前,已有的测距方法,包括:激光测距法(申请号:CN201620641553.X)、超声波测距法(申请号:CN201520814999.3)、红外线测距法(申请号:CN200910312713.0)以及微波雷达测距法等。上述的方法 ...
【技术保护点】
一种Kinect测距修正光子数的电晕放电检测装置,其特征在于,包括:固定底座;二自由度云台,设置于固定底座上;组合检测模块,设置于二自由度云台上,集成有Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪;控制处理模块,分别连接二自由度云台、Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪,控制二自由度云台运动,并接收Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪的测量信号,实现电晕放电检测与修正。
【技术特征摘要】
1.一种Kinect测距修正光子数的电晕放电检测装置,其特征在于,包括:固定底座;二自由度云台,设置于固定底座上;组合检测模块,设置于二自由度云台上,集成有Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪;控制处理模块,分别连接二自由度云台、Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪,控制二自由度云台运动,并接收Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪的测量信号,实现电晕放电检测与修正。2.根据权利要求1所述的Kinect测距修正光子数的电晕放电检测装置,其特征在于,所述二自由度云台包括云台本体以及分别与云台本体连接的云台水平方向步进电机和云台垂直方向步进电机,所述云台水平方向步进电机和云台垂直方向步进电机均与控制处理模块连接。3.根据权利要求1所述的Kinect测距修正光子数的电晕放电检测装置,其特征在于,所述组合检测模块包括机壳,所述Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪上下贴合安装于所述机壳内,所述Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪的朝向相同,且贴合于机壳的同一侧面。4.根据权利要求3所述的Kinect测距修正光子数的电晕放电检测装置,其特征在于,所述机壳上设有用于Kinect深度传感器散热的散热口。5.根据权利要求3所述的Kinect测距...
【专利技术属性】
技术研发人员:崔昊杨,李鑫,霍思佳,葛晨航,郭文诚,马宏伟,李亚,刘晨斐,束江,曾俊冬,黄琼,江超,卞正兰,陈磊,李高芳,唐忠,
申请(专利权)人:上海电力学院,
类型:发明
国别省市:上海,31
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