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本发明涉及一种Kinect测距修正光子数的电晕放电检测装置，包括：固定底座；二自由度云台，设置于固定底座上；组合检测模块，设置于二自由度云台上，集成有Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪；控制处理模块，分别连接二自由度云台、Kinect...
该专利属于上海电力学院所有，仅供学习研究参考，未经过上海电力学院授权不得商用。

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