一种磁共振射频发射场测量方法及磁共振系统技术方案

本发明专利技术实施例提供了一种磁共振射频发射场测量方法及磁共振系统。一方面，该磁共振射频发射场测量方法包括：根据双回聚脉冲自旋回波序列获取射频发射场的图像；从而，根据所述射频发射场的图像沿一方向的信号强度分布，识别射频发射场参数。本发明专利技术实施例提供的技术方案能够解决现有技术采用单回聚序列得到的射频发射场的图像只能定性的判断射频发射场均匀程度，而不能定量分析出射频发射场相关参数的问题。

Magnetic resonance radio-frequency emission field measuring method and magnetic resonance system

The embodiment of the invention provides a magnetic resonance radio-frequency emission field measuring method and a magnetic resonance system. On the one hand, including the magnetic resonance RF field measurement method based on Image: double spin echo sequence to obtain poly pulse RF field; thus, according to the distribution of signal intensity image of the RF field along a direction of the RF field parameter identification. Technical scheme provided by the embodiment of the invention can solve the image only qualitative RF field to gather sequences obtained by adopting the prior judgment of RF field uniform degree, but not quantitative analysis of RF field parameter problem.

【技术实现步骤摘要】
一种磁共振射频发射场测量方法及磁共振系统
本专利技术涉及医学影像
，尤其涉及一种磁共振射频发射场测量方法及磁共振系统。
技术介绍
磁共振系统的射频发射场的均匀性分布，是体发射线圈与表面接收线圈的设计需要重点考虑和测试的。现有技术中，在对射频发射场进行测量时，采用单回聚的大角度激发的自旋回波序列，在水膜上测量射频发射场的分布。所谓单回聚脉冲序列主要是指射频脉冲信号先发出一个大角度(至少是360度的4倍对应的角度)的激发信号，然后，间隔一段时间后，再发出一个180度的回聚信号。使用大角度的单回聚的自旋回波序列进行扫描，数据经过重建后能够测量得到的射频发射场等高线图(如图1所示)，该等高线图能够定性地反映出射频场的空间分布和不均匀程度。在实现本专利技术过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：采用单回聚自旋回波的脉冲序列扫描得到的射频发射场等高线图，该等高线图只能定性的描述发射场的不均匀程度，无法定量的描述发射场的分布，不能确定射频发射场标准强度的位置以及射频发射场变化的方向。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种磁共振射频发射场测量方法及磁共振系统，用本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁共振射频发射场测量方法，其特征在于，所述方法包括：根据双回聚脉冲自旋回波序列获取射频发射场的图像；根据所述射频发射场的图像沿一方向的信号强度分布，识别射频发射场参数。

【技术特征摘要】
1.一种磁共振射频发射场测量方法，其特征在于，所述方法包括：根据双回聚脉冲自旋回波序列获取射频发射场的图像；根据所述射频发射场的图像沿一方向的信号强度分布，识别射频发射场参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述双回聚脉冲自旋回波序列包括射频脉冲信号以及梯度脉冲信号；所述射频脉冲信号具有一个激发脉冲以及两个180度的回聚脉冲；其中，所述激发脉冲的角度为360度的整数倍。3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述射频发射场参数包括以下至少一种：射频发射场标准强度的位置、射频发射场变化方向。4.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述双回聚脉冲自旋回波序列采用指定时长的重复时间获取所述射频发射场的图像。5.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于，当所述射频发射场参数为射频发射场标准强度的位置时，所述根据所述射频发射场的图像沿一方向的信号强度分布，识别射频发射场参数包括：获取所述射频发射场的图像沿一方向的信号强度分布，以获取所述信号强度分布对应曲线；识别所述信号强度分布对应曲线内信号宽度最细的波谷，以所述波谷作为所述射频发射场标准强度的位置。6.根据权利要求3或5所述的测量方法，其特征在于，当所述射频发射场参数为射频发射场变化方向时，所述根据所述射频发射场的图像沿一方向的信号强度分布，识别射频发射场参数还包括：获取所述射频发射场的图...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘柳，车韶，邹黔，陈俊羽，
申请(专利权)人：上海联影医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31