NTC热敏元件芯片测量夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种NTC热敏元件芯片测量夹具，包括底板，框架顶部的两侧均开设有卡槽，卡槽的内侧设有紧固螺栓，紧固螺栓的底部贯穿框架并延伸至螺纹孔的内侧，框架内部的两侧均设有测试块，测试块一侧的正面与背面均连接有压缩弹簧，测试块底部的一侧连接有连接块，两个连接块之间连接有收紧弹簧，测试块的顶部开设有测试孔，测试块的内侧贯穿连接有测试触杆，测试触杆的一侧贯穿测试块并延伸至测试块的外侧，测试触杆的一侧连接有挡块，挡块的一侧连接有弹簧，弹簧的一侧与测试块连接。本实用新型专利技术具备便于对不同规格的电阻芯片进行测量的优点，解决了不方便测量不同规格的电阻会降低测量夹具实用性的问题。

NTC thermosensitive element chip measuring clamp

The utility model discloses a NTC thermistor chip measuring fixture, which comprises a bottom plate, both sides of the top of the frame are respectively provided with a slot inside the card groove is provided with a fastening bolt, fastening bolt at the bottom through the inner frame and extends to the threaded hole, both sides inside the frame are provided with test blocks, test the front and back side block are connected with the compression spring, one side of the bottom of the test block is connected with a connecting block two is connected with the connecting block between the tightening spring, a test block is arranged at the top of the test hole, block inside the test through the connection test rod, one test contact rod through test block and extends to the outer side of the test piece. The contact rod is connected with the test block, the block is connected with one side of one side of the spring, spring is connected with the test piece. The utility model has the advantages of convenience for measuring the resistance chip of different specifications, and solves the problem that the inconvenient measurement of the resistance of different specifications can reduce the practicability of the measuring clamp.

【技术实现步骤摘要】
NTC热敏元件芯片测量夹具
本技术涉及夹具
，具体为一种NTC热敏元件芯片测量夹具。
技术介绍
NTC热敏元件，NTC是英文负温度系数元件的缩写，顾名思义，这种元件的电阻值随着温度的升高而降低，NTC热敏元件通常封装成类似于金属膜电阻、小型陶瓷电容和表面安装帖焊元件的形式，在这种情况下人们通常称它们NTC热敏电阻。根据申请号201520041818.8的专利公开了一种NTC热敏元件芯片测量夹具的说明书中记载了一种测量夹具，该夹具解决了电阻芯片在测量时比较麻烦的问题，但是在测量不同规格的电阻芯片时需要转动锁紧手轮才能对不同规格的电阻进行测量，使得在测量不同规格的电阻芯片时比较麻烦，从而降低了测量夹具的实用性。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种NTC热敏元件芯片测量夹具，具备便于对不同规格的电阻芯片进行测量的优点，解决了不方便测量不同规格的电阻会降低测量夹具实用性的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种NTC热敏元件芯片测量夹具，包括底板，所述底板顶部的两侧开设有螺纹孔，所述底板的顶部设有框架，所述框架顶部的两侧均开设有卡槽，所述卡槽的内侧设有紧固螺栓，所述紧固螺栓的底部贯穿框架并延伸至螺纹孔的内侧，所述框架内部的两侧均设有测试块，所述测试块一侧的正面与背面均连接有压缩弹簧，所述压缩弹簧的一侧与框架的内侧壁连接，所述测试块底部的一侧连接有连接块，两个连接块之间连接有收紧弹簧，所述测试块的顶部开设有测试孔，所述测试块的内侧贯穿连接有测试触杆，所述测试触杆的一侧贯穿测试块并延伸至测试块的外侧，所述测试触杆的一侧连接有挡块，所述挡块的一侧连接有弹簧，所述弹簧的一侧与测试块连接。优选的，所述弹簧位于测试触杆的外侧。优选的，所述压缩弹簧外侧的左侧设有第一套筒，所述压缩弹簧外侧的右侧设有第二套筒。优选的，所述第一套筒的直径大于第二套筒的直径，且第一套筒内部的右侧与第二套筒外部的左侧活动连接。优选的，所述测试触杆的一侧贯穿测试孔并延伸至测试块一侧的表面。优选的，所述测试孔为垂直设置。与现有技术相比，本技术的有益效果如下：1、本技术通过紧固螺栓的使用，使得框架放置在底板上时能够通过紧固螺栓进行连接，从而能够测量夹具在工作时更加稳定，通过收紧弹簧的使用，使得两个测试块能够通过收紧弹簧进行收缩，从而能够将电阻芯片放在两个测试块之间进行夹紧，让电阻芯片在测量时变得更加方便，通过压缩弹簧的使用，使得测试块在夹紧不同规格的电阻芯片时，压缩弹簧能够让测试块进行移动，让两个测试块之间能够留有足够的空间夹住不同规格的电阻芯片，从而让测量夹具在测量不同规格的电阻芯片时变得更加方便，通过侧视触杆与测试孔的使用，使得测试笔能够插入测试孔内与测试触杆进行接触，从而达到对电阻芯片进行测量的效果。附图说明图1为本技术结构示意图；图2为本技术框架的俯视图。图中：1底板、2螺纹孔、3框架、4卡槽、5紧固螺栓、6测试块、7压缩弹簧、8连接块、9收紧弹簧、10测试孔、11测试触杆、12挡块、13弹簧、14第一套筒、15第二套筒。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-2，本技术提供一种技术方案：一种NTC热敏元件芯片测量夹具，包括底板1，底板1顶部的两侧开设有螺纹孔2，底板1的顶部设有框架3，框架3顶部的两侧均开设有卡槽4，卡槽4的内侧设有紧固螺栓5，通过紧固螺栓5的使用，使得框架3放置在底板1上时能够通过紧固螺栓5进行连接，从而能够测量夹具在工作时更加稳定，紧固螺栓5的底部贯穿框架3并延伸至螺纹孔2的内侧，框架3内部的两侧均设有测试块6，测试块6一侧的正面与背面均连接有压缩弹簧7，通过压缩弹簧7的使用，使得测试块6在夹紧不同规格的电阻芯片时，压缩弹簧7能够让测试块6进行移动，让两个测试块6之间能够留有足够的空间夹住不同规格的电阻芯片，从而让测量夹具在测量不同规格的电阻芯片时变得更加方便，压缩弹簧7外侧的左侧设有第一套筒14，压缩弹簧7外侧的右侧设有第二套筒15，第一套筒14的直径大于第二套筒15的直径，且第一套筒14内部的右侧与第二套筒15外部的左侧活动连接，通过第一套筒14与第二套筒15的配合使用，使得第一套筒14与第二套筒15能够将压缩弹簧7包裹住，从而防止灰尘会沉积在压缩弹簧7内影响压缩弹簧7的使用效果，压缩弹簧7的一侧与框架3的内侧壁连接，测试块6底部的一侧连接有连接块8，两个连接块8之间连接有收紧弹簧9，通过收紧弹簧9的使用，使得两个测试块6能够通过收紧弹簧9进行收缩，从而能够将电阻芯片放在两个测试块6之间进行夹紧，让电阻芯片在测量时变得更加方便，测试块6的顶部开设有测试孔10，测试孔10为垂直设置，测试块6的内侧贯穿连接有测试触杆11，通过侧视触杆11与测试孔10的使用，使得测试笔能够插入测试孔10内与测试触杆11进行接触，从而达到对电阻芯片进行测量的效果，测试触杆11的一侧贯穿测试孔10并延伸至测试块6一侧的表面，测试触杆11的一侧贯穿测试块6并延伸至测试块6的外侧，测试触杆11的一侧连接有挡块12，挡块12的一侧连接有弹簧13，弹簧13位于测试触杆11的外侧，弹簧13的一侧与测试块6连接。使用时，将NTC热敏元件芯片放到两个测试块6之间，收紧弹簧9带动两个测试块6进行靠近，从而将芯片夹住，将测试笔插入测试孔10内，测试笔与测试触杆11接触，达到对芯片进行测量的效果。综上所述，该NTC热敏元件芯片测量夹具，通过收紧弹簧9的使用，使得两个测试块6能够通过收紧弹簧9进行收缩，从而能够将电阻芯片放在两个测试块6之间进行夹紧，让电阻芯片在测量时变得更加方便，解决了不方便测量不同规格的电阻会降低测量夹具实用性的问题。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素”。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种NTC热敏元件芯片测量夹具，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)顶部的两侧开设有螺纹孔(2)，所述底板(1)的顶部设有框架(3)，所述框架(3)顶部的两侧均开设有卡槽(4)，所述卡槽(4)的内侧设有紧固螺栓(5)，所述紧固螺栓(5)的底部贯穿框架(3)并延伸至螺纹孔(2)的内侧，所述框架(3)内部的两侧均设有测试块(6)，所述测试块(6)一侧的正面与背面均连接有压缩弹簧(7)，所述压缩弹簧(7)的一侧与框架(3)的内侧壁连接，所述测试块(6)底部的一侧连接有连接块(8)，两个连接块(8)之间连接有收紧弹簧(9)，所述测试块(6)的顶部开设有测试孔(10)，所述测试块(6)的内侧贯穿连接有测试触杆(11)，所述测试触杆(11)的一侧贯穿测试块(6)并延伸至测试块(6)的外侧，所述测试触杆(11)的一侧连接有挡块(12)，所述挡块(12)的一侧连接有弹簧(13)，所述弹簧(13)的一侧与测试块(6)连接。

【技术特征摘要】
1.一种NTC热敏元件芯片测量夹具，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)顶部的两侧开设有螺纹孔(2)，所述底板(1)的顶部设有框架(3)，所述框架(3)顶部的两侧均开设有卡槽(4)，所述卡槽(4)的内侧设有紧固螺栓(5)，所述紧固螺栓(5)的底部贯穿框架(3)并延伸至螺纹孔(2)的内侧，所述框架(3)内部的两侧均设有测试块(6)，所述测试块(6)一侧的正面与背面均连接有压缩弹簧(7)，所述压缩弹簧(7)的一侧与框架(3)的内侧壁连接，所述测试块(6)底部的一侧连接有连接块(8)，两个连接块(8)之间连接有收紧弹簧(9)，所述测试块(6)的顶部开设有测试孔(10)，所述测试块(6)的内侧贯穿连接有测试触杆(11)，所述测试触杆(11)的一侧贯穿测试块(6)并延伸至测试块(6)的外侧，所述测试触杆(11)的一侧连接有挡块(12)，所述挡块(12)...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭俊杰，
申请(专利权)人：天津破风者科技有限公司，
类型：新型
国别省市：天津,12