一种用于测量波长的光学装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于光学棱镜技术领域，特别是涉及一种用于测量波长的光学装置，包括设有外周壁、上盖板和下盖板的腔体，在该腔体下盖板上设置的至少两个反射装置，在所述腔体内部并且在该下盖板内表面上设置的与该棱镜对应的棱柱，使得待测光线经由棱镜、下盖板、棱柱和所述上盖板后形成仅具有不同光程的光线以用于测量。本实用新型专利技术能解决激光方向的高精密控制和反复拆卸维护调试等问题，本实用新型专利技术光学腔可应用于高精度测量脉冲激光或连续激光波长的光谱及分析。该实用新型专利技术的光学腔测量激光波长的精度可以达到1×10

An optical device for measuring wavelengths

The utility model belongs to the technical field of optical prism, especially relates to an optical device for measuring wavelength, including an outer wall and an upper cover plate and a lower cover plate arranged in the cavity, the cavity under the cover of at least two reflection device inside the cavity and the lower cover plate is arranged on the inner surface of the in accordance with the prism prism, the measured light through the prism, prism and cover, the upper cover plate to form only with different optical path for measuring light. The utility model can solve the problems of high precision control of laser direction, repeated disassembly, maintenance and debugging, etc. the optical cavity of the utility model can be applied to the measurement of the spectrum of a pulsed laser or a continuous laser beam with high precision. The optical cavity of the utility model can measure the laser wavelength by 1 * 10

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量波长的光学装置
本技术属于光学棱镜
，特别是涉及一种用于测量波长的光学装置。
技术介绍
现行改变激光方向的装置精度控制误差大且控制方法需反复多次，特别是其中心产品光学腔是激光波长计仪器的核心光学元件。波长计是通过光学测量手段，精确测量激光波长量值的唯一仪器。产品被广泛应用于科研、光通讯及工业领域。设计的波长计整体，现行的光学腔无法用于高精度测量脉冲激光或连续激光波长的光谱及分析。因此，如何研发一种用于测量波长的光学装置，避免了反复拆卸维护调试等问题、以提高了使用寿命，便成为亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本技术解决的主要问题是提供一种用于测量波长的光学装置及控制方法，以解决激光方向的高精密控制和反复拆卸维护调试等问题。为了解决上述技术问题，本技术公开了一种用于测量波长的光学装置，包括设有外周壁、上盖板和下盖板的腔体和在远离所述下盖板的外表面设置的反射装置，在所述腔体内部并且在该下盖板内表面上设置有与所述反射装置对应的棱柱，所述反射装置包括支架，所述支架靠近所述下盖板的一端固接有具有反射面的反射镜，其远离所述下盖板的另一端转动连接有底座；所述反射面朝待测光线射入方向设置，所述反射面与所述下盖板的外表面呈可调整的锐角；所述支架可向靠近或者远离所述下盖板方向调整，所述底座沿待测光线射入方向设置，所述反射装置的数量至少为两个。最好，待测光线从一个方向投射到所述反射面，所述对应的棱柱与所述反射面在该下盖板的内表面上的正投影至少部分重合使得待测光线通过所述反射面进入到所述棱柱中，然后进入到对应的棱柱中,然后进入到上盖板，最后从上盖板出来用于测量。最好，所述上盖板的内表面与下盖板的内表面平行于待测光线方向。最好，所述上盖板的外表面和该下盖板的外表面倾斜于入射光线。最好，所述棱柱具有不同的高度，间隔设置。最好，所述棱柱的上表面沿所述反射面之延展面与所述底座固接所述支架之平面的连接线方向倾斜。最好，所述腔体内充有惰性气体。本技术达到了如下效果：解决了决激光方向的高精密控制和反复拆卸维护调试等问题，本技术光学腔可应用于高精度测量脉冲激光或连续激光波长的光谱及分析。该技术的光学腔测量激光波长的精度可以达到1×10-7，具有使用方便的优点。当然，实施本技术的任一产品必不一定需要同时达到以上所述的所有技术效果。附图说明此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：图1、图2、图3、图4、图5、图6是本技术实施例所述的一种用于测量波长的光学装置的整体结构图。具体实施方式如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接收的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题，基本达到所述技术效果。实施例一：如图1、图2、图5、图6为本技术的实施例提供了一种用于测量波长的光学装置结构示意图，包括设有外周壁2、上盖板4和下盖板5的腔体，在该腔体下盖板上设置四个反射装置1，分别为反射装置11、反射装置12、反射装置13、反射装置14；反射装置11、反射装置12、反射装置13和反射装置14的高度通过各反射装置1的支架，使得各反射装置1靠近下盖板5方向沿光线射入方向依次递增，在所述腔体内部并且在该下盖板内表面52上设置的与该反射装置对应的棱柱，分别为棱柱31、棱柱32、棱柱33、棱柱34，调整各反射面与下盖板5外表面的夹角，使得待测光线经由反射装置1、下盖板5、棱柱3和所述上盖板4后形成仅具有不同光程的光线以用于测量。所述反射装置1的反射面为待测光线L从左至右的投射面，经由反射面的反射改变光线的方向，光线从下盖板5进入对应的棱柱3与所述反射镜1在该下盖板的内表面上的正投影至少部分重合使得待测光线通过所述反射镜1进入到所述棱柱3中，然后进入到所述下盖板5中，然后进入到对应的棱柱3中,然后进入到上盖板4，最后从上盖板4出来用于测量。该上盖板的内表面42与下盖板的内表面52平行于待测光线方向。该上盖板的外表面41和该下盖板的外表面51倾斜于入射光线。该棱柱3具有不同的高度，间隔设置。该棱柱的上表面沿所述反射面之延展面与所述底座固接所述支架之平面的连接线方向倾斜并成一楔角a,其楔角a与水平面的夹角大小为是10″±9″。所述腔体的腔侧壁上设计有一小孔，需要给密封腔体内冲入惰性气体如氩气后塞住，行程密封腔，达到系统稳定，并提内部高键合面的牢固性。实施例二：如图3、图4、图5为本技术的实施例提供了一种用于测量波长的光学装置的结构示意图，包括设有外周壁2、上盖板4和下盖板5的腔体，在该腔体下盖板上设置六个反射装置1，分别为反射装置11、反射装置12、反射装置13、反射装置14、反射装置15和反射装置16；反射装置11、反射装置12、反射装置13、反射装置14、反射装置15和反射装置16的高度通过各反射装置1的支架，使得各反射装置1靠近下盖板5方向沿光线射入方向依次递增，在所述腔体内部并且在该下盖板内表面52上设置的与该反射装置对应的棱柱，分别为棱柱31、棱柱32、棱柱33、棱柱34、棱柱36、棱柱36，调整各反射面与下盖板5外表面的夹角，使得待测光线经由反射装置1、下盖板5、棱柱3和所述上盖板4后形成仅具有不同光程的光线以用于测量。所述反射装置1的反射面为待测光线L从左至右的投射面，经由反射面的反射改变光线的方向，光线从下盖板5进入对应的棱柱3与所述反射镜1在该下盖板的内表面上的正投影至少部分重合使得待测光线通过所述反射镜1进入到所述棱柱3中，然后进入到所述下盖板5中，然后进入到对应的棱柱3中,然后进入到上盖板4，最后从上盖板4出来用于测量。该上盖板的内表面42与下盖板的内表面52平行于待测光线方向。该上盖板的外表面41和该下盖板的外表面51倾斜于入射光线。该棱柱3具有不同的高度，间隔设置。该棱柱的上表面沿所述反射面之延展面与所述底座固接所述支架之平面的连接线方向倾斜并成一楔角a,其楔角a与水平面的夹角大小为是10″±9″。所述腔体的腔侧壁上设计有一小孔，需要给密封腔体内冲入惰性气体如氩气后塞住，行程密封腔，达到系统稳定，并提内部高键合面的牢固性。还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。以上所述仅为本技术的实施例而已，并不用于限制本技术。对于本领域技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量波长的光学装置，包括设有外周壁、上盖板和下盖板的腔体和在远离所述下盖板的外表面设置的反射装置，在所述腔体内部并且在该下盖板内表面上设置有与所述反射装置对应的棱柱，其特征在于：所述反射装置包括支架，所述支架靠近所述下盖板的一端固接有具有反射面的反射镜，其远离所述下盖板的另一端转动连接有底座；所述反射面朝待测光线射入方向设置，所述反射面与所述下盖板的外表面呈可调整的锐角；所述支架可向靠近或者远离所述下盖板方向调整，所述底座沿待测光线射入方向设置，所述反射装置的数量至少为两个。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量波长的光学装置，包括设有外周壁、上盖板和下盖板的腔体和在远离所述下盖板的外表面设置的反射装置，在所述腔体内部并且在该下盖板内表面上设置有与所述反射装置对应的棱柱，其特征在于：所述反射装置包括支架，所述支架靠近所述下盖板的一端固接有具有反射面的反射镜，其远离所述下盖板的另一端转动连接有底座；所述反射面朝待测光线射入方向设置，所述反射面与所述下盖板的外表面呈可调整的锐角；所述支架可向靠近或者远离所述下盖板方向调整，所述底座沿待测光线射入方向设置，所述反射装置的数量至少为两个。2.根据权利要求1所述的用于测量波长的光学装置，其特征在于：待测光线从一个方向投射到所述反射面，所述对应的棱柱与所述反射面在该下盖板的内表面上的正投影至少部分重合使...

【专利技术属性】
技术研发人员：周长颖，
申请(专利权)人：北京嘉贺恒德科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：北京,11