【技术实现步骤摘要】
双缝干涉测量光波长的教学演示装置
本技术涉及一种光学教学用具，具体是指双缝干涉测量光波长的教学演示装置。
技术介绍
当单色光经过双缝后，在屏上产生了明暗相间的干涉条纹。当屏上某处与两个狭缝的光程差是波长的整数倍时，则两列波的波峰与波峰叠加，波谷与波谷叠加，形成亮条纹。当屏上某处与两个狭缝的光程差是半个波长的奇数倍时，在这些地方波峰跟波谷相互叠加，出现暗条纹。目前，在现有的中学物理教学中，都有开设双缝干涉测量光波长的教学实验，其采用的装置如附图1所示双缝干涉实验仪，其通过光源发出的光经过双缝在目镜(观察筒)中成像，然后对测量头读取亮(暗)纹间的距离Λχ，并通过实验仪器固有告知的d、L，然后根据公式λ = 计算出被测光的波长。式中d表示双缝间的距离、L表示双缝到屏的距离，入表不单色光的波长。这种传统的双缝干涉实验仪的缺点在于:一、对亮(暗)纹间的距离Λ X的测量和读取需要依靠实验操作者眼睛贴近测量头的目镜，才能进行观察测量，通常由于条纹亮度不够，持久的观察测量令实验操作者眼睛相当疲倦。二、由于实验操作较复杂，要在测量头的目镜上调试出清晰的明暗相间的条纹对实验操...
【技术保护点】
一种双缝干涉测量光波长的教学演示装置，包括有支架、光源、和双缝演示板，其特征在于：所述的支架上设置有两根水平且相互平行的滑杆，还包括成像屏，所述的光源、双缝演示板和成像屏依次滑动设置于滑杆上，该成像屏包括有框板，该框板上设置有与光源的入射光相垂直的水平刻度尺，该框板间邻于水平刻度尺的上方设置有与入射光相垂直的读数尺。
【技术特征摘要】
1.一种双缝干涉测量光波长的教学演示装置，包括有支架、光源、和双缝演示板，其特征在于:所述的支架上设置有两根水平且相互平行的滑杆，还包括成像屏，所述的光源、双缝演示板和成像屏依次滑动设置于滑杆上，该成像屏包括有框板，该框板上设置有与光源的入射光相垂直的水平刻度尺，该框板间邻于水平刻度尺的上方设置有与入射光相垂直的读数尺。2.根据权利要求1所述的一种双缝干涉测量光波长的教学演示装置，其特征在于:所述的框板的两侧竖立设置有两根立板，该两根立板相对对应设置有与读数尺滑移配合的滑移孔。3.根据权利要求2所述的一种双缝干涉测量光波长的教学演示装置，其特征在于:还包括有成像屏固定座，该成像屏固定座包括有滑移设置于滑杆的成像屏底座和竖立固定于成像屏底座上的成像屏支杆，所述的框板固定于成像屏支杆上端。4.根据权利要求1所述的一种双缝...
【专利技术属性】
技术研发人员：王建胡，王健浩，
申请(专利权)人：温州市龙湾区永强中学，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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