一种显示面板检测方法及装置制造方法及图纸

技术编号:16175166 阅读:45 留言:0更新日期:2017-09-09 02:21
本发明专利技术公开了一种显示面板检测方法及装置,其中方法包括:获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像,其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像;以及获取所述像素电极图像对应的灰阶范围;调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系;根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。该检测方法利用灰阶识别出不同类型的像素电极,同时该方法适合反射光或透射光,降低了检测设备设计时对光源的要求。此外,该方法是通过软件实现,无需增加硬件成本。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板检测方法及装置
本专利技术涉及显示
,尤其涉及一种显示面板检测方法及装置。
技术介绍
目前,液晶显示面板广泛地应用于手机、平板电脑、计算机显示器等电子设备中。然而现有液晶显示面板的制造技术中,完全避免显示缺陷是十分困难的,因此有必要对显示面板进行显示缺陷检测。利用透射光源照射显示面板是常见的检测方法,然而在显示面板的测试设备中,有许多设备因为结构设计导致限制无法使用透射光源,检测时只能使用反射光,检测人员无法在检测画面中直观的辨别不同类型的像素电极,比如RGB像素电极,尤其是RGB像素电极的图案形状相似的情况,检测人员更无法区别不同类型的像素电极,造成检测判断的干扰。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供了一种显示面板检测方法及装置,旨在解决现有的显示面板检测方法无法区分不同类型的像素电极。一方面,提供了一种显示面板检测方法,该方法包括:获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像,其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像;获取所述像素电极图像对应的灰阶范围;调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系;根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素本文档来自技高网...
一种显示面板检测方法及装置

【技术保护点】
一种显示面板检测方法,其特征在于,包括:获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像,其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像;获取所述像素电极图像对应的灰阶范围;调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系;根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别;判断相同类型的像素电极对应的像素电极图像是否存在灰阶差异;若相同类型的像素电极对应的像素电极图像存在灰阶差异,判断所述灰阶差异是否大于预设阈值;若所述灰阶差异大于所述预设阈值,则判定存在所述灰阶差异的像素电极图像对应的像素电极为异常像素电极。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板检测方法,其特征在于,包括:获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像,其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像;获取所述像素电极图像对应的灰阶范围;调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系;根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别;判断相同类型的像素电极对应的像素电极图像是否存在灰阶差异;若相同类型的像素电极对应的像素电极图像存在灰阶差异,判断所述灰阶差异是否大于预设阈值;若所述灰阶差异大于所述预设阈值,则判定存在所述灰阶差异的像素电极图像对应的像素电极为异常像素电极。2.一种显示面板检测方法,其特征在于,包括:获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像,其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像;获取所述像素电极图像对应的灰阶范围;调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系;根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。3.根据权利要求2所述的显示面板检测方法,其特征在于,所述获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像,包括:获取显示面板被预设光源照射时反射在预定区域的对应的灰阶图像。4.根据权利要求3所述的显示面板检测方法,其特征在于,所述预设光源包括白光源、红光源、绿光源或蓝光源;所述调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系,包括:调用所述白光源、红光源、绿光源或蓝光源的预设灰阶范围与像素电极类别的对应关系。5.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员:李进
申请(专利权)人:惠科股份有限公司重庆惠科金渝光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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