SIM卡托架检测工具制造技术

本实用新型专利技术属于产品质量检测技术领域，涉及一种SIM卡托架检测工具，包括条状的本体以及收纳于本体内的磁条，磁条沿本体的长度方向延伸，本体的上表面边缘还设有刻度线。本检测工具可以一次性拾取多个产品并能很方便地完成检测，大大提高了人工检测的效率。

【技术实现步骤摘要】
SIM卡托架检测工具
本技术涉及产品质量检测
，特别涉及一种检测效率高的SIM卡托架检测工具。
技术介绍
SIM卡是手机中用来识别用户身份的电子芯片，被中国移动、中国联通、中国电信等移动通讯运营商广泛应用。随着手机产品的日益轻薄化，手机零部件也越来越紧凑，因此在iphone、ipad、MIUI等一些品牌的机型上采用了SIM卡托架作为安装SIM卡的载体。SIM卡托架从成型到加工完成需要检测员目测外观，以往是将产品从载具的收纳腔中一个一个挑起来检测的，而且每次只能检测一片，取放产品会耗费大量时间，极其影响检测效率。因此，有必要提供一种检测工具来解决上述问题。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种检测效率高的SIM卡托架检测工具。本技术通过如下技术方案实现上述目的：一种SIM卡托架检测工具，包括条状的本体以及收纳于本体内的磁条，磁条沿本体的长度方向延伸，本体的上表面边缘还设有刻度线。具体的，所述本体的前部设有坡面，刻度线印于坡面上。具体的，所述本体采用塑料制成。进一步的，所述磁条具有两个滑足，本体具有供滑足滑入的滑槽。进一步的，所述磁条的下表面高于本体的下表面0.1-0.2mm。与现有技术相比，本技术SIM卡托架检测工具的有益效果在于：1、本检测工具可以一次性拾取多个产品并能很方便地完成检测，大大提高了人工检测的效率。2、坡面使刻度线的底部更能接近面部边缘，提高判断准确性。3、磁条与本体可拆卸，当本体报销的时候，磁条能否反复使用。4、磁条的下表面高于本体的下表面0.1-0.2mm能确保产品环部以硬质的本体底面为基面，又能避免产品因吸不住而掉落。附图说明图1为实施例SIM卡托架检测工具从载具上吸附产品时的剖视示意图；图2为实施例SIM卡托架检测工具从载具上释放产品时的剖视示意图；图3为实施例SIM卡托架检测工具使用状态时的局部俯视图；图4为磁条的剖视图。图中数字表示：1-检测工具，11-本体，111-刻度线，112-坡面，12-磁条，121-滑足；2-产品(SIM卡托架)，21-面部，22-环部；3-载具。具体实施方式下面结合具体实施例对本技术作进一步详细说明。如图1至图3所示，本技术的一种SIM卡托架检测工具1，包括条状的本体11以及收纳于本体11内的磁条12，磁条12沿本体11长度方向延伸，本体11上表面边缘还设有刻度线111。产品2是由导磁材料制成，所以会受到磁条12的吸引；而检测工具1是呈条状的，所以其可以从载具3上将整排SIM卡托架2以相同姿势吸起。具体使用方法为：检测工具1从安放有产品2的载具3上方往下运动，磁条12面向产品2的环部22，这样成列产品2都会受到吸引而贴合到检测工具1上；检测工具1继而依靠产品2的面部21来找准基面，此时工人就能将检测工具1提起，然后转动到面部21靠近视线的位置，继而通过对照刻度线111判断每个产品2长度参数是否合规，不合规则直接从检测工具1上弹掉不良品；检测完成后，检测工具1回到拾起产品2的姿态，但是沿平行于载具3上表面的方向移出，这样产品2就又被留在载具3上的定位穴。本检测工具可以一次性拾取多个产品2并能很方便地完成检测，大大提高了人工检测的效率。如图1至图3所示，本体11的前部设有坡面112，刻度线111印于坡面112上。本体1的后部要安装磁条12，所以后部厚度很难自由缩小，但是如果刻度线111离产品2的面部21太远会影响目力判断准确率。坡面112使刻度线111的底部更能接近面部21边缘，提高判断准确性。如图4所示，磁条12具有两个滑足121，本体11具有供滑足12滑入的滑槽(未标注)。这样磁条12与本体11可拆卸，因为本体11一般采用塑料制成，虽然成型容易，但也易摔坏，当本体11报销的时候，磁条12能否反复使用。如图1和图2所示，磁条12的下表面高于本体11的下表面0.1-0.2mm。磁条12一般为软磁体，容易变形，而本体11为硬质塑料，底面形状容易取平。当产品2被吸起时，环部22都能以本体11的底面为基面，检测姿态统一；而磁条12由不能离环部22太远导致转动时产品2吸不住而掉落。以上所述的仅是本技术的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种SIM卡托架检测工具，其特征在于：包括条状的本体以及收纳于本体内的磁条，磁条沿本体的长度方向延伸，本体的上表面边缘还设有刻度线。

【技术特征摘要】
1.一种SIM卡托架检测工具，其特征在于：包括条状的本体以及收纳于本体内的磁条，磁条沿本体的长度方向延伸，本体的上表面边缘还设有刻度线。2.根据权利要求1所述的SIM卡托架检测工具，其特征在于：所述本体的前部设有坡面，刻度线印于坡面上。3.根据权利要求1所述的SIM卡托...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊成会，
申请(专利权)人：昆山成仕达精密五金有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32