【技术实现步骤摘要】
一种InPPIN光电探测器光电集成器件
本技术涉及一种系统器件级集成器件,包括InPPIN光电探测器、InGaPHBT放大器、GaAsPN限幅器和GaAspHEMT低噪放集成,属于半导体制造领域。
技术介绍
进入二十一世纪以来,社会迈入了超高速发展的信息时代,全球数据业务呈现爆炸式增长,对网络带宽的需求飞速增长,这为传统电信业务的迅速发展提供了新的挑战和机遇。进入2015年,中央提出“提网速,降网费”的要求。因此,大力发展光纤通信系统成为当前发展的重点。本专利主要针对光接收机,提出了一种器件级光电集成系统。目前,主流的光电接收机的接收端架构为:PIN光电探测器+TIA+限幅器+低噪放,四种独立的芯片构成一个完整的接收端,但存在以下问题:1.组装时需调试,不利于大生产且人为因素的介入引入不确定因素,不利于提升整个组件的质量;2.四款独立的芯片无法集成,对系统的进一步小型化不利;3.四款独立的芯片,不利于成本的进一步降低。因此,本专利涉及将InPPIN光电探测器、InGaPHBT跨阻放大器(TIA)、GaAsPN限幅器与GaAspHEMT低噪放集成。首先InPPIN光 ...
【技术保护点】
一种InP PIN光电探测器光电集成器件,其特征在于,包括;InP PIN光电探测器、GaAs异质结双极型晶体管、GaAs高电子迁移率晶体管和GaAs PN二极管限幅器;所述InP PIN光电探测器、GaAs异质结双极型晶体管、GaAs高电子迁移率晶体管和GaAs PN二极管限幅器之间有离子注入形成的隔离器件。
【技术特征摘要】
1.一种InPPIN光电探测器光电集成器件,其特征在于,包括;InPPIN光电探测器、GaAs异质结双极型晶体管、GaAs高电子迁移率晶体管和GaAsPN二极管限幅器;所述InPPIN光电探测器、GaAs异质结双极型晶体管、GaAs高电子迁移率晶体管和GaAsPN二极管限幅器之间有离子注入形成的隔离器件。2.根据权利要求1所述的InPPIN光电探测器光电集成器件,其特征在于:所述集成器件从下至上包括衬底、缓冲层、spacer1隔离层、沟道层、spacer2隔离层、势垒层以及势垒层和spacer2隔离层之间的δ掺杂层作为器件的公共底层。3.根据权利要求1所述的InPPIN光电探测器光电集成器件,其特征在于:所述GaAs高电子迁移率晶体管器件为单势垒层结构,位于公共底层一侧,其上N+GaAs层中间设置沟槽,沟槽内设置T型栅;N+-GaAs层上设置P型和N型电极。4.根据权利要求1所述的InPPIN光电探测器光电集成器件,其特征在于:所述G...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈一峰,
申请(专利权)人:成都海威华芯科技有限公司,
类型:新型
国别省市:四川,51
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