【技术实现步骤摘要】
微痕量荧光探测仪有效值补偿方法及系统
本专利技术涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法及系统。
技术介绍
微痕量荧光探测仪相比传统的爆炸物检测仪器,有灵敏度高、响应速度快的特点,在地铁、机场等重要安检场所有广泛的应用前景。此类仪器的核心是在玻璃基板上涂覆有机薄膜材料,这种材料对爆炸物分子有荧光淬灭的属性。当有爆炸物分子接触薄膜材料时,会使荧光量变小,仪器通过检测荧光强度的变化来判定是否有爆炸物分子存在。不可避免的是,同大多数有机荧光材料一样,这类有机薄膜材料由于光漂白、膜片污染等因素,随着使用膜片的荧光强度会慢慢变弱,膜片都有一定的寿命限制。在整个使用的时间范围内,荧光淬灭的变化量也会随着膜片整体荧光强度的变弱而变小,如果以固定的阈值来判断是否检测的爆炸物时,就会出现这样的情况:新膜片可以检测到的一些物质而使用旧膜片检测不到,仪器的检测灵敏度严重依赖膜片的状态。因为新膜片对一定浓度物质产生的荧光变化超过报警阈值,而在使用的后期,随着膜片的消耗,相同量的物质产生的荧光变化量又低于报警阈值,无法报警。对于大多数的爆炸物检测仪器都会有误报率和灵敏度两个参数,而这两个关键 ...
【技术保护点】
一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:a.采集获得膜片荧光值的原始数据;b.对上述原始数据进行平滑滤波;c.根据上述平滑滤波后的数据,计算得到检测峰值;d.对上述检测峰值进行修正,以对荧光材料检测有效值进行补偿。
【技术特征摘要】
1.一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:a.采集获得膜片荧光值的原始数据;b.对上述原始数据进行平滑滤波;c.根据上述平滑滤波后的数据,计算得到检测峰值;d.对上述检测峰值进行修正,以对荧光材料检测有效值进行补偿。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的步骤a具体包括:利用模数转换器采集获得膜片荧光值的原始数据A(A1,A2,A3,,,,,,,An-1,An,An+1)。3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述的步骤b具体包括:Wn=(An-j,+An-j+1,+An,+An+j-1,+An+j)/(2j-1),得到数据(W1,W2,W3,,,,,,,Wn-1,Wn,Wn+1),其中j为常量。4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述的步骤c具体包括:利用微分方法求取检测峰值Hi=Wi-n-Wi,得到数据(H1,H2,H3,,,,,,,Hn-1,Hn,Hn+1)。5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述的步骤d具体包括:采用公式:Jn=(Q/Wn)b*Hn对上述检测峰值进行修正,其中,Q和b为常量。6.一种微痕量荧光探测仪有效值补偿系统,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘秦豫,吴哲,张天琪,王先松,
申请(专利权)人:深圳中物安防科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。