本发明专利技术提供了一种用于痕量探测仪的进样装置，该包括：设置在进样装置中的用于使样品从进样件脱附的进样室；以及用于在进样时使进样室与痕量探测仪的迁移管流体连通的阀门组件。本发明专利技术通过采用上述结构，例如，可以通过提高样品的透过率，增加检测装置的灵敏度。同时实现了迁移管内部环境与外界环境隔离，避免迁移区被污染，能够保持仪器的灵敏度、物质峰峰位、分辨率等重要参数不变，从而实现仪器的稳定、一致性。
【技术实现步骤摘要】
用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪本申请为申请号为201010619932.6、申请日为2010年12月31日、专利技术名称为“用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪”的专利申请的分案申请。
本专利技术涉及一种用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪。
技术介绍
在目前的安检市场上，主要采用离子迁移技术检测危险品(如爆炸物、毒品)。在采用这种技术的仪器中，都带有一个进样装置，此装置能够对进入的固体颗粒或气体进行气化解析，之后气化的样品分子在气流的导引下进入离化区，被离化的样品分子进入迁移区，根据飞行时间的不同实现分子的鉴别。目前市场上大部分的仪器都使用半透膜，半透膜能够将迁移管内部与外界环境隔离，阻止灰尘、杂质分子进入到迁移管内部，达到使迁移管内部“干净”的目的，只有具有一定特性的分子(一般指大分子)能够透过半透膜进入到迁移管内部。半透膜具有一定的透过率，一般的透过率只有10%左右，因此大部分的样品分子都损失在半透膜外面，进入到迁移管内部的样品分子很少，这导致仪器的灵敏度大幅降低，同时半透膜一般在高温下才能工作，这需要系统为它提供额外的工作环境并提供额外的热量，增加了系统的工作功率，如果仪器是便携式的，那么将会减少电池的使用时间。而对于没有使用半透明的探测器，由于迁移区直接与大气环境相联，因此内部环境很容易受到污染，导致本底峰相对复杂。且随外界环境的变化，物质峰的变化也很大，峰位很不稳定，严重制约测量的稳定性。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种用于诸如迁移率谱仪(IMS)的痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的诸如迁移率谱仪(MS)的痕量探测仪。通过该进样装置，增加诸如迁移率谱仪(MS)的痕量探测仪的灵敏度。根据本专利技术的一方面，本专利技术提供了一种用于痕量探测仪的进样装置，该进样装置包括:设置在进样装置中的用于使样品从进样件脱附的进样室；以及用于在进样时使进样室与痕量探测仪的迁移管流体连通的阀门组件。根据本专利技术的一方面，所述阀门组件包括封闭部件；以及设置在进样室的内壁上的突缘部分，通过该封闭部件与所述突缘部分的接触和分离，使进样室与痕量探测仪的迁移管流体连通和隔离。根据本专利技术的一方面，所述突缘部分将所述进样室分成第一进样室和第二进样室，第一进样室用于与痕量探测仪流体连通，第二进样室用于使进样件脱附样品，通过该封闭部件与所述突缘部分的接触或分离，使第一进样室和第二进样室流体连通或隔离。根据本专利技术的一方面，所述进样装置还包括进样口，所述进样口与所述第二进样室相通。根据本专利技术的一方面，在通过封闭部件与所述突缘部分分离使第一进样室和第二进样室流体连通的同时，第二进样室与所述进样口隔离，由此使第一进样室和第二进样室与外部隔离。根据本专利技术的一方面，所述封闭部件包括柱状部分；与柱状部分连接的头部，该头部具有环形凹槽；以及设置在该环形凹槽中的密封圈，该密封圈用于接触所述突缘部分，以使第一进样室和第二进样室隔离。[0011 ] 根据本专利技术的一方面，所述进样装置还包括:驱动件，该驱动件用于移动所述封闭部件，使第一进样室和第二进样室流体连通或隔离。根据本专利技术的一方面，所述驱动件包括:移动架，该移动架具有相对的大体平行的外壁，以及设置在相对的大体平行的外壁上的滑柱，其中移动架与所述封闭部件的柱状部分连接；驱动架，该驱动架具有凹槽，滑柱可滑动地设置在凹槽中，由此在驱动架移动时，通过滑柱与凹槽的配合，驱动移动架移动，由此移动所述封闭部件。根据本专利技术的一方面，本专利技术提供了一种痕量探测仪，该痕量探测仪包括:上述的进样装置；迁移管，用于使来自进样装置的样品进行离化带电并迁移；以及收集离化带电的样品的法拉第盘。本专利技术通过采用上述结构，例如，可以通过提高样品的透过率，增加检测装置的灵敏度。同时实现了迁移管内部环境与外界环境隔离，避免迁移区被污染，能够保持仪器的灵敏度、物质峰峰位、分辨率等重要参数不变，从而实现仪器的稳定、一致性。根据本专利技术的一方面，进样装置包含一个联动装置、单独的一个进样室(密封气室)、样品分子解析装置、进样口。密封进样室与迁移管内部气路直接连通，此进样装置可以控制密封进样室是否与外界大气连通，检测仪器不工作时(不进样时)，联动装置使得密封进样室与外界隔离，此时迁移管内部气路处于密封状态且与外界环境隔离。在一个外部信号(进样触发)的驱动下联动装置启动，启动后“密封进样室”与外界大气连通，从而能够将外界的样品分子直接带入到迁移管内部，样品分子进入到迁移管内部后，首先被离化，带电的样品分子经过迁移区后被法拉第盘收集，通过飞行时间对样品进行鉴别。由于进样装置没有使用半透膜或具有特定透过率的装置，(被解析的或气体样品)样品分子能够毫无阻碍地进入到迁移管内部，大大提高了进样效率，从而从根本上提高了灵敏度。同时“密封进样室”能够使迁移管内部长期处于密封状态(非进样状态)，阻止杂质物质进入到迁移管内，迁移管能够保持在“干净”的状态，从而保障了迁移管对物质的分辨能力及在不同的环境中仍能保持一致。【附图说明】图1是根据本专利技术实施例的进样装置的示意立体图。图2是图1中所示的进样装置的剖开状态的示意立体图。图3是图1中所示的进样装置的密闭进样室组件的示意立体图。图4是图3中所示的密闭进样室组件的剖开状态的示意立体图。图5是图1中所示的进样装置的未进样时的剖开状态的示意立体图。图6是图1中所示的进样装置的封闭部件的示意立体图。图7是图1中所示的进样装置的台体的示意立体图。图8是图1中所示的进样装置的封闭部件支架的示意立体图。图9是图1中所示的进样装置的移动架的示意立体图。图10是封闭部件、封闭部件支架和移动架的组装状态下的示意立体图。图11是图1中所示的进样装置的驱动架的示意立体图。【具体实施方式】下面结合附图及【具体实施方式】对本专利技术做进一步说明。参照图1-11，根据本专利技术的诸如迁移率谱仪的痕量探测仪包括:进样装置100 ;迁移管，用于使来自进样装置100的样品进行离化带电并迁移；以及收集离化带电的样品的法拉第盘。如图1-11所示，进样装置100包括:设置在进样装置100中的用于使样品从进样件脱附的进样室10 ;以及用于在进样时使进样室10与痕量探测仪的迁移管流体连通的阀门组件20。如图3-4所示，进样室10由进样室组件12构成，进样口 14形成在进样室组件12中，此外，与迁移管相通的气路16形成在进样室组件12中并与进样室10连通。如图1-11所示，进样装置100还包括:驱动架30、加热组件40、台体50。如图1、2所示，迁移管的内部气路与进样口通过密封进样室10相连。所述阀门组件20包括封闭部件22 ;以及设置在进样室10的内壁上的突缘部分24，通过该封闭部件22与所述突缘部分24的接触和分离，使进样室10与痕量探测仪的迁移管流体连通和隔离。突缘部分24将进样室10分为第一进样室101和第二进样室102，第一进样室101用于与痕量探测仪流体连通，即与气路16连通。第二进样室102用于使进样件脱附样品，通过该封闭部件22与所述突缘部分24的接触或分离，使第一进样室101和第二进样室102流体连通或隔离。进样口 14与所述第二进样室102相通。如图6所示，封闭部件22包括柱状部分本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于痕量探测仪的进样装置，包括：进样室组件，该进样室组件包括支架和与支架相连接的顶盖；设置在进样室组件中的用于使样品从进样件脱附的进样室；以及阀门组件，所述阀门组件包括封闭部件；以及设置在进样室的内壁上的突缘部分，所述突缘部分将所述进样室分成第一进样室和第二进样室，第一进样室用于与痕量探测仪流体连通，第二进样室用于使进样件脱附样品，通过该封闭部件与所述突缘部分的接触或分离，使第一进样室和第二进样室流体隔离或连通，所述进样装置还包括：驱动件，该驱动件用于移动所述封闭部件，使第一进样室和第二进样室流体连通或隔离，所述驱动件包括：移动架，其中移动架与所述封闭部件连接，其中移动架抬升，使该封闭部件与所述突缘部分分离而使第一进样室和第二进样室流体连通，同时移动架的顶部表面与支架的底部表面接触，使第一进样室和第二进样室与外部隔离。
【技术特征摘要】
1.一种用于痕量探测仪的进样装置，包括: 进样室组件，该进样室组件包括支架和与支架相连接的顶盖； 设置在进样室组件中的用于使样品从进样件脱附的进样室；以及 阀门组件， 所述阀门组件包括封闭部件；以及设置在进样室的内壁上的突缘部分， 所述突缘部分将所述进样室分成第一进样室和第二进样室，第一进样室用于与痕量探测仪流体连通，第二进样室用于使进样件脱附样品，通过该封闭部件与所述突缘部分的接触或分离，使第一进样室和第二进样室流体隔离或连通， 所述进样装置还包括: 驱动件，该驱动件用于移动所述封闭部件，使第一进样室和第二进样室流体连通或隔离， 所述驱动件包括: 移动架，其中移动架与所述封闭部件连接， 其中移动架抬升，使该封闭部件与所述突缘部分分离而使第一进样室和第二进样室流体连通，同时移动架的顶部表面与支架的底部表面接触，使第一进样室和第二进样室与外部隔离。2.根据权利要求1所述的用于痕量探测仪的进样装置，还包括进样口，所述进样口与所述第二进样室相通。3.根据权利要求2所述的用于痕量探测仪的进样装置，其中 带有样品的进样试纸从进样口插入到进样装置中，并且进样试纸放置在移动架的顶部表面上。4.根据权利要求3所述的用于痕量探测仪的...
【专利技术属性】
技术研发人员：李元景，陈志强，张清军，毛绍基，赵自然，刘以农，曹士娉，郑严，常建平，邹湘，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，清华大学，
类型：发明
国别省市：
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