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本发明涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法，包括：a.采集获得膜片荧光值的原始数据；b.对上述原始数据进行平滑滤波；c.根据上述平滑滤波后的数据，计算得到检测峰值；d.对上述检测峰值进行修正，以对荧光材料检测有效值进行补偿。本发明还涉及一...
该专利属于深圳中物安防科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳中物安防科技有限公司授权不得商用。

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