基于图像识别的物体位移测量方法、装置及系统制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
基于图像识别的物体位移测量方法、装置及系统
本专利技术涉及测量
，尤其涉及一种基于图像识别的物体位移测量方法、测量装置及测量系统。
技术介绍
随着技术的发展，当物体发生微小位移的时候，需要对物体的相对位置进行测量，但是现有的一种相对位置测量装置，在测量的过程中存在测量误差较大，无法满足精度要求；而现有的另一种相对位置测量装置在测量的过程中接触物体，才能对物体的微小位移进行测量，但是接触测量容易对物体的表面会造成划痕或划伤，也无法满足测量的要求。
技术实现思路
本专利技术旨在解决现有技术中对物体的相对位置难以进行测量的技术问题，提供一种满足测量精度要求且不会对物体的表面造成损伤的基于图像识别的物体位移测量方法、测量装置及测量系统。本专利技术提供一种基于图像识别的物体位移测量方法，所述测量方法包括以下步骤：基于预设的靶标图像，获取物体在第一位置的第一检测图像数据和物体在第二位置的第二检测图像数据；对第一检测图像数据和第二检测图像数据进行边缘检测处理，得到第一检测图像对应的第一边缘图数据和第二检测图像对应的第二边缘图数据；根据第一检测图像对应的第一边缘图数据、第二检测...
【技术保护点】
一种基于图像识别的物体位移测量方法，其特征在于：所述测量方法包括以下步骤：基于预设的靶标图像，获取物体在第一位置的第一检测图像数据和物体在第二位置的第二检测图像数据；对第一检测图像数据和第二检测图像数据进行边缘检测处理，得到第一检测图像对应的第一边缘图数据和第二检测图像对应的第二边缘图数据；根据第一检测图像对应的第一边缘图数据、第二检测图像对应的第二边缘图数据和亚像素质心法定位，得到第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合；根据第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合点，得到第一检测图像和第二检测图像的最佳投影关系矩阵；根据预设的焦距和预...
【技术特征摘要】
1.一种基于图像识别的物体位移测量方法，其特征在于：所述测量方法包括以下步骤：基于预设的靶标图像，获取物体在第一位置的第一检测图像数据和物体在第二位置的第二检测图像数据；对第一检测图像数据和第二检测图像数据进行边缘检测处理，得到第一检测图像对应的第一边缘图数据和第二检测图像对应的第二边缘图数据；根据第一检测图像对应的第一边缘图数据、第二检测图像对应的第二边缘图数据和亚像素质心法定位，得到第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合；根据第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合点，得到第一检测图像和第二检测图像的最佳投影关系矩阵；根据预设的焦距和预设的物距以及第一检测图像和第二检测图像的最佳投影关系矩阵，得到物体在第一位置和物体在第二位置的相对距离。2.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于：所述边缘检测处理具体包括Canny边缘检测。3.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于：所述第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合中每个特征点的行坐标为：所述第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合中每个特征点的列坐标为：其中，T设定的阈值，g(ui,vj)为图像g的第ui行、第vj列的像素灰度值，i表示图像的行，取值范围为i1到i2，j表示图像的列，取值范围为j1到j2，图像g为待检测图像。4.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于：所述根据第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合点，得到第一检测图像和第二检测图像的最佳投影关系矩阵步骤，具体包括：所述第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合中每个特征点的行坐标和列坐标，并利用相位相关的方法得到初始化投影关系矩阵；根据初始化投影关系矩阵，采用亚像素扩展相关的配准算法，对初始化投影关系矩阵进行求解以得到第一检测图像和第二检测图像的最佳投影关系矩阵。5.如权利要求4所述的测量方法，其特征在于：所述初始化投影关系矩阵P的公式如下：
【专利技术属性】
技术研发人员：陈长征，聂婷，何斌，薛金来，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：吉林,22
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