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本发明涉及一种基于图像识别的物体位移测量方法，所述测量方法包括以下步骤：基于预设的靶标图像，获取物体在第一位置的第一检测图像数据和物体在第二位置的第二检测图像数据；对第一检测图像数据和第二检测图像数据进行边缘检测处理，得到第一检测图像对应的...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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