基于概率信息检测半导体存储器的被最频繁存取的地址的方法技术

技术编号:16049340 阅读:46 留言:0更新日期:2017-08-20 09:10
提供了一种管理半导体存储器的方法,所述方法包括如下步骤:根据采样时间段,从对于存储器单元阵列的存取流对行地址进行采样;基于概率信息,确定采样的行地址是否是与被最频繁存取的目标行对应的地址;对与目标行相邻的行执行刷新操作。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】PCT国内申请,说明书已公开。

【技术保护点】
PCT国内申请,权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】PCT国内申请,...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵相衍
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:韩国,KR

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