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提供了一种管理半导体存储器的方法，所述方法包括如下步骤：根据采样时间段，从对于存储器单元阵列的存取流对行地址进行采样；基于概率信息，确定采样的行地址是否是与被最频繁存取的目标行对应的地址；对与目标行相邻的行执行刷新操作。...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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