去偏振器及其制备方法技术

一种去偏光器，包括：沉积在衬底上的光控取向层；以及沉积在所述光控取向层上的双折射层；其中所述光控取向层包括多个段，每个段具有不同的快轴取向和不同的预倾角，使得所述光控取向层的对应段上的双折射层的每个段具有不同的快轴角度和不同的双折射值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】去偏振器及其制备方法相关申请的交叉引用本申请要求于2014年9月12号提交的美国临时专利申请62/049,789的权益。美国临时专利申请62/049,789的公开内容和全部教示特此通过引用并入本文。
一般地，本专利技术涉及去偏振器。更具体地，本专利技术涉及可以去偏光光束的去偏振器。
技术介绍
由于要分析的许多光学系统、光学部件和样品表现出偏振相关的行为，因此希望在将光束应用于这样的样品、光学元件或检测器之前，能对光束进行去偏振。因此，需要创建一种光学元件，其可以基本上使光束去偏振，而不管光束的尺寸、它的中心波长、光学线宽、入射角(或数值孔径)或光束的相干性。目前用于光束去偏振的解决方案受到严重依赖于在宽带和大尺寸的光束(例如Lyot去偏振器)，或者仅在特定波长或小波长范围内是有效的去偏振器(例如美国专利2008/0049321A1)的限制。在进行样品的光谱分析的光学系统(例如分光光度计)的一个实例中，由于样品可以是偏振敏感的，因此期望使施加到样品的光束去偏振，而同时具有尽可能窄带的光束，以便获得光谱分辨率。另外，比如分光光度计的系统通过在一个波长范围上扫描探测光束的中心波长来执行在多本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种去偏振器，包括：第一光控取向层(520)；和沉积在所述第一光控取向层(520)上的第一双折射层(530)；其中所述第一光控取向层(520)包括第一多个段(521、522)，所述第一多个段中的每一个具有不同的快轴取向和不同的预倾角中的至少一个，使得在所述第一光控取向层(520)的对应的段上的第一双折射层(530)的第一多个段(531、532)中的每一个具有第一不同快轴角度和第一不同双折射值中的至少一个。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.09.12 US 62/049,7891.一种去偏振器，包括：第一光控取向层(520)；和沉积在所述第一光控取向层(520)上的第一双折射层(530)；其中所述第一光控取向层(520)包括第一多个段(521、522)，所述第一多个段中的每一个具有不同的快轴取向和不同的预倾角中的至少一个，使得在所述第一光控取向层(520)的对应的段上的第一双折射层(530)的第一多个段(531、532)中的每一个具有第一不同快轴角度和第一不同双折射值中的至少一个。2.根据权利要求1所述的去偏振器，还包括沉积在所述第一双折射层上的一个或多个第二双折射层。3.根据权利要求2所述的去偏振器，其中所述第一双折射层具有第一色散斜率，并且所述一个或多个第二双折射层具有第二色散斜率。4.根据权利要求3所述的去偏振器，其中所述第一和第二色散斜率中的一个为正另一个为负。5.根据权利要求1所述的去偏振器，还包括：设置在所述第一双折射层上的第二光控取向层；和沉积在所述第二光控取向层上的第二双折射层；其中所述第二光控取向层包括第二多个段，所述第二多个段中的每一个具有第二不同快轴取向和第二不同预倾角中的至少一个，使得在所述第二光控取向层对应的段上的第二双折射层的第二多个段中的每一个具有第二不同快轴角度和第二不同双折射值中的至少一个。6.根据权利要求5所述的去偏振器，其中所述第一多个段与第二多个段部分地重叠。7.根据权利要求5所述的去偏振器，其中所述第一多个段的形状或尺寸不同于所述第二多个段的形状或尺寸。8.根据权利要求1所述的去偏振器，其中所述第一光控取向层沉积在衬底的第一表面上。9.根据权利要求8所述的去偏振器，其中所述衬底是反射性的。10.根据权利要求8所述的去偏振器，其中所述衬底是透明的。11.根据权利要求10所述的去偏振器，还包括：沉积在所述衬底的第一表面的相对表面上的第二光控取向层；和沉积在所述第二光控取向层上的第二双折射层；其中所述第二光控取向层包括第二多个段，所述第二多个段中的每一个具有第二不同快轴取向和第二不同预...

【专利技术属性】
技术研发人员：张礼朝，S·鲁宾，张承煜，
申请(专利权)人：统雷有限公司，
类型：发明
国别省市：美国,US