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测试连接器制造技术

技术编号:16048348 阅读:31 留言:0更新日期:2017-08-20 07:53
一种配置于测试目标装置与测试装置之间且将所述测试目标装置的端子电连接至所述测试装置的衬垫的测试连接器,所述测试连接器包含:传导性部分,其中多个传导性粒子沿着厚度方向配置于弹性绝缘材料的区域处,所述区域对应于所述测试目标装置的所述端子;在所述传导性部分之间的绝缘支撑部分,以包围且支撑所述传导性部分的方式设置;以及在所述传导性部分中的每一个中的弹性部件,每一弹性部件是通过螺旋缠绕传导性电线而形成。在每一所述传导性部分中,多个弹性材料彼此邻近。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测试连接器
一或多个例示性实施例是关于一种测试连接器,且更特定言之,是关于一种甚至在高温下仍具有稳定电性质的测试连接器。
技术介绍
一般而言测试目标装置与测试装置之间的电连接必须稳定以对测试目标装置执行电性质测试。测试连接器大体用作用于连接测试目标装置与测试装置的装置。测试连接器连接测试目标装置的端子与测试装置的衬垫,使得可互动地交换电信号。为了如此进行,将弹性传导性薄片或弹簧式顶针用作测试连接器中的连接单元。弹性传导性薄片包含与测试目标装置的端子连接的弹性传导性单元,且弹簧式顶针包含弹簧,以便支撑测试目标装置与测试装置之间的连接。弹簧式顶针用于多数测试连接器中,因为弹簧式顶针可在连接期间缓冲机械冲击。图1中示出测试连接器的实例。测试连接器包含:形成于测试连接器(20)的接触球状栅格阵列(ballgridarray,简称:BGA)半导体装置(2)的球形导线(4)的区域中的传导性硅部分(8);以及形成于不接触半导体装置(2)的球形导线(4)的区域中以支撑传导性硅部分(8)且充当绝缘层的绝缘硅部分(6)。传导性硅部分(8)包含为在硅橡胶中具有某些间隔的间隔部分的传导性粒子(8a)。测试连本文档来自技高网...
测试连接器

【技术保护点】
一种配置于测试目标装置与测试装置之间且将所述测试目标装置的端子电连接至所述测试装置的衬垫的测试连接器,所述测试连接器包括:传导性部分,其中多个传导性粒子沿着厚度方向配置于弹性绝缘材料的区域处,所述区域对应于所述测试目标装置的所述端子;在所述传导性部分之间的绝缘支撑部分,以包围且支撑所述传导性部分的方式设置;以及在所述传导性部分中的每一个中提供的弹性部件,每一所述弹性部件是通过螺旋缠绕传导性电线而形成,其中在每一所述传导性部分中,多个所述弹性部件彼此邻近。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种配置于测试目标装置与测试装置之间且将所述测试目标装置的端子电连接至所述测试装置的衬垫的测试连接器,所述测试连接器包括:传导性部分,其中多个传导性粒子沿着厚度方向配置于弹性绝缘材料的区域处,所述区域对应于所述测试目标装置的所述端子;在所述传导性部分之间的绝缘支撑部分,以包围且支撑所述传导性部分的方式设置;以及在所述传导性部分中的每一个中提供的弹性部件,每一所述弹性部件是通过螺旋缠绕传导性电线而形成,其中在每一所述传导性部分中,多个所述弹性部件彼此邻近。2.根据权利要求1所述的测试连接器,其中所述弹性部件被设置以用以甚至当所述弹性部件间隔开时仍维持相互之间的接触。3.根据权利要求1所述的测试连接器,其中当N表示螺旋缠绕所述传导性电线的次数时,满足N≥1/2。4.根据权利要求1所述的测试连接器,其中所述传导性粒子分布于所述弹性部件周围。5.根据权利要求1所述的测试连接器,当d表示所述传导性电线的电线直径时,满足0.01mm<d<3m...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑永倍
申请(专利权)人:株式会社ISC
类型:发明
国别省市:韩国,KR

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