【技术实现步骤摘要】
一种能够形成变梯度静磁场的磁体系统结构及测量方法
本专利技术阐述一种能够在腔体内部产生自带恒定静磁场梯度的磁体系统。通过旋转该磁体系统内环或外环磁体子系统,可调整静磁场梯度在空间中的方向。该磁体系统可用于获取核磁共振中对被测样品的分子自扩散系数测量以及被测样品的二维成像结果。
技术介绍
核磁共振检测技术是利用核磁共振原理探测氢原子的技术。通过探测被测物内氢原子的含量和赋存状态,获得被测物内各种成分的信息。其技术手段主要通过核磁共振探测装置的探头内的磁体形成静磁场,通过射频天线向被测物发射射频磁场脉冲、采集共振信号,进而根据采集到的样品不同位置的信号,通过直接测量被测物体中氢核的密度、流体分子弛豫特性、扩散特性等对贮存在被测物内的各成分进行分析。实现核磁共振测量的必要条件是将被测样品放置在磁场中。磁场的产生可通过永磁体实现。J.A.Jackson等提出将两个轴向磁化的圆柱形磁体北极与北极相对放置,在其外侧建立起相对均匀的圆环状分布静态区域,在其外侧建立起相对均匀的圆环状分布静态区域,相应的射频磁场由位于两磁体中间的螺旋线圈产生,虽然该磁体结构简单,但灵敏区域太小且磁场强度较低。随后,Z.Taicher等使用径向磁化的单个圆柱形磁体建立静态磁场,而射频磁场由缠绕在磁体上的螺旋线圈产生,但其静态磁场分布极为不均,该传感器的灵敏度区域很小,随后,O.Sucre等为了进一步提高灵敏区域内静态磁场的均匀度,将磁体结构改为六个径向磁化的圆柱形磁体,平面矩形线圈被置于传感器中部的磁体表面上。由此可见,磁体结构的紧凑性设计一直是研究学者们不断追求的目标,都是向传感器的静态磁 ...
【技术保护点】
一种能够形成变梯度静磁场的磁体系统结构,其特征在于,适用于核磁共振检测装置系统,无需额外搭建梯度成像线圈;所述能够形成变梯度静磁场的磁体系统结构由磁体部分,固定磁体的外壳部分和磁场调节部分组成,其中磁体部分由两层环形的磁体阵列组成,分别为内环磁体阵列和外环磁体阵列;所述内环磁体阵列和外环磁体阵列均由沿着柱体轴向方向的n层磁环排列组成,所述n层磁环由2
【技术特征摘要】
1.一种能够形成变梯度静磁场的磁体系统结构,其特征在于,适用于核磁共振检测装置系统,无需额外搭建梯度成像线圈;所述能够形成变梯度静磁场的磁体系统结构由磁体部分,固定磁体的外壳部分和磁场调节部分组成,其中磁体部分由两层环形的磁体阵列组成,分别为内环磁体阵列和外环磁体阵列;所述内环磁体阵列和外环磁体阵列均由沿着柱体轴向方向的n层磁环排列组成,所述n层磁环由2N个磁棒构成(n和N为大于2的自然数),阵列组成存在2N-1对耦合级磁棒,每一对耦合级磁棒按照沿柱体轴对称方式排布,每一层磁环的阵列组成均可相同或不同:所述内环磁体阵列的耦合级磁棒的磁化方向相同,所述外环磁体阵列的耦合级磁棒的磁化方向相反。2.根据权利要求1所述的一种能够形成变梯度静磁场的磁体系统结构,其特征在于,每一层磁环的阵列组成沿着圆周方向排列,每层磁环中磁棒的厚度和层与层之间的距离,以及每一层磁环的阵列组成的圆周的直径均由迭代算法优化设计得出,所述内环磁体阵列的磁棒的圆周排列方式形成的腔内产生第一静磁场,所述第一静磁场具有特定磁场强度,所述第一静磁场方向与邻近的磁棒磁化方向相同。3.根据权利要求2所述的一种能够形成变梯度静磁场的磁体系统结构,其特征在于,所述外环磁体阵列的磁棒的圆周排列方式形成的腔内产生第二静磁场,所述第二静磁场具有恒定梯度,所述第一静磁场和所述第二静磁场形成变梯度静磁场的所述磁体系统结构,所述变梯度静磁场通过改变内环磁体阵列与所述外环磁体阵列的相对角度而改变静磁场梯度的空间取向;所述内环磁体阵列与所述外环磁体阵列由各自的内侧金属骨架和外侧金属骨架安装固定。4.根据权利要求3所述的一种能够形成变梯度静磁场的磁体系统结构,其特征在于,固定磁体的外壳部分由所述金属骨架和温控部分组成,所述温控部分安装于所述内侧金属骨架和外侧金属骨架之间,用于保证所述内环磁体阵列与所述外环磁体阵列的相对温度不变,由高精度温度传感器和温度调节系统组成,能够有效防止磁体的温度漂移导致的磁场变化;调节静磁场梯度的空间取向通过旋转每环磁体阵列的外壳实现自由转动,所述外壳下部有固定孔,用于连接磁场调节部分。5.根据权利要求2所述的一种能够形成变梯度静磁场的磁体系统结构,其特征在于,所述磁场调节部分由底盘和无磁电机组成,底盘为两层环状结构,分别对应内环磁体阵列与所述外环磁体阵列的外壳部分,无磁电机带动底盘转动,所述磁场调节部分由控制器操作,控制器根据指令动作控制无磁电机旋转,从而能够使所述磁体部分之间相互转动。6.一种能够形成变梯度静磁场的磁体系统结构的测量方法,其特征在于,适用于权利要求1-5所述的任意一种能够形成变梯度静磁场的磁体系统结构;所述测量方法包括:取N=4,n=4,初始化系统和恒温温度,调整无磁电机至初始位置,此时标记静磁场梯度G的空间取向φ=0,将被测样品放置于所述磁体系统结构的测试腔内,在该梯度方向下进...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘化冰,汪正垛,孙哲,陈伟梁,宗芳荣,
申请(专利权)人:北京青檬艾柯科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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