本发明专利技术公开了一种用于测量磁体磁场分布的支架，包括底板，所述底板上形成有圆孔，在所述底板上与所述圆孔同心且可转动地设置有成圆形的转盘，在所述转盘上设置有径向导轨，在所述径向导轨的导向槽内设置有轴向导轨，所述轴向导轨能够在径向调节机构的作用下在所述径向导轨的导向槽内来回移动，所述轴向导轨内可移动地设置有轴向测量杆，所述轴向测量杆贯穿所述转盘设置，所述轴向测量杆的端部设置有探针固定机构。本发明专利技术的用于测量磁体磁场分布的支架通过转盘的设置，能够实现探针在圆周上的快速移动，从而能够方便快速的测量任何一条圆周线上的磁场强度，进而可以方便地找到磁场中心的位置。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及磁场检测
，尤其涉及一种用于测量磁体磁场分布的支架。
技术介绍
在射频波加热系统中需要利用磁场来约束速调管中的电子束，使电子束穿过速调管的阳极和腔体，最后达到速调管的收集极，从而实现高功率微波输出。如图1所示，射频波加热系统中用来产生磁场的磁体100一般呈圆形，中间为柱形磁场空间。为了获得足够强的磁场，射频波加热系统中往往需要给磁体线圈通入几万伏的高压，在现阶段的技术条件下，给磁体线圈输入的如此高的高压，通常只能维持几十秒的时间，这就给磁场测量带来了难度，需要磁场测量设备中的探针能够在磁场中快速移动从而能够快速测量三维空间中任一点的场强，进而确定磁场中心，目前的磁场测量装置不能实现探针的快速移动，无法快速确定磁场中心的位置。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题是现有技术中无法快速移动探针从而无法快速测量磁体磁场分布确定磁场中心位置的问题，进而提供一种能够实现探针在圆周线上快速移动进而能够快速确定磁场中心位置的用于测量磁体磁场分布的支架。为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案如下：用于测量磁体磁场分布的支架，包括底板，所述底板上形成有圆孔，在所述底板上与所述圆孔同心且可转动地设置有成圆形的转盘，在所述转盘上设置有径向导轨，在所述径向导轨的导向槽内设置有轴向导轨，所述轴向导轨能够在径向调节机构的作用下在所述径向导轨的导向槽内来回移动，所述轴向导轨内可移动地设置有轴向测量杆，所述轴向测量杆贯穿所述转盘设置，所述轴向测量杆的端部设置有探针固定机构。优选地，所述支架还包括盖板，所述盖板成环形，且其外圆直径大于所述圆孔的直径、内圆直径小于所述圆孔的直径，所述盖板和所述圆孔同心设置且固定在所述底板上，从而在所述盖板和所述底板之间形成周向导向槽，所述转盘嵌在所述周向导向槽内且可沿所述周向导向槽绕轴向转动。优选地，在所述轴向导轨上设置有转动轮，所述轴向测量杆设为齿条测量杆，所述转动轮通过齿轮驱动所述齿条测量杆上下移动。优选地，在所述底板上还设置有定位锁紧机构，所述定位锁紧机构包括轴向调平机构和径向定位锁紧机构。优选地，所述轴向调平机构设为调平螺杆，所述调平螺杆螺纹连接在所述底板上。优选地，所述径向定位锁紧机构包括至少两根径向支撑杆，每根所述径向支撑杆的里端与所述底板固定连接、外端螺纹连接有径向调节丝杆，所述径向调节丝杆的里端连接有固定块，在所述固定块与所述径向支撑杆之间设置有径向锁紧螺钉，在所述径向支撑杆上设置有能够供所述径向锁紧螺钉来回移动的开孔。优选地，在所述转盘与所述盖板之间设置有能够锁死所述转盘的圆周锁死螺钉，在所述轴向导轨和所述轴向测量杆之间设置有能够锁紧所述轴向测量杆的锁紧螺钉，所述盖板和所述底板螺纹连接。优选地，所述探针固定机构包括两个固定连接的半圆形卡块。优选地，所述径向调节机构设置在所述径向导轨上，所述转盘、所述轴向测量杆和/或所述径向导轨上带有刻度。优选地，所述底板成环形。本专利技术的有益效果如下：本专利技术的用于测量磁体磁场分布的支架通过转盘的设置，能够实现探针在圆周上的快速移动，从而能够方便快速的测量任何一条圆周线上的磁场强度，进而可以方便地找到磁场中心的位置。附图说明图1为现有技术中常见的磁体的结构示意图；图2为本专利技术的用于测量磁体磁场分布的支架的结构示意图；图3为用于实现轴向调节的部分结构的放大图；图4为用于实现周向转动的部分结构的剖视示意图；图5为本专利技术中探针固定结构部分的结构示意图；图6为专利技术的用于测量磁体磁场分布的支架的使用状态图；图中：1底板、2转盘、3径向导轨、4轴向导轨、41转动轮、5径向调节机构、6轴向测量杆、7探针固定机构、8盖板、9调平螺杆、10径向支撑杆、11径向调节丝杆、12固定块、13径向锁紧螺钉、14圆周锁死螺钉、15锁紧螺钉、100磁体、200支架。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术的技术方案和有益效果进一步进行说明。参见附图2至附图6，本专利技术的用于测量磁体磁场分布的支架，包括底板1，底板1上形成有圆孔，在底板1上与圆孔同心且可转动地设置有成圆形的转盘2，在转盘2上设置有径向导轨3，在径向导轨3的导向槽内设置有轴向导轨4，轴向导轨4能够在径向调节机构5的作用下在径向导轨3的导向槽内来回移动，轴向导轨4内可移动地设置有轴向测量杆6，轴向测量杆6贯穿转盘2设置，轴向测量杆6的端部设置有探针固定机构7。为了使转盘2的位置能够相对固定又不限制其转动，可以设置转盘2的转动导向槽，具体如图所示，设置盖板8，盖板8成环形，且其外圆直径大于圆孔的直径、内圆直径小于圆孔的直径，盖板8和圆孔同心设置且固定在底板1上，从而在盖板8和底板1之间形成周向导向槽，转盘2嵌在周向导向槽内且可沿周向导向槽绕轴向转动。当然，也可以采用其它方式，例如可以在底板1上直接设置能够嵌入转盘2的凹槽，等等，只要能够实现转盘2的支撑及转动即可。为了方便轴线导轨4的上下移动，可以在轴向导轨4上设置有转动轮41，并将轴向测量杆6设为齿条测量杆，转动轮41通过齿轮驱动齿条测量杆上下移动。为了保证本专利技术的支架能够方便、顺利的应用到测试过程，可以在底板1上设置定位锁紧机构，定位锁紧机构包括轴向调平机构和径向定位锁紧机构，具体的：上述轴向调平机构用于保证本专利技术的支架在使用时可以处于水平状态，具体的，该调平机构可以是调平螺杆9，如图所示，调平螺栓9的数量可以是3根，调平螺杆9螺纹连接在底板1上；磁体的磁场中心大致在其几何中心附近，因此开始测量时可以使探针大致在磁体的几何中心的位置上。上述径向定位锁紧机构的作用是在本专利技术的支架使用时将探针大致调至磁体的几何中心并夹紧固定，防止支架在使用过程中移位，干扰测量过程的进行。该径向定位锁紧机构可以包括至少两根径向支撑杆10，例如可以是图示中的4根，每根径向支撑杆10的里端与底板1固定连接、外端螺纹连接有径向调节丝杆11，径向调节丝杆11的里端连接有固定块12，在固定块12与径向支撑杆10之间设置有径向锁紧螺钉13，在径向支撑杆10上设置有能够供径向锁紧螺钉13来回移动的开孔。本专利技术可以在转盘2与盖板8之间设置能够锁死转盘2的圆周锁死螺钉14，在轴向导轨4和轴向测量杆6之间设置能够锁紧轴向测量杆6的锁紧螺钉15，从而可以在测量时将相关移动件锁紧，防止其移位，保证测量的准确性。为了方便拆卸，本文档来自技高网...
【技术保护点】
用于测量磁体磁场分布的支架，其特征在于：包括底板(1)，所述底板(1)上形成有圆孔，在所述底板(1)上与所述圆孔同心且可转动地设置有成圆形的转盘(2)，在所述转盘(2)上设置有径向导轨(3)，在所述径向导轨(3)的导向槽内设置有轴向导轨(4)，所述轴向导轨(4)能够在径向调节机构(5)的作用下在所述径向导轨(3)的导向槽内来回移动，所述轴向导轨(4)内可移动地设置有轴向测量杆(6)，所述轴向测量杆(6)贯穿所述转盘(2)设置，所述轴向测量杆(6)的端部设置有探针固定机构(7)。
【技术特征摘要】
1.用于测量磁体磁场分布的支架，其特征在于：包括底板(1)，所述底板
(1)上形成有圆孔，在所述底板(1)上与所述圆孔同心且可转动地设置有成
圆形的转盘(2)，在所述转盘(2)上设置有径向导轨(3)，在所述径向导轨(3)
的导向槽内设置有轴向导轨(4)，所述轴向导轨(4)能够在径向调节机构(5)
的作用下在所述径向导轨(3)的导向槽内来回移动，所述轴向导轨(4)内可
移动地设置有轴向测量杆(6)，所述轴向测量杆(6)贯穿所述转盘(2)设置，
所述轴向测量杆(6)的端部设置有探针固定机构(7)。
2.如权利要求1所述用于测量磁体磁场分布的支架，其特征在于：所述支
架还包括盖板(8)，所述盖板(8)成环形，且其外圆直径大于所述圆孔的直径、
内圆直径小于所述圆孔的直径，所述盖板(8)和所述圆孔同心设置且固定在所
述底板(1)上，从而在所述盖板(8)和所述底板(1)之间形成周向导向槽，
所述转盘(2)嵌在所述周向导向槽内且可沿所述周向导向槽绕轴向转动。
3.如权利要求2所述用于测量磁体磁场分布的支架，其特征在于：在所述
轴向导轨(4)上设置有转动轮(41)，所述轴向测量杆(6)设为齿条测量杆，
所述转动轮(41)通过齿轮驱动所述齿条测量杆上下移动。
4.如权利要求3所述用于测量磁体磁场分布的支架，其特征在于：在所述
底板(1)上还设置有定位锁紧机构，所述定位锁紧机构包括轴向调平机构和径
向定位锁紧机构。
5.如权利要求4所述用于测量磁体磁场分布...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁军，白兴宇，陈娅莉，
申请(专利权)人：核工业西南物理研究院，
类型：发明
国别省市：四川;51
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