一种智能测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及测试领域，公开了一种智能测试系统，利用测试组为单位对电路板的各模块进行测量，相比以测试仪为单位来设置流水线而言具有更好的适应性，从而可以分配更多的测试仪给需要测试时间更长的模块，以此调和了有限的设备成本和更高测试效率之间的矛盾，更大程度地利用了时间成本，提高了测试系统的测试效率。并且，通过在不良品收集装置上设置与各待测模块一一对应的M层不良品安置区，通过机械臂将不良品从测试仪中取出，放置在当前测试仪所在的测试组对应的不良品安置区中，从而能够将电路板测试中的不良品按照所对应的未通过测试模块进行分类回收，方便了后续对不良品的检修，省去了二次分类带来的成本。

An intelligent test system

The utility model relates to the field test, an intelligent testing system for each module of the open circuit board is measured by the test group, compared to the tester as a unit to set the line has better adaptability, which can be assigned to more testing instrument need a longer test time in order to reconcile the contradiction between modules. Between the limited equipment cost and higher testing efficiency, greater use of time and cost, improves the test efficiency of the test system. And, by collecting device in defective products is provided with each module to be tested corresponding to the M layer defect resettlement area, through the arm will be removed from bad product tester, placed in the test group the corresponding testing instrument is defective in the resettlement area, which can be in circuit board testing of defective products in accordance with the corresponding did not pass the test module for the separation and recovery, facilitate the follow-up maintenance of defective products, eliminating the two classification costs.

【技术实现步骤摘要】
一种智能测试系统
本技术涉及测试领域，特别涉及一种智能测试系统。
技术介绍
随着科技的发展，电子设备已普及化至个人使用者。由于，电路板是电子设备中重要的电子元器件，而电路板的样式多样化，每种电路板上都有不同的电路。因此，在电子设备的生产制造过程中，必须对已经生产出来的电路板进行严格的测试，才能应用到电子设备中，以确保电子设备的功能正常。并且，电路板测试一般在组装电子设备之前进行，以避免电子设备在完成组装后，才发现电路板存在缺陷，所导致的拆卸电子设备来除错所造成的工时浪费。在现有技术中，工厂需要对电子设备的电路板进行独立的模块测试。由于需要对应电路板上的每一个模块采用独立的测试程序，因此，在现有的测试系统中，通常配备与电路板的待测试模块数量相同的测试仪，并组成流水线。将电路板依次通过这一流水线上的每台测试仪测试，即可完成对电路板的独立模块测试。然而，在现有技术中，电路板测试中的不合格的电路板会被统一的放置在收集装置中，以进行回收检修。然而，在同一收集装置中，各电路板所对应的不合格的模块很有可能是不相同的，举例来说，有的电路板是蓝牙模块测试不通过，有的电路板是WIFI模块测试不通过。在这种回收方式中，将各个电路板混杂在一起，导致后续还需要将回收处的电路板重新分类，因此不便于后续步骤中对不合格电路板的检修。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种智能测试系统，能够防止电路板在测试过程中发生积压，提高测试效率。并且，能够将电路板测试中的不良品按照所对应的未通过测试模块进行分类回收，方便了后续步骤中对不合格电路板的检修，提高了检修效率。为解决上述技术问题，本技术的实施方式提供了一种智能测试系统，用于测试电路板，电路板包括M个待测模块，智能测试系统包括：机械臂、不良品收集装置以及N个测试仪；其中，N和M均为自然数，并且，N大于1，M小于或等于N；N个测试仪被分为M组测试组，M组测试组与电路板上的M个待测模块一一对应；测试仪用于测试与本测试仪所在测试组对应的待测模块；不良品收集装置包括M个不良品安置区，M个不良品安置区与M组测试组一一对应；机械臂用于抓取电路板，并依次交付给不同测试组的测试仪测试；当电路板的某一待测模块未通过测试时，机械臂将电路板移送至当前测试仪所在的测试组对应的不良品安置区。相对于现有技术而言，本技术的实施方式利用测试组为单位对电路板的各模块进行测量，相比以测试仪为单位来设置流水线而言具有更好的适应性，从而可以分配更多的测试仪给需要测试时间更长的模块，以此调和了有限的设备成本和更高测试效率之间的矛盾，更大程度地利用了时间成本，提高了测试系统的测试效率。并且，通过在不良品收集装置上设置与各待测模块一一对应的M层不良品安置层区，通过机械臂将不良品从测试仪中取出，放置在当前测试仪所在的测试组对应的不良品安置区中，从而能够将电路板测试中的不良品按照所对应的未通过测试模块进行分类回收，方便了后续步骤中对不良品的检修，省去了二次分类带来的成本。作为优选，不良品收集装置还包括升降机构，升降机构用于带动各不良品安置层沿高度方向运动；升降机构与各测试仪通信连接，当电路板的某一待测模块未通过测试时，升降机构用于将与当前测试仪所在的测试组对应的不良品安置层移动至机械臂的所在高度相同的高度位置。利用升降机构的带动，实现了不良品收集装置自行的在高度方向上的移动，以便于机械臂能够将不良品准确的放置在不良品收集装置中的对应位置。并且，通过升降机构与测试仪的通信连接，升降机构能够获得较为准确的移动位移信息，从而能够提高升降机构控制不良品收集装置移动的准确度。其中，作为优选，升降机构包括与各不良品安置层相连接的连接组件，与连接组件传动连接的滚珠丝杆和用于带动滚珠丝杆运动的电机；电机与测试仪通信连接。其中，电机可以选用成本低廉的步进电机，配合丝杆可以精确地控制升降机构在高度方向上的位移，从而实现稳定的步进运动。其中，作为优选，连接组件包括连接臂和底盘，各不良品安置层通过连接臂相互连接并通过连接臂连接于底盘，从而实现各不良品安置层的同步移动。作为优选，机械臂为四轴机械臂。相对于六轴机械臂，其设备成本较低。作为优选，机械臂上设有至少两个抓取机构，且每个抓取机构仅能抓取一块电路板。利用所设置的多个抓取机构，使得机械臂能够抓取多个电路板，使得电路板的测试得到了提高。并且，仅设置两个抓取机构的机械臂可以有更好的可靠性，成本也更低。附图说明图1是根据本技术第一实施方式中的一种智能测试系统的立体结构示意图；图2是根据本技术第一实施方式中的一种智能测试系统的俯视图；图3是根据本技术第一实施方式中的一种智能测试系统的不良品收集装置的立体结构示意图；图4是根据本技术第二实施方式中的一种智能测试系统的不良品收集装置的立体结构示意图。1、机械臂；抓取机构11；2、不良品收集装置；不良品安置层21；升降机构22；连接组件221；滚珠丝杆222；电机223；3、测试仪。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本技术各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。本技术的第一实施方式提供了一种智能测试系统，参见图1至图2所示，用于测试电路板，电路板包括M个待测模块。本实施方式中的智能测试系统包括用于抓取电路板的机械臂1、用于收集未通过测试的电路板的不良品收集装置2，以及N个测试仪3。其中，N和M均为自然数，N大于1，M小于或等于N。其中，所有测试仪3被分为M组测试组，各测试组分别与电路板的各个待测模块一一对应，测试仪3用于与本测试仪所在测试组对应的待测模块。具体而言，本实施方式中，智能测试系统还包括工作台，N个测试仪3环绕在机械臂1的四周，机械臂1位于工作台的中央。并且，测试仪3包括测试仓和能够从测试仓中弹出和缩回的测试盘，机械臂1用于将待测试的电路板放于测试盘上，测试盘在获得电路板后缩回测试仓，开始测试。利用测试盘的伸缩动作，可以直观得判断出当前测试系统的测试进程，便于操作人员预警分析。通过这种方式，利用测试组为单位对电路板的各模块进行测量，相比以测试仪3为单位来设置流水线而言具有更好的适应性，从而可以分配更多的测试仪3给需要测试时间更长的模块，以此调和了有限的设备成本和更高测试效率之间的矛盾，更大程度地利用了时间成本，提高了测试系统的测试效率。而不良品收集装置2包括M个不良品安置区，M个不良品安置区与M组测试组一一对应。本实施方式中，M个不良品安置区为沿高度方向间隔设置的M个不良品安置层21，且各不良品安置层21与各待测模块一一对应。通过这种方式，相当于将不良收集装置按照待测模块进行分类，从而使得各不良品可以按照待测模块进行分类回收。当然，在实际操作时，M个不良品安置区也可以沿水平方向间隔设置，本实施方式中，并不对M个不良品安置区的设置方式做任何限制。在本实施方式中，不良品收集装置2包括升降机构22，升降机构22用于带动各不良品安置层21沿高度方向运动，如图3所示。升降机构本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种智能测试系统，用于测试电路板，所述电路板包括M个待测模块，其特征在于，包括：机械臂、不良品收集装置以及N个测试仪；其中，所述N和所述M均为自然数，并且，所述N大于1，所述M小于或等于所述N；N个所述测试仪被分为M组测试组，所述M组测试组与所述电路板上的M个待测模块一一对应；所述测试仪用于测试与本测试仪所在测试组对应的待测模块；所述不良品收集装置包括M个不良品安置区，所述M个不良品安置区与所述M组测试组一一对应；所述机械臂用于抓取所述电路板，并依次交付给不同测试组的测试仪测试；当所述电路板的某一待测模块未通过测试时，所述机械臂将所述电路板移送至当前测试仪所在的测试组对应的不良品安置区。

【技术特征摘要】
1.一种智能测试系统，用于测试电路板，所述电路板包括M个待测模块，其特征在于，包括：机械臂、不良品收集装置以及N个测试仪；其中，所述N和所述M均为自然数，并且，所述N大于1，所述M小于或等于所述N；N个所述测试仪被分为M组测试组，所述M组测试组与所述电路板上的M个待测模块一一对应；所述测试仪用于测试与本测试仪所在测试组对应的待测模块；所述不良品收集装置包括M个不良品安置区，所述M个不良品安置区与所述M组测试组一一对应；所述机械臂用于抓取所述电路板，并依次交付给不同测试组的测试仪测试；当所述电路板的某一待测模块未通过测试时，所述机械臂将所述电路板移送至当前测试仪所在的测试组对应的不良品安置区。2.根据权利要求1所述的智能测试系统，其特征在于，所述M个不良品安置区为沿高度方向间隔设置的M个不良品安置层。3.根据权利要求2所述的智能测试系统，其特征在于，所述不良品收集装置还包括升降机构，所述升降机构用...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊天剑，孙双立，
申请(专利权)人：希姆通信息技术上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31