电路板的智能测试方法和智能测试系统技术方案

本发明专利技术涉及测试领域，公开了一种电路板的智能测试方法和智能测试系统，该测试方法包含如下步骤：预先获取电路板的M个待测模块所需的测试时间，M为自然数。为每个待测模块分别配置一个测试组，每个测试组包含至少一台测试仪，测试仪用于测试本测试组对应的待测模块。其中，测试组包含的测试仪的数量与对应的待测模块所需的测试时间呈正比。在需要对电路板进行测试时，将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试。采用了该智能测试方法的智能测试系统能够防止电路板在测试过程中发生积压，提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
电路板的智能测试方法和智能测试系统
本专利技术涉及测试领域，特别涉及一种电路板的智能测试方法和智能测试系统。
技术介绍
在电路板的生产制造过程中，需要对电子设备的电路板进行独立的模块测试。由于需要对应电路板上的每一个模块采用独立的测试程序，因此，在现有的测试系统中，通常配备与电路板的待测试模块数量相同的测试仪，并组成流水线。将电路板一次通过这一流水线上的每台测试仪测试，即可完成对电路板的独立模块测试。然而，并不是每个模块的测试时间都相同，在测试的过程中，若位于后部的测试仪测试的所需时间较长，则容易导致电路板在流水线上形成积压。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种电路板的智能测试方法和智能测试系统，采用了该智能测试方法的智能测试系统能够防止电路板在测试过程中发生积压，提高测试效率。为解决上述技术问题，本专利技术的实施方式提供了一种电路板的智能测试方法，包含如下步骤：预先获取电路板的M个待测模块所需的测试时间，M为自然数；为每个待测模块分别配置一个测试组，每个测试组包含至少一台测试仪，测试仪用于测试本测试组对应的待测模块；其中，测试组包含的测试仪的数量与对应的待测模块所需的测试时间呈正比；在需要对电路板进行测试时，将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试。本专利技术的实施方式还提供了一种智能测试系统，用于测试电路板，包括用于抓取电路板的机械手、用于输送电路板的送料装置，用于送出电路板的出料装置，用于收集未通过测试的电路板的不良品收集装置，以及若干台个环绕机械手的测试仪；电路板上有M个待测模块，M为自然数；所有测试仪被分为M组测试组，各测试组分别与电路板的各个待测模块一一对应，测试仪用于测试本测试组对应的待测模块；其中，测试组包含的测试仪的数量与对应的待测模块所需的测试时间呈正比；机械手用于抓取送料装置送达的电路板，并依次交付给属于不同测试组的测试仪测试；机械手还用于将未通过测试的电路板移送至不良品收集装置，将通过测试的电路板移送至出料装置。相对于现有技术而言，本专利技术的实施方式利用测试组为单位对电路板的各模块进行测量，相比以测试仪为单位来设置流水线而言具有更好的适应性。本专利技术的实施方式在调整了各测试组中测试仪的数量后，可以分配更多的测试仪给需要测试时间更长的模块，以此调和了有限的设备成本和更高测试效率之间的矛盾，更大程度地利用了时间成本，提高了测试系统的测试效率。作为优选，本专利技术的实施方式提供了一种理想状态下的测试仪的配比方式：在为每个待测模块分别配置一个测试组的步骤中，配置的各测试组包含的测试仪数量之比，等于各测试组对应的待测模块所需的测试时间之比。如此一来，可以基本实现避免电路板的积压。当然，在实际使用时，测试组的数量可以不完全遵循该比例，并在近似原则的前提下取整。另外，作为优选，在将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试的步骤中，包含以下子步骤：每次从测试仪获取到电路板时，判断该测试仪对该待测模块的测试结果是否合格；如果测试结果为合格，则继续测试待测电路板的下一个待测模块；如果测试结果为不合格，则将待测电路板移送至不良品收集装置。通过设置不良品排除步骤，在测出不良品时及时进行排除，可以避免无谓的测试所浪费的时间。进一步地，作为优选，将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试的步骤中，还包含以下子步骤：根据预设的M个待测模块的优先级，在未测试的待测模块中，选取优先级最高的待测模块；将待测电路板移送至选取的待测模块所对应的测试组内的一台测试仪。通过设置优先级，可以对同一电路板的待测模块的测试先后顺序作出调整，可以令不良品更加及时地得到排除，避免耗费在不良品电路板中良好模块上所耗费的测试时间。在本专利技术的实施方式中，给出了几种优先级的设置方案：其一，待测模块的良品率越高，待测模块的优先级越低。优先测试良品率低的待测模块，可以避免将时间浪费在测试良品率较高的模块中，提高测试效率。其二，待测模块的的测量所需时间越长，待测模块的优先级越低。优先测试需要花费的时间较短的待测模块，可以避免将时间浪费在测试时间较长的模块中，提高测试效率。其三，综合考量良品率和花费的时间，待测模块的优先级可以满足以下条件：待测模块的良品率，与该待测模块所需的测试时间的乘积越大，则该待测模块的优先级越低。如此一来能够更好地提高测试效率。另外，作为优选，在将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪的步骤中，利用机械手将待测电路板移送至环绕机械手的各测试组内的一台测试仪中；其中，机械手上设有至少两个抓取机构，且每个抓取机构仅能抓取一块电路板。仅设置两个抓取机构的机械手可以有更好的可靠性，成本也更低。进一步地，作为优选，在将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪的步骤中，还包括如下子步骤：机械手在属于当前测试组的测试仪中抓取电路板时，判断下一个测试组中各测试仪的状态，其中：若判定存在一个或多个测试仪具有放置待测电路板空间，机械手将电路板移送至最近的一个测试仪；若判定存在一个或多个具有已经测试完毕的电路板的测试仪，机械手移动至最近的一个测试仪，抓取测试仪中已经完成测试的电路板，并向测试仪中放入未经该测试仪测试的电路板；若判定既不存在具有放置待测电路板空间的测试仪，也不存在具有已经测试完毕的电路板的测试仪，则机械手保持电路板，直至下一组测试组中任意一个测试仪中有电路板测试完毕。就近选择测试仪，可以节约机械手的行程，提高测试效率。并且，在下一组的测试仪忙碌时，将电路板保持在机械手上，也避免了反复抓取电路板带来的效率损失。而作为优选，在电路板的智能测试方法中，还包括如下步骤：每当机械手中不存在电路板时，机械手从送料装置处抓取电路板，并移送至测试仪。机械手自动化地抓取新的待测电路板，提高了测试系统的智能化程度。附图说明图1是本专利技术实施方式第一实施方式智能测试方法的流程框图；图2是本专利技术实施方式第一实施方式智能测试方法在步骤S3的子流程框图；图3是本专利技术实施方式第二实施方式智能测试方法的流程框图；图4是本专利技术实施方式第三实施方式智能测试系统的示意图。附图编号说明：1、机械手；2、送料装置；3、出料装置；4、不良品收集装置；5、测试仪；6、推车。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本专利技术各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。本专利技术的第一实施方式提供了一种电路板的智能测试方法，参见图1所示，包含如下步骤：S1、预先获取电路板的M个待测模块所需的测试时间，M为自然数。S2、为每个待测模块分别配置一个测试组，每个测试组包含至少一台测试仪5，测试仪5用于测试本测试组对应的待测模块；其中，测试组包含的测试仪5的数量与对应的待测模块所需的测试时间呈正比。显然，在测试时间需要得越长时，增加的测试仪5的数量可以显著地降低电路板在需要长时间测试时产生的积本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路板的智能测试方法，其特征在于，包含如下步骤：预先获取电路板的M个待测模块所需的测试时间，所述M为自然数；为每个所述待测模块分别配置一个测试组，每个测试组包含至少一台测试仪，所述测试仪用于测试本测试组对应的待测模块；其中，所述测试组包含的测试仪的数量与所述对应的待测模块所需的测试时间呈正比；在需要对电路板进行测试时，将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种电路板的智能测试方法，其特征在于，包含如下步骤：预先获取电路板的M个待测模块所需的测试时间，所述M为自然数；为每个所述待测模块分别配置一个测试组，每个测试组包含至少一台测试仪，所述测试仪用于测试本测试组对应的待测模块；其中，所述测试组包含的测试仪的数量与所述对应的待测模块所需的测试时间呈正比；在需要对电路板进行测试时，将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试。2.根据权利要求1所述的电路板的智能测试方法，其特征在于：在为每个所述待测模块分别配置一个测试组的步骤中，配置的各测试组包含的测试仪数量之比，等于各测试组对应的待测模块所需的测试时间之比。3.根据权利要求1所述的电路板的智能测试方法，其特征在于：所述将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试的步骤中，还包含以下子步骤：每次从测试仪获取到电路板时，判断该测试仪对该待测模块的测试结果是否合格；如果所述测试结果为合格，则继续测试所述待测电路板的下一个待测模块；如果所述测试结果为不合格，则将所述待测电路板移送至不良品收集装置。4.根据权利要求3所述的电路板的智能测试方法，其特征在于：所述将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试的步骤中，还包含以下子步骤：根据预设的M个所述待测模块的优先级，在未测试的待测模块中，选取优先级最高的待测模块；将所述待测电路板移送至所述选取的待测模块所对应的测试组内的一台测试仪。5.根据权利要求4所述的电路板的智能测试方法，其特征在于：所述待测模块的良品率越高，所述待测模块的优先级越低；或者，所述待测模块的的测量所需时间越长，所述待测模块的优先级越低。6.根据权利要求4所述的电路板的智能测试方法，其特征在于：所述待测模块的优先级满足以下条件：待测模块的良品率，与该待测模块所需的测试时间的乘积越大，则该待测模块的优先级越低。7.根据权利要求1至6中任意一项所述的电...

【专利技术属性】
技术研发人员：王中华，
申请(专利权)人：沈阳晨讯希姆通科技有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁,21