硬度测试设备和硬度测试方法技术

硬度测试设备和硬度测试方法。硬度测试机包括存储相关数据的相关存储器，相关数据关联基于通过将压头按压到标准参考样品的表面中所形成的压痕的尺寸的标准参考样品的硬度以及基于在标准参考样品中形成压痕期间的测试力和下压量的标准参考样品的硬度。CPU测量在被测量的样品中形成压痕期间的测试力和下压量；基于所测量的测试力和下压量来计算被测量的样品的硬度的估计值；以及基于计算出的估计值和相关数据来计算被测量的样品的硬度。

【技术实现步骤摘要】
硬度测试设备和硬度测试方法相关申请的交叉引用本申请根据35U.S.C.§119要求2015年11月4日提交的日本申请第2015-216263号的优先权，其全部公开内容通过引用明确并入本文。
本专利技术涉及一种硬度测试机以及硬度测试方法。
技术介绍
常规的硬度测试机是已知的，其基于通过采用预定测试力将压头压靠着样品所形成的压痕的尺寸来测量样品的硬度(例如参见日本专利特许公开号2008-180669)。例如，Vickers硬度测试机在通过按压正方棱锥压头到样品表面中形成压痕之后来测量压痕的对角线长度，并且基于所测量的压痕对角线长度来计算硬度。然而，在需要所形成的压痕的这种测量以便测量硬度的硬度计算方法中，在形成压痕之后通过光学观察装置来进行观察是必需的。这在计算硬度之前需要时间，从而导致工作效率很差。
技术实现思路
本专利技术提供了一种能够通过计算硬度而不需要光学观察来提高工作效率的硬度测试机及硬度测试方法。为了解决上述问题，本专利技术的一方面是提供了一种将预定测试力加载在压头上并且将所述压头按压到样品的表面中以形成压痕的硬度测试机。所述硬度测试机包括存储器、测量器、估计值计算器以及硬度计算本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于将预定测试力加载在压头上并且将所述压头按压到样品的表面中以形成压痕的硬度测试机，所述硬度测试机包括：存储器，配置成存储相关数据，所述相关数据关联基于通过将所述压头按压到标准参考样品的表面中所形成的压痕的尺寸的标准参考样品的硬度以及基于在标准参考样品中形成压痕期间的测试力和下压量的标准参考样品的硬度；测量器，配置成测量在被测量的样品中形成压痕期间的测试力和下压量；估计值计算器，配置成基于由所述测量器测量的测试力和下压量来计算被测量的样品的硬度的估计值；以及硬度计算器，配置成基于由所述估计值计算器计算的估计值和所述相关数据来计算被测量的样品的硬度。

【技术特征摘要】
2015.11.04 JP 2015-2162631.一种用于将预定测试力加载在压头上并且将所述压头按压到样品的表面中以形成压痕的硬度测试机，所述硬度测试机包括：存储器，配置成存储相关数据，所述相关数据关联基于通过将所述压头按压到标准参考样品的表面中所形成的压痕的尺寸的标准参考样品的硬度以及基于在标准参考样品中形成压痕期间的测试力和下压量的标准参考样品的硬度；测量器，配置成测量在被测量的样品中形成压痕期间的测试力和下压量；估计值计算器，配置成基于由所述测量器测量的测试力和下压量来计算被测量的样品的硬度的估计值；以及硬度计算器，配置成基于由所述估计值计算器计算的估计值和所述相关数据来计算被测量的样品的硬度。2.根据权利要求1所述的硬度测试机，进一步包括Vickers硬度计算器，配置成基于通过将压头按压到标准参考样品的表面中所形成的压痕的尺寸来计算标准参考样品的Vickers硬度，其中：所述测量器进一步配置成连续地测量在标准参考样品中形成压痕期间的测试力和下压量，所述估计值计算器进一步配置成，作为估计值，基于由所述测量器测量的测试力和下压量来计算相当于标准参考样品的Vickers硬度的硬度，以及所述存储器进一步配置成关联作为相关数据的由所述Vickers硬度计算器计算的Vickers硬度以及由所述估计值计算器计算的估计值并存储它们。3.根据权利要求1所述的硬度测试机，进一步包括定义器，配置成从多个计算公式中设定要被所述估计值计算器使用的估计值的计算公式，其中，所述估计值计算器还配置成使用由所述定义器设定的计算公式来计算估计值。4.根据权利要求2所述的硬度测试机，进一步包括定义器，配置成从多个计算公式中设定要被所述估计值计算器使用的估计值的计算公式，其中，所述估计值计算器还配置成使用由所述定义器设定的计算公式来计算估计值。5.一种用于将预定测试力加载在压头上并且将所述压头按压到样品的表面中以形成压痕的硬度测试机，所述硬度测试机包括：存储器，配置成存储相关数据，所述相关数据关联基于通过将所述压头按压到标准参考样品的表面中...

【专利技术属性】
技术研发人员：舆水文比古，
申请(专利权)人：株式会社三丰，
类型：发明
国别省市：日本,JP