二分区间的数据压缩方法及集成电路的测试数据存储方法技术

本发明专利技术公开了一种二分区间的数据压缩方法，将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该位置，存储该二分区间的规律即存储该若干个测试向量甚至整个测试集。本发明专利技术还公开了一种集成电路测试数据的存储方法。本发明专利技术相比现有技术具有以下优点：提高了测试效率，由于将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该位置，存储该二分区间的规律即可存储该若干个测试向量甚至整个测试集，占用空间较小，并且运算简单，非常实用。

【技术实现步骤摘要】
二分区间的数据压缩方法及集成电路的测试数据存储方法
本专利技术涉及一种集成电路测试技术，更具体涉及一种集成电路测试中的数据存储技术。
技术介绍
随着集成电路的发展，如何处理越来越庞大的测试数据已成为集成电路测试的关键难题之一。根据ITRS在2010年的报告数据，测试一个芯片，在2009年，仅仅需要85个测试模式数，也只需要压缩比为80；而到2019年，对测试模式数的要求则需要达到20370个，对压缩比的要求则需要达到12000。仅仅十年，模式数增加到240倍，压缩比增加到150倍。关于减少测试数据量的研究，一直是研究的热点，主要可以分为三类：测试集压缩(TestSetCompaction)方法、内建自测试(Built-inSelf-Test,BIST)方法和静态编码压缩方法。(1)测试集压缩方法。其特点是确保在不降低故障覆盖率的情况下，有选择性尝试使用不同的敏化路径，通过算法调整测试立方体(TestTubes)中无关位(Don’tcarebits)的位置，或者将相容的两个或多个测试向量合并成单一测试向量的方法来减少总的测试向量的个数，以期达到测试集最小化或最优化。其优势是所有工作由软件实现，不会增加额外的硬件成本。但其缺点也非常明显，测试向量的个数的减少造成了对非模型故障的覆盖率的降低。本方法另一缺点是压缩后测试集的测试数据量仍然非常庞大，很难一次性完全直接存储在ATE(自动测试机)的存储器中。因此，需要与其它方法结合使用。(2)内建自测试方法。其在被测电路中新增一部分电路，该电路专门用于测试，能够完成测试模式生成、测试控制、测试调度和测试结果分析，这样可以不依赖外部的自动测试设备独立进行测试。能够通过减少昂贵的自动测试设备的成本费来达到节约测试成本的目的，还可以支持测试重用和全速测试。其缺点在生成测试模式时，产生了大量的对测试毫无贡献的测试模式，既增加了测试功耗，又浪费了测试时间；另外，有部分未设计BIST方法的IP核也限制其应用。(3)静态编码压缩方法。其通过编码技术用一个较小的测试集TE去编码测试集TD，将存储和传输时对TD的操作变换成对TE的操作，即存储TE在ATE的存储器中，测试时，也仅传输TE而不是TD到被测芯片，最终TE到TD的还原由被测芯片上的解压电路来完成。静态编码方法采用的是无损压缩方法，还原后的测试集的确定位跟原始测试集的确定位完全一一对应，还原后的无关位都被程序填充成了特定的值，因此其只会增加而不会降低被测电路的故障覆盖率。该方法的另一优势是可以不需要提供被测电路的内部结构，能够很好地保护IP核的知识产权。因此，该技术在集成电路测试领域中得到了广泛应用。当前比较成熟的编码有很多，如Golomb编码、FDR码、VIHC码、交替连续码、Variable-Tail码、混合游程码、SVIC码、变游程码、EFDR、MFVLC、MFVRCVB、AFDR、共游程码和整数存储无理数的方法等。上述三类方法均存在缺点。测试集压缩方法的目标是追求测试集的最小化，但该问题是NP完全问题(NP的英文全称是Non-deterministicPolynomial的问题，即多项式复杂程度的非确定性问题)。另一方面，其非模型故障的故障覆盖率会受到影响，测试集压缩后的测试集的数据量仍然非常大，并不能直接存储和传输，还需要进一步压缩。由于测试时通常存在着抗随机故障(RandomResistantFault,RRF)，故内建自测试方法存在故障覆盖率不高、测试序列较长的弊端。虽然可以通过加权或采用混合模式等方法来进一步提高测试效率，但随着电路规模的扩大，RRF的增多，所需要的硬件开销将显著增加。静态编码压缩方法中，由于在CUT(CircuitUnderTest，待测电路)与ATE(AutomaticTestEquipmen，自动测试设备)之间数据传输存在着信号难以同步的缺点，不解决好同步问题，将会严重影响测试效率，改进通讯方式，又将会增加通讯协议的复杂性。另外，基于编码的测试数据压缩技术对多扫描链结构并不能很好的相容，需要对每一条扫描链都提供一个独立的解压电路才能使解压效率最高。正是由于这些原因，对静态编码压缩方法的研究仅停留在学术界，到目前为止还没有实用的相关EDA(ElectronicsDesignAutomation，电子设计自动化)工具出现。在静态编码压缩方法中，利用整数存储无理数的方法，理论上可以将整个测试集转换成若干个整数表示的无理数存储。该方法的优势是不需要直接存储代码字，而是存储代码字的规律。其缺点是如果期望其压缩效果好，无理数所表示的测试数据量就比较大，可能是若干个测试向量，甚至是整个测试集，此时无理数对应的整数表示就比较大。一方面，该大整数在存储时占用较大的空间；另一方面，在测试数据解压过程中，大整数给数据运算带来了复杂性，有时甚至不能直接运算。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于提供了一种提高测试效率、占用空间较小并且运算简单的二分区间的数据压缩方法。本专利技术是通过以下技术方案解决上述技术问题的：一种二分区间的数据压缩方法，将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该位置，存储该二分区间的规律即存储该若干个测试向量甚至整个测试集。具体步骤为：步骤1：统计原始测试数据的游程长度Y1、Y2、……，Yn，其中，Yn表示为第n个测试向量的游程长度，n为正整数，将该测试向量按0类型游程统计游程长度，直到无关位结束；步骤2：转化成小数，默认小数的整数部分为0，步骤1所统计的游程长度依次组成小数部分，转化的小数为0.Y1Y2……Yn，0.Y1Y2……Yn属于区间(0，1)；步骤3：初始化区间和原始编码，记t0＝0，t1＝1，原始编码为空；步骤4：二分区间，令比较t′与t大小并编码，规则为：若t≤t′，编码增加1位数据0，令t1＝t′；若t＞t′，编码增加1位数据1，令t0＝t′，重复执行该步骤直到t＝t′。优化的，所述步骤1中，若无关位与前一游程可以组成同一游程，舍弃最后一游程长度，只记前若干游程长度；否则记前所有游程长度。本专利技术还公开一种集成电路测试数据的存储方法，包括如下步骤：步骤10：根据待测试集成电路的电路结构生成包含若干故障的故障列表；步骤20：选择任一故障，运行自动测试向量生成工具以此生成该故障的测试向量，同时将该故障点从故障列表中删除，最终形成级联后原始测试数据即测试向量序列S；步骤30：将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该位置，存储该二分区间的规律即存储该若干个测试向量甚至整个测试集。所述步骤30具体包括以下步骤：步骤301：游程长度统计，统计级联后原始测试数据的游程长度Y1、Y2、……，Yn，其中，Yn表示为第n个测试向量的游程长度，n为正整数，将该测试向量按0类型游程统计游程长度，直到无关位结束；步骤302：转化成小数，默认小数的整数部分为0，步骤301所统计的游程长度依次组成小数部分，转化的小数为0.Y1Y2……Yn，0.Y1Y2……Yn属于区间(0，1)；步骤303：初始化区间和原始编码，记t0＝0，t1＝1，原始编码为空；步骤304：二分区间，令比较t′与t大小并编码，规则为：若t≤t′，编本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种二分区间的数据压缩方法，其特征在于，将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该位置，存储该二分区间的规律即存储该若干个测试向量甚至整个测试集。

【技术特征摘要】
1.一种二分区间的数据压缩方法，其特征在于，将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该位置，存储该二分区间的规律即存储该若干个测试向量甚至整个测试集。2.如权利要求1所述的一种二分区间的数据压缩方法，其特征在于，具体步骤为：步骤1：统计原始测试数据的游程长度Y1、Y2、……，Yn，其中，Yn表示为第n个测试向量的游程长度，n为正整数，将该测试向量按0类型游程统计游程长度，直到无关位结束；步骤2：转化成小数，默认小数的整数部分为0，步骤1所统计的游程长度依次组成小数部分，转化的小数为0.Y1Y2……Yn，0.Y1Y2……Yn属于区间(0，1)；步骤3：初始化区间和原始编码，记t0＝0，t1＝1，原始编码为空；步骤4：二分区间，令比较t′与t大小并编码，规则为：若t≤t′，编码增加1位数据0，令t1＝t′；若t＞t′，编码增加1位数据1，令t0＝t′，重复执行该步骤直到t＝t′。3.如权利要求2所述的一种二分区间的数据压缩方法，其特征在于，所述步骤1中，若无关位与前一游程可以组成同一游程，舍弃最后一游程长度，只记前若干游程长度；否则记前所有游程长度。4.一种集成电路测试数据的存储方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤10：根据待测试集成电路的电路结构生成包含若干故障的故障列表；步骤20：选择任一故障，运行自动测...

【专利技术属性】
技术研发人员：詹文法，程一飞，张振林，
申请(专利权)人：安庆师范大学，
类型：发明
国别省市：安徽,34