一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置制造方法及图纸

本申请实施例提供一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置，所述装置包括：带动所述矩阵排列芯片的基板进行移动的移动装置，以及对所述基板上的各芯片进行图像采集的摄像头，所述移动装置令所述基板上的各芯片移动至光照条件理想区域，所述摄像头采集所述光照条件理想区域的各芯片图像，并将采集的各芯片图像拼接为所述基板的完整图像，针对所述完整图像识别出具有不良品标记的矩阵排列芯片。本申请实施例用以高效实现矩阵排列芯片的不良品标记识别，降低检测成本，且操作流程简单。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置
本申请涉及芯片测试
，尤其涉及一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置。
技术介绍
随着指纹识别和移动支付浪潮的到来，指纹芯片迎来了爆发增长，而为满足不同手机产商对指纹芯片不同形状及不同尺寸的要求，矩阵排列芯片(Strip芯片)应运而生。矩阵排列芯片(Strip芯片)是在一条状基板上有多颗成矩阵排列的芯片，芯片与芯片之间有一定的空间距离，这样方便客户切割成自己需要的形状与尺寸。条状基板上往往存在外观、电气性能故障等不良品芯片，在对所述不良品芯片进行检测时，通常通过识别不良品标记分辨芯片是否为不良品芯片。传统芯片测试中识别不良品芯片仅针对单颗芯片进行图像采集和识别，在条状基板上逐一对多颗成矩阵排列的芯片进行图像采集和识别造成识别效率低下。并且，在条状基板上逐一对多颗成矩阵排列的芯片进行图像采集，需要移动装置移动所述基板以使摄像头逐一对准需识别的芯片，造成检测成本高，流程复杂。因此，如何高效的实现矩阵排列芯片的不良品标记识别,成为现有技术中亟需解决的技术问题。
技术实现思路
有鉴于此，本申请实施例所解决的技术问题之一在于提供一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置，用以高效实现矩阵排列芯片的不良品标记识别，降低检测成本，且操作流程简单。本申请实施例提供一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置，包括：带动所述矩阵排列芯片的基板进行移动的移动装置，以及对所述基板上的各芯片进行图像采集的摄像头，所述移动装置令所述基板上的各芯片移动至光照条件理想区域，所述摄像头采集所述光照条件理想区域的各芯片图像，并将采集的各芯片图像拼接为所述基板的完整图像，针对所述完整图像识别出具有不良品标记的矩阵排列芯片。对应上述装置，本申请还提供一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别方法，包括：令移动装置将基板上的各芯片移动至光照条件理想区域；通过所述摄像头采集所述光照条件理想区域的各芯片图像；将采集的各芯片图像拼接为所述基板的完整图像；针对所述完整图像识别出具有不良品标记的矩阵排列芯片。由以上技术方案可见，本申请所述移动装置令所述基板上的各芯片移动至光照条件理想区域以使所述摄像头采集各芯片图像，并将采集的各芯片图像拼接为所述基板的完整图像，针对所述完整图像识别出具有不良品标记的矩阵排列芯片。因此，所述移动装置仅需要带动所述基板至光照条件理想区域以使所述摄像头采集各芯片图像，无需移动所述基板以使摄像头逐一对准需识别的芯片。本申请可以高效的实现矩阵排列芯片的不良品标记识别，且降低了检测成本，操作流程简单。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1是本申请用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置的结构示意图；图2是本申请用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置中基板表面的反射示意图；图3是本申请用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置中光照条件理想区域示意图；图4是本申请用于矩阵排列芯片的不良品标记识别方法的流程图；图5是本申请用于矩阵排列芯片的不良品标记识别方法中步骤S4的流程图；图6是本申请用于矩阵排列芯片的不良品标记识别方法中模板选取的示意图；图7是本申请用于矩阵排列芯片的不良品标记识别方法中步骤S42的流程图；图8是本申请用于矩阵排列芯片的不良品标记识别方法中芯片轮廓示意图。具体实施方式本申请所述移动装置令所述基板上的各芯片移动至光照条件理想区域以使所述摄像头采集各芯片图像，并将采集的各芯片图像拼接为所述基板的完整图像，针对所述完整图像识别出具有不良品标记的矩阵排列芯片。因此，所述移动装置仅需要带动所述基板至光照条件理想区域以使所述摄像头采集各芯片图像，无需移动所述基板以使摄像头逐一对准需识别的芯片。本申请可以高效的实现矩阵排列芯片的不良品标记识别，且降低了检测成本，操作流程简单。当然，实施本申请实施例的任一技术方案必不一定需要同时达到以上的所有优点。为了使本领域的人员更好地理解本申请实施例中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请实施例中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其它实施例，都应当属于本申请实施例保护的范围。下面结合本申请实施例附图进一步说明本申请实施例具体实现。在示例性实施例的以下描述，参考由其所附的附图，其中通过图解方式示出的特定实施例可被实践。它要理解的是，其它实施例可以使用和结构的改变可以由不脱离各种实施例的范围。参见图1，本申请提供一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置，包括：带动所述矩阵排列芯片的基板进行移动的移动装置11，以及对所述基板上的各芯片进行图像采集的摄像头12。所述移动装置11令所述基板2上的各芯片移动至光照条件理想区域，所述摄像头12采集所述光照条件理想区域的各芯片图像，并将采集的各芯片图像拼接为所述基板的完整图像，针对所述完整图像识别出具有不良品标记的矩阵排列芯片。因此，所述移动装置11仅需要带动所述基板2至光照条件理想区域以使所述摄像头12采集各芯片图像，无需移动所述基板2以使摄像头12逐一对准需识别的芯片。本申请可以高效的实现矩阵排列芯片的不良品标记识别，且降低了检测成本，操作流程简单。在本申请一具体实现中，由于条状基板的常规尺寸为7.6*24cm，条状基板上的芯片面积仅为基板面积的1/100或者更小，因此为了所述基板的完整图像中各芯片都能清晰可见，所述摄像头12采用500万像素分辨率的摄像机。具体地，为减小所述摄像头12采集图像的桶形畸变，对所述摄像头12进行标定，所述基板与所述摄像头的镜头距离为20cm～25cm，所述摄像头的镜头采用6mm～12mm焦距的广角镜头。在本申请另一具体实现中，参见图2，由于所述基板表面光滑，易产生镜面反射。为避免镜面反射影响所述摄像头12进行图像采集，本申请实施例在基板两侧布置光源，保证左右亮度均匀。本申请实施例所述光源布置采用斜侧光方式布置。从而在基板表面仅产生漫反射光线，漫反射光线较弱，对所述摄像头12进行图像采集的影响较小。具体地，由于本申请实施例基板边长较长，所述光源采用250*20mm的条形光源。在本申请再一具体实现中，所述条状基板长度一般为24cm，基板两端受光较弱，为保证每颗芯片光照均匀，参见图3，所述光照条件理想区域为：所述矩阵排列芯片的灰度平均值的最大值和最小值之差不大于20的区域。具体地，所述光照条件理想区域为：距离所述光源60mm～200mm的区间区域。对应上述装置，本申请还提供一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别方法，参见图4，所述方法包括：S1、令移动装置将基板上的各芯片移动至光照条件理想区域。所述条状基板长度一般为24cm，基板两端受光较弱，为保证每颗芯片光照均匀，参见图3，所述光照条件理想区域为：所述矩阵排列芯片的灰度平均值的最大值和最小值之差不大于20的区域。具体地，所述光照条件理想区域为：距离所述光源60mm～200mm的区间区域。S2、通过所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置，包括：带动所述矩阵排列芯片的基板进行移动的移动装置，以及对所述基板上的各芯片进行图像采集的摄像头，其特征在于，所述移动装置令所述基板上的各芯片移动至光照条件理想区域，所述摄像头采集所述光照条件理想区域的各芯片图像，并将采集的各芯片图像拼接为所述基板的完整图像，针对所述完整图像识别出具有不良品标记的矩阵排列芯片。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置，包括：带动所述矩阵排列芯片的基板进行移动的移动装置，以及对所述基板上的各芯片进行图像采集的摄像头，其特征在于，所述移动装置令所述基板上的各芯片移动至光照条件理想区域，所述摄像头采集所述光照条件理想区域的各芯片图像，并将采集的各芯片图像拼接为所述基板的完整图像，针对所述完整图像识别出具有不良品标记的矩阵排列芯片。2.根据权利要求1所述的识别装置，其特征在于，所述摄像头采用500万像素分辨率的摄像机。3.根据权利要求2所述的识别装置，其特征在于，所述基板与所述摄像头的镜头距离为20cm～25cm。4.根据权利要求3所述的识别装置，其特征在于，所述摄像头的镜头采用6mm～12mm焦距的广角镜头。5.根据权利要求1所述的识别装置，其特征在于，所述基板的两侧均布置光源。6.根据权利要求5所述的识别装置，其特征在于，所述光源布置采用斜侧光方式布置。7.根据权利要求6所述的识别装置，其特征在于，所述光源采用250mm*20mm的条形光源。8.根据权利要求1所述的识别装置，其特征在于，所述光照条件理想区域为：所述矩阵排列芯片的灰度平均值的最大值和最小值之差不大于20的区域。9.根据权利要求8所述的识别装置，其特征在于，所述光照条...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵余成，张伟宏，谭巧灵，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44