一种在高低温环境下的MLCC电容器ESR测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电子元器件测试装置技术领域，具体涉及一种在高低温环境下的MLCC电容器ESR测试装置，包括试验板A和试验板B，在试验板A和试验板B上均焊有待测试电容；试验板A放置在高低温测试箱内部进行高低温测试，试验板B位于高低温试验箱外部；试验板A和试验板B与纹波电流试验台连接；试验板B上的待测试电容表面粘接有热电偶。通过电容器温升的放大作用来表现ESR的微小变化，其结构简单，操作便捷，测试效果好。

【技术实现步骤摘要】
一种在高低温环境下的MLCC电容器ESR测试装置
本技术涉及电子元器件测试装置
，具体涉及一种在高低温环境下的MLCC电容器ESR测试装置。
技术介绍
片式多层瓷介电容器(MLCC)是一种常见的被动元器件，具有体积小、容量大、耐湿热性能好、性价比高等特点。目前已经广泛应用于计算机、各种电子设备、航空航天等领域，成为电子设备中不可缺少的零部件。但是，由于目前产品制作加工工艺的限制，MLCC电容器在实际应用中并不是理想电容器。根据其使用频率的不同，会伴随有寄生参数，诸如容抗、感抗、等效串联电阻(ESR)等，其中容抗和感抗部分不产生功耗，而ESR参数会产生功耗，直接造成电容器的温度升高。所以，通过测试电容器的温升变化，可以间接研究其ESR的变化，为我们在电容器的实际应用中提供参考。在实际应用中，有时我们仅需要了解MLCC电容器在高低温环境下(例如-55℃～125℃)的ESR变化规律，而具体的ESR值无关紧要。这种情况下，我们通常采用的方法是将试验电容放入高低温试验箱中，然后通过线缆导出至箱外连接测试设备进行测试。由于MLCC电容器ESR极小(mΩ级)，加上从箱中引出的较长电缆造成的较本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在高低温环境下的MLCC电容器ESR测试装置，其特征在于，包括：试验板A和试验板B，在所述试验板A和所述试验板B上均焊有待测试电容；所述试验板A放置在高低温测试箱内部进行高低温测试，所述试验板B位于所述高低温试验箱外部；所述试验板A和所述试验板B与纹波电流试验台连接；所述试验板B上的待测试电容表面粘接有热电偶。

【技术特征摘要】
1.一种在高低温环境下的MLCC电容器ESR测试装置，其特征在于，包括：试验板A和试验板B，在所述试验板A和所述试验板B上均焊有待测试电容；所述试验板A放置在高低温测试箱内部进行高低温测试，所述试验板B位于所述高低温试验箱外部；所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓龙，李凯，吴胜琴，
申请(专利权)人：北京元六鸿远电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11