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本实用新型涉及电子元器件测试装置技术领域,具体涉及一种在高低温环境下的MLCC电容器ESR测试装置,包括试验板A和试验板B,在试验板A和试验板B上均焊有待测试电容;试验板A放置在高低温测试箱内部进行高低温测试,试验板B位于高低温试验箱外部;...该专利属于北京元六鸿远电子科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京元六鸿远电子科技股份有限公司授权不得商用。
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本实用新型涉及电子元器件测试装置技术领域,具体涉及一种在高低温环境下的MLCC电容器ESR测试装置,包括试验板A和试验板B,在试验板A和试验板B上均焊有待测试电容;试验板A放置在高低温测试箱内部进行高低温测试,试验板B位于高低温试验箱外部;...