电子元器件的测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种电子元器件的测试方法及系统，旨在克服普通ASA曲线测试在“零电压点”附近故障分辨率的不足问题。所述方法包括：利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障；克服了普通ASA曲线测试在“零电压点”附近故障分辨率的不足问题，提高了ASA曲线测试的故障检出率；进一步地，本发明专利技术电子元器件的测试方法还引入了小信号曲线测试，具有判断所测试的参数值是否准确的有益效果，进一步提高了ASA曲线测试的故障检出率，节约了测试资源。

Method and system for testing electronic components

The invention discloses a testing method and a system of an electronic component, in order to overcome the insufficiency of the resolution of the common ASA curve in the vicinity of the zero voltage point. The method includes: using ASA resistance curve method test circuit node values, ASA curve of the circuit node; in the ASA curves on the testing parameters of zero voltage preset the circuit node within the range of values of the corresponding zero test value according to the test value; the zero judgment electronic components of the circuit node corresponding to the fault; to overcome the common ASA curve test in the problem of near zero voltage point fault resolution, improve fault detection rate of ASA curve test; further, the testing method of the invention of electronic components is introduced into small signal curve test, test the value judgment parameters has beneficial effect is accurate, to further improve the fault detection rate of the ASA curve test, save test resources.

【技术实现步骤摘要】
电子元器件的测试方法及系统
本专利技术涉及测试
，特别涉及一种电子元器件的测试方法及系统。
技术介绍
目前，在无图纸电路板的故障检测中，采用电阻比对法即：利用万用表对照好、坏电路板相应器件管脚(即电路结点)的电阻值，根据电阻值的差异大小来判断故障，是最常用的测试方法。从静态角度看，ASA(AnalogSignatureAnalysis，模拟特征分析)曲线测试是这种方法的直接推广。通常意义上，进行ASA曲线测试，是利用好、坏电路板相应结点的ASA曲线的重合程度来达到检测故障的目的。由于ASA曲线两边近似垂直的部分，基本上呈现了PN结的导通特征。这是由于PN结导通后电阻很小，“淹没”了结点上的电阻值R、电容值C或者电感值L对这部分曲线的贡献；由于PN结处于截止状态的区域很小，因此即使结点上的电阻值R、电容值C或者电感值L这些参数有了较大的变化，但整个曲线仅变化一点点，而曲线的这一点点变化很容易被忽略过去。换句话说，ASA曲线在零点附近对RCL的故障分辨率不够高。目前，业内有采用进一步增加ASA曲线分辨率的方式来提高ASA曲线测试的检测能力。但这种方法并不可靠，因为在同一个显示区域内本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元器件的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障。

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障。2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：对所述电路结点进行小信号曲线测试，得到对应的小信号曲线，结合测试得到的小信号曲线，判断所述电路结点对应的所述零点测试值是否正确。3.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述结合测试得到的小信号曲线，判断所述电路结点对应的所述零点测试值是否正确，包括：若测试得到的小信号曲线为预设RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值的测试值为准确值，即判断所述电路结点对应的所述零点测试值正确；若测试得到的小信号曲线不是预设RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值的测试受到外电路干扰，即判断所述电路结点对应的所述零点测试值不正确。4.如权利要求1或2或3所述的测试方法，其特征在于，所述测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，包括：识别所述零电压预设范围内的电路结点所对应的待测参数的参数类型，根据识别出的所述参数类型，选取与所述参数类型相匹配的测试档位进行测试，得到所述电路结点对应的参数值。5.如权利要求1或2或3所述的测试方法，其特征在于，所述得到的零点测试值通过数字直接显示在所述ASA曲线上。6.一...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵敏，韩熔，
申请(专利权)人：邵敏，韩熔，
类型：发明
国别省市：河北,13