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本发明公开了一种电子元器件的测试方法及系统，旨在克服普通ASA曲线测试在“零电压点”附近故障分辨率的不足问题。所述方法包括：利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设...
该专利属于邵敏;韩熔所有，仅供学习研究参考，未经过邵敏;韩熔授权不得商用。

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