传感器测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种传感器测试方法，该方法包括：获取正常工作的门限传感器，并从所述正常工作的门限传感器中选择满足测试条件的门限传感器，作为目标传感器；设置所述目标传感器的待测试门限类型，并获取所述目标传感器的默认门限值；根据所述目标传感器的待测试门限类型及所述目标传感器的默认门限值中的最大值和最小值，对所述目标传感器的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的新门限值；根据所述目标传感器的新门限值对所述目标传感器进行测试，生成测试结果。本发明专利技术还公开了一种传感器测试装置。采用本发明专利技术，可提高测试效率。

Sensor testing method and device

The invention discloses a method of testing, the method includes: the threshold sensor to obtain the normal work, and the selection of threshold sensors to meet the test conditions from the normal work of the threshold sensor, as the target sensor; set the target to test the threshold sensor type, and gets the default threshold of the target sensor according to the default threshold value; the maximum value of the target sensor to test threshold type and the target value of the sensor and the minimum value of the default threshold, the target value of the sensor is modified, the new threshold setting the target value of the sensor; according to the new threshold of the target value of the sensor to test the target sensor generates test results. The invention also discloses a sensor test device. The test efficiency can be improved by adopting the invention.

【技术实现步骤摘要】
传感器测试方法及装置
本专利技术涉及测试方法及装置，尤其涉及一种传感器测试方法及装置。
技术介绍
随着计算机技术的快速普及，人们对服务器系统的要求也越来越高。为了顺应市场的需求，业界的一些厂商推出了智能平台管理接口(IntelligentPlatformManagementInterface，IPMI)。IPMI是使硬件管理具备智能化的新一代通用接口标准，用户可以利用IPMI监视服务器的物理健康特征，如温度、电压、风扇工作状态、电源供应以及机箱入侵等，为系统管理、恢复以及资产管理提供信息。在IPMI管理平台中，基板管理控制器(BaseboardManagementController，BMC)是其核心控制器。集成在服务器上的传感器用于对服务器主板的重要部件进行实时监控，按照实际的需求可以分为门限传感器以及程序设置的传感器，相对独立于服务器运行系统的基板管理控制器通过读取传感器实时提供的信息来了解系统的运行状况。门限传感器包括电压传感器、温度传感器以及风扇传感器等，即适用于voltage(电压)，temperature(温度)，Fan(风扇)类型的传感器。关于门限传感器的门限类型分为六种，分别为：低致命门限(Lowernon-recoverable，LNR)，低严重门限(Lowercritical，LCR)，低轻微门限(Lowernon-critical，LNC)，高轻微门限(Uppernon-Critical，UNC)，高严重门限(uppercritical，UC)，高致命门限(Uppernon-recoverable，UNR)。传统上，当制造商在生产具有上述IPMI的服务器之后都会对其中所配置的门限传感器进行告警模拟测试，具体的，是通过修改门限传感器的门限值进行测试。各个门限传感器的门限值遵照IPMI规范计算获得。IPMI规范中定义了传感器门限的计算公式：y＝L[(M*x+(B*10K1))*10K2]units，其中：y为转换后的值(即对外部用户呈现的值)；L为转化函数，M为指定的整数，x为读到的门限值的裸数据(IPMI协议对读取裸数据的要求为可选)，x由门限传感器决定，B为指定偏移值，K1为B的指数，K2为进行L转化前结果的指数，以上除x同一个传感器，不同门限对应的值不一样，其他值同一个传感器不同门限之间取值相同。在SDR(SensorDataRecord，传感器数据记录)文件中定义M、B、K1、K2。对于同一个门限传感器，在计算各个门限类型的门限值时，M、B、K1、K2取值相同，x取值不同。对于不同门限传感器，在计算各个门限类型的门限值时，M、B、K1、K2、X取值可能都不相同。由于在服务器项目中采用的L为线性函数，因而公式y＝L[(M*x+(B*10K1))*10K2]units可以简化为：y＝(M*x+(B*10K1))*10K2units；在修改门限传感器的门限值时，需要从SDR文件中获取M、x、B、K1、K2，计算出符合要求的新的门限值，对门限传感器的默认门限值进行修改。但是，采用上述方式，具有如下缺陷：SDR文件为十六进制文件，不便于阅读和脚本分析，且通过上述公式计算新的门限值时，计算复杂费时。上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种传感器测试方法及装置，旨在解决现有技术中，需要通过读取SDR文件以修改门限值对门限传感器进行测试，导致测试效率低的技术问题。为实现上述目的，本专利技术提供一种传感器测试方法，应用于包括至少一个门限传感器的服务器中测试该门限传感器，该方法包括：获取正常工作的门限传感器，并从所述正常工作的门限传感器中选择满足测试条件的门限传感器，作为目标传感器；设置所述目标传感器的待测试门限类型，并获取所述目标传感器的默认门限值；根据所述目标传感器的待测试门限类型及所述目标传感器的默认门限值中的最大值和最小值，对所述目标传感器的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的新门限值；根据所述目标传感器的新门限值对所述目标传感器进行测试，生成测试结果。优选地，所述根据所述目标传感器的待测试门限类型及所述目标传感器的默认门限值的最大值和最小值，对所述目标传感器的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的新门限值的步骤包括：将所述目标传感器的默认门限值中的最大值与最小值作差，得到第一差值；根据所述目标传感器的待测试门限类型，确定告警类型；若所述告警类型为高告警类型，则根据所述第一差值对所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型对应的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型的新门限值；若所述告警类型为低告警类型，则根据所述第一差值对所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型高级别的门限类型对应的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型高级别的门限类型的新门限值。优选地，所述根据所述第一差值对所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型对应的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型的新门限值的步骤为：将所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型对应的默认门限值分别与所述第一差值作差，得到所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型的新门限值；根据所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型的新门限值，按照门限类型从低到高的顺序依次设置所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型的新门限值。优选地，所述获取正常工作的门限传感器，并从所述正常工作的门限传感器中选择满足测试条件的门限传感器，作为目标传感器的步骤包括：获取正常工作的门限传感器，并从所述正常工作的门限传感器中选择一个门限传感器，作为待评估传感器；将所述待评估门限传感器的默认门限值中的最大值与最小值作差，得到第二差值；将所述待评估门限传感器的默认门限值中的最小值与所述第二差值作差，得到第三差值；判断所述第三差值是否大于零；若所述第三差值大于零，则将所述待评估门限传感器作为目标传感器。优选地，在所述根据所述目标传感器的新门限值对所述目标传感器进行测试，生成测试结果的步骤之后，该方法还包括：测试完成后，恢复所述目标传感器的默认门限值。此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种传感器测试装置，应用于包括至少一个门限传感器的服务器中测试该门限传感器，该装置包括：获取模块，用于获取正常工作的门限传感器，并从所述正常工作的门限传感器中选择满足测试条件的门限传感器，作为目标传感器；第一设置模块，用于设置所述目标传感器的待测试门限类型，并获取所述目标传感器的默认门限值；第二设置模块，用于根据所述目标传感器的待测试门限类型及所述目标传感器的默认门限值中的最大值和最小值，对所述目标传感器的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的新门限值；生成模块，用于根据所述目标传感器的新门限值对所述目标传感器进行测试，生成测试结果。优选地，所述第二设置模块包括：第一计算单元，用于将所述目标本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种传感器测试方法，应用于包括至少一个门限传感器的服务器中测试该门限传感器，其特征在于，该方法包括：获取正常工作的门限传感器，并从所述正常工作的门限传感器中选择满足测试条件的门限传感器，作为目标传感器；设置所述目标传感器的待测试门限类型，并获取所述目标传感器的默认门限值；根据所述目标传感器的待测试门限类型及所述目标传感器的默认门限值中的最大值和最小值，对所述目标传感器的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的新门限值；根据所述目标传感器的新门限值对所述目标传感器进行测试，生成测试结果。

【技术特征摘要】
1.一种传感器测试方法，应用于包括至少一个门限传感器的服务器中测试该门限传感器，其特征在于，该方法包括：获取正常工作的门限传感器，并从所述正常工作的门限传感器中选择满足测试条件的门限传感器，作为目标传感器；设置所述目标传感器的待测试门限类型，并获取所述目标传感器的默认门限值；根据所述目标传感器的待测试门限类型及所述目标传感器的默认门限值中的最大值和最小值，对所述目标传感器的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的新门限值；根据所述目标传感器的新门限值对所述目标传感器进行测试，生成测试结果。2.如权利要求1所述的传感器测试方法，其特征在于，所述根据所述目标传感器的待测试门限类型及所述目标传感器的默认门限值的最大值和最小值，对所述目标传感器的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的新门限值的步骤包括：将所述目标传感器的默认门限值中的最大值与最小值作差，得到第一差值；根据所述目标传感器的待测试门限类型，确定告警类型；若所述告警类型为高告警类型，则根据所述第一差值对所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型对应的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型的新门限值；若所述告警类型为低告警类型，则根据所述第一差值对所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型高级别的门限类型对应的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型高级别的门限类型的新门限值。3.如权利要求2所述的传感器测试方法，其特征在于，所述根据所述第一差值对所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型对应的默认门限值进行修改，设置所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型的新门限值的步骤为：将所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型对应的默认门限值分别与所述第一差值作差，得到所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型的新门限值；根据所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型的新门限值，按照门限类型从低到高的顺序依次设置所述目标传感器的待测试门限类型及比所述待测试门限类型低级别的门限类型的新门限值。4.如权利要求1至3任一项所述传感器测试方法，其特征在于，所述获取正常工作的门限传感器，并从所述正常工作的门限传感器中选择满足测试条件的门限传感器，作为目标传感器的步骤包括：获取正常工作的门限传感器，并从所述正常工作的门限传感器中选择一个门限传感器，作为待评估传感器；将所述待评估门限传感器的默认门限值中的最大值与最小值作差，得到第二差值；将所述待评估门限传感器的默认门限值中的最小值与所述第二差值作差，得到第三差值；判断所述第三差值是否大于零；若所述第三差值大于零，则将所述待评估门限传感器作为目标传感器。5.如权利要求1至3任一项所述的传感器测试方法，其特征在于，在所述根据所述目...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜晓玲，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44