Ga2O3肖特基二极管器件结构及其制作方法技术

本发明专利技术公开了一种Ga2O3肖特基二极管器件结构与制造方法，主要解决现有肖特基二极管器件反向击穿电压低和场板结构存在的寄生电容大的问题。其自下而上，包括阴极电极、高掺杂n型Ga2O3衬底、低掺杂n型Ga2O3外延层、阳极电极；阳极与外延层接触的部分形成肖特基接触，阴极与衬底形成欧姆接触，低掺杂n型Ga2O3外延层上间隔分布有多个凹槽，凹槽的间距在0.3μm～0.5μm范围内依次增加，且第一个凹槽位于阳极边缘的正下方，最后一个凹槽与第一个凹槽的距离为10μm～15μm，凹槽内部外延生长有Al组分大于20％的AlGaO层。本发明专利技术提高了反向击穿电压，减小寄生电容，且保持正向特性不变，可用于高速集成电路和微波技术。

Ga

The invention discloses a Ga

【技术实现步骤摘要】
Ga2O3肖特基二极管器件结构及其制作方法
本专利技术属于微电子
，具体涉及一种肖特基二极管，用于高速集成电路和微波技术。
技术介绍
肖特基二极管是通过金属与半导体之间的接触形成肖特基势垒这一原理制造的，肖特基势垒起到整流的作用。与pn结二极管相比，肖特基二极管具有开启电压更低，开关速度更快的优势，因此广泛应用于高速集成电路、微波技术等领域。但是，由于肖特基二极管的电场主要集中在肖特基接触的边缘区域，当该区域的电场达到材料的击穿场强时，器件容易在该区域发生击穿，而其余区域的电场小于材料的击穿场强。因此，为了提高肖特基二极管的击穿电压，就必须减小肖特基接触边缘区域的电场。目前提高肖特基二极管击穿电压的方法主要包括添加场板结构等。场板结构是在肖特基接触的金属周围，淀积一层SiO2，再在SiO2层上淀积一部分场板金属，使之与中间部分的金属连接起来。这层SiO2能够使得二极管反偏时集中于易被击穿区域处的部分电力线从半导体表面出发终止于多晶硅和金属场板，从而有效降低肖特基金属边缘与半导体材料接触区域的电场。但由于场板结构引入了介质层，势必会引起寄生效应的增强，导致寄生电容增大。
技术实现思路
本专利技术针对上述已有技术的不足，提出一种Ga2O3肖特基二极管器件结构及其制作方法，以在提高反向击穿电压的同时避免寄生效应的产生，减小寄生电容。一.技术原理Ga2O3作为一种氧化物半导体材料，有着广阔的应用前景。Ga2O3半导体材料禁带宽度大，约为4.8eV～4.9eV，它属于单斜晶体，外延薄膜的晶格结构完善、均匀，具有优良的光学性能以及稳定的理化性质，是高性能功率器件研制的理想材料，因此在大功率电子器件领域具有一定的应用前景。近年来国内外研究者对其进行了广泛而深入的研究，并取得了卓有成效的研究成果。本专利技术以Ga2O3为材料制作肖特基二极管，提升器件的大功率性能。此外，本专利技术的器件在n-型的Ga2O3层表面刻蚀多个间隔分布的凹槽，并在凹槽内部进行AlGaO的生长，使得反偏时耗尽区增大，峰值电场减小，并且能避免寄生效应。二.技术方案根据上述原理，本专利技术Ga2O3肖特基二极管器件结构，自下而上包括高掺杂n型Ga2O3衬底和低掺杂n型Ga2O3外延层，该外延层上淀积有阳极电极，高掺杂衬底的下表面淀积有阴极电极，阳极与外延层接触的部分形成肖特基接触，阴极与衬底形成欧姆接触，其特征在于：所述低掺杂n型Ga2O3外延层上的肖特基接触区域两侧分别设有M个凹槽，M≥4，凹槽的间距在0.3μm～0.5μm范围内依次增加，且第一个凹槽位于阳极边缘的正下方，第M个凹槽与第一个凹槽的距离为10μm～15μm，凹槽内生长有Al组分大于20％的AlGaO。作为优选，所述高掺杂n型Ga2O3衬底的电子浓度为1017cm-3～1018cm-3，厚度大于1μm；所述低掺杂n型Ga2O3外延层的载流子浓度为1014cm-3～1016cm-3，厚度大于1μm。作为优选，所述阳极电极包括Pt、Ni、Au、Pd、Mo、W和TaN中的一种或多种；所述阴极电极包括Ti、Al、In、Au中的一种或多种。作为优选，所述每个凹槽的深度为30nm～50nm，宽度为2μm～3μm。根据上述原理，本专利技术制作Ga2O3肖特基二极管器件的方法，包括如下步骤：1)对已在衬底上外延生长了Ga2O3的样品进行有机清洗，然后放入HF:H2O＝1:1的溶液中进行腐蚀30s～60s，最后用流动的去离子水清洗并用高纯氮气吹干；2)将清洗好的样品正面朝下放入ICP刻蚀反应室中进行刻蚀；3)将刻蚀后的样品正面朝下放入电子束蒸发台中蒸发金属Ti/Au，其中金属Ti厚度为20nm～50nm，金属Au厚度为100nm～200nm，最后在氮气环境中进行550℃，60s的快速热退火，形成阴极欧姆接触电极；4)将制备好欧姆接触的样品放入PECVD设备中淀积50nm～60nm厚的SiO2膜；5)对淀积了SiO2膜的样品正面进行光刻，形成凹槽刻蚀区，然后放入BOE溶液中腐蚀1min～1.5min，去除凹槽刻蚀区的SiO2；6)将去除刻蚀区SiO2的样品放入ICP刻蚀反应室中，刻蚀掉凹槽刻蚀区下方的Ga2O3，在外延层上的肖特基接触区域两侧分别形成M个凹槽，M≥4，凹槽的间距在0.3μm～0.5μm范围内依次增加，且第一个凹槽位于阳极边缘的正下方，第M个凹槽与第一个凹槽的距离为10μm～15μm，每个凹槽的深度为30nm～50nm，宽度为2μm～3μm；7)将刻蚀好的样品进行清洗，去除表面的光刻胶以及各种杂质，然后放入脉冲激光沉积反应室中，淀积Al组分大于20％的AlGaO，淀积的厚度与凹槽深度一致；8)将淀积完AlGaO的样品放入BOE溶液中，腐蚀3min～4min，去除剩余的SiO2掩膜和SiO2上面的AlGaO；9)对腐蚀后的样品进行光刻，形成阳极电极区域，再放入电子束蒸发台中蒸发Pt/Ti/Au并进行剥离，形成金属阳极电极，金属Pt的厚度为10nm～20nm，金属Ti的厚度为20nm～50nm，金属Au的厚度为100nm～200nm。本专利技术通过刻蚀凹槽并在里面生长AlGaO，在肖特基二极管反偏时，这些区域可以耐受比较高的电场强度，使其不易被击穿，提高了器件的击穿电压；同时由于该凹槽结构没有形成介质层，避免了寄生效应的产生；此外由于肖特基金属正下方的区域并没有进行AlGaO的生长，使得肖特基二极管在正向导通时，电流可以从这部分区域流经半导体材料，保持了二极管的正向特性。附图说明图1是本专利技术器件的剖面结构示意图；图2是本专利技术器件的制作流程示意图。具体实施方式以下参照附图对本专利技术作详细描述。参照图1，本专利技术的二极管器件，包括高掺杂n型Ga2O3衬底1、低掺杂n型Ga2O3外延层2、阴极电极3、凹槽及凹槽内部外延生长的AlGaO层4和阳极电极5。低掺杂n型Ga2O3外延层位于高掺杂n型Ga2O3衬底之上，衬底的载流子浓度为1017cm-3～1018cm-3，厚度大于1μm，外延层的载流子浓度为1014cm-3～1016cm-3，厚度大于1μm；阴极电极位于高掺杂n型Ga2O3外延层的下表面，其与衬底形成欧姆接触，该阴极电极所用金属包括Ti、Al、In、Au中的一种或多种；外延层上淀积有阳极电极，其与外延层接触的部分形成肖特基接触，该阳极电极所用金属包括Pt、Ni、Au、Pd、Mo、W和TaN中的一种或多种；该肖特基接触区域的两侧间隔分布有M个凹槽，M≥4，且第一个凹槽位于阳极边缘的正下方，第M个凹槽与第一个凹槽的距离为10μm～15μm，每个凹槽的深度为30nm～50nm，宽度为2μm～3μm，凹槽的间距在0.3μm～0.5μm范围内依次增加，例如，当凹槽的间距按0.3μm依次增加时，对于一个取M＝4的凹槽，其第一个凹槽与第二个凹槽间距为0.5μm，第二个凹槽与第三个凹槽间距为0.8μm，第三个凹槽与第四个凹槽间距为1.1μm；凹槽内生长有AlGaO，其厚度与凹槽的深度相同，该AlGaO中的Al组分大于20％。参照图2，本专利技术制作肖特基二极管的方法，给出如下三种实施例：实施例1，制作凹槽数M＝4，凹槽深度为30nm，宽度为2μm，凹槽间距按0.3μm依次增加的肖特基二极管。步骤1，清洗，如图2(a)。对已在衬本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种Ga

【技术特征摘要】
1.一种Ga2O3肖特基二极管器件结构，自下而上包括高掺杂n型Ga2O3衬底和低掺杂n型Ga2O3外延层，该外延层上淀积有阳极电极，高掺杂衬底的下表面淀积有阴极电极，阳极与外延层接触的部分形成肖特基接触，阴极与衬底形成欧姆接触，其特征在于：所述低掺杂n型Ga2O3外延层上的肖特基接触区域两侧分别设有M个凹槽，M≥4，凹槽的间距在0.3μm～0.5μm范围内依次增加，且第一个凹槽位于阳极边缘的正下方，第M个凹槽与第一个凹槽的距离为10μm～15μm，凹槽内生长有Al组分大于20％的AlGaO。2.根据权利要求书1所述的结构，其特征在于：高掺杂n型Ga2O3衬底的载流子浓度为1017cm-3～1018cm-3，厚度大于1μm；低掺杂n型Ga2O3外延层的载流子浓度为1014cm-3～1016cm-3，厚度大于1μm。3.根据权利要求书1所述的结构，其特征在于：阳极电极包括Pt、Ni、Au、Pd、Mo、W和TaN中的一种或多种；阴极电极包括Ti、Al、In、Au中的一种或多种。4.根据权利要求书1所述的结构，其特征在于：每个凹槽的深度为30nm～50nm，宽度为2μm～3μm。5.一种制作Ga2O3肖特基二极管器件的方法，包括如下步骤：1)对已在衬底上外延生长了Ga2O3的样品进行有机清洗，然后放入HF:H2O＝1:1的溶液中进行腐蚀30s～60s，最后用流动的去离子水清洗并用高纯氮气吹干；2)将清洗好的样品正面朝下放入ICP刻蚀反应室中进行刻蚀；3)将刻蚀后的样品正面朝下放入电子束蒸发台中蒸发金属Ti/Au，其中金属Ti厚度为20nm～50nm，金属Au厚度为100nm～200nm，最后在氮气环境中进行550℃，60s的快速热退火，形成阴极欧姆接触电极；4)将制备好欧姆接触的样品放入PECVD设备中淀积50nm～60nm厚的SiO2膜；5)对淀积了SiO2膜的样品正面进行光刻，形成凹槽刻蚀区，然后放入BOE溶液中腐蚀1min～1.5min，去除凹槽刻蚀区的SiO2；6)将去除刻蚀区S...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯倩，邢翔宇，韩根全，李翔，方立伟，黄璐，张进成，郝跃，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：陕西,61