一种电池测试设备采样速率的验证方法技术

本发明专利技术公开了一种电池测试设备采样速率的验证方法，包括以下步骤：S01：获取待测电池测试设备的标定采样时间t

【技术实现步骤摘要】
一种电池测试设备采样速率的验证方法
本专利技术涉及仪器设备领域，特别是涉及一种电池测试设备采样速率的验证方法。
技术介绍
电动汽车的发展促进锂电行业的繁荣，现阶段对锂电池的研究逐渐深入，锂离子电池内阻的测试成为热门研究对象。锂电池的极化内阻在很短的时间内对电池内阻就会产生影响，要研究锂电池欧姆内阻需要在极短的时间内测的准确的电压数据，现在市场上的大部分电池测试设备不能满足采样速率的要求，而一些厂商为了追求更高的利润，声称所售设备可以做到毫秒(ms)级别的高速采样，实际却是在软件中把数据进行处理后按照高速采样进行显示，一般电池测试用户没有专用设备或好的方法进行验证。在现有技术中，一般有两种方法验证电池测试设备采样速率是否达到要求的方法：1、单脉冲测试法，不能精确的确定采样速率的范围，实际操作中对信号的参数设定有困难。在此方法测试过程中，开启测试设备保持数据采集工况，给电池测试端子发送一个固定时长的脉冲，查看设备是否能采集到所发出的脉冲信号。在实际使用过程中，很难灵活的发送单个脉冲信号，对与单个脉冲信号的时长对测试结果有很大的影响，测试不能够精确判定仪器的采用速率的范围，只能通过是否采集到数据来说明设定的采样速率是否达到要求。2、示波器触发采集信号法，数据处理不方便，数据结果的说服力不强。该方法是在实际电芯测试过程中，需要示波器和采集设备同时开启，用大电流对电芯进行充放电，在很短的时间内，对比示波器和电池测试设备采集的数据是否一致。实际使用过程中，示波器探头和电芯的连接以及示波器采集到的数据和仪器显示的数据对比困难，需要把两者数据导出然后进行分析，在实际应用中效果不理想，对实际电池测试设备采样速率的判断无法提供有力证据。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种电池测试设备采样速率的验证方法。本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：一种电池测试设备采样速率的验证方法，包括以下步骤：S01：获取待测电池测试设备的标定采样时间t0，待测电池测试设备实际采样时间记为T0；S02：设定标准型方波函数，设定标准型方波函数的周期T、占空比D、最高值Vh和最低值Vl，其中T＝n*t0，n*D为正整数；S03：向所述待测电池测试设备输入所述标准型方波函数，进行数据采集；S04：分析采集到的数据，若在一个周期内采集到n*D个最高值Vh、n*(1-D)个最低值Vl，则所述待测电池测试设备的实际采样时间T0不大于标定的采样时间t0；否则所述待测电池测试设备的实际采样时间T0大于所述标定的采样时间t0。在其中一个实施例中，在步骤S02中，所述最高值Vh和所述最低值Vl可以在所述待测电池测试设备中识别到。在其中一个实施例中，在所述步骤S02中，所述n为10的倍数。在其中一个实施例中，所述标定采样时间t0为所述待测电池测试设备的出厂设定值。在其中一个实施例中，在所述步骤S03中，向所述待测电池测试设备输入m个周期时间长度的所述标准型方波函数。在其中一个实施例中，所述m取值>＝1，为整数。在其中一个实施例中，所述m为10的倍数。本次技术方案相比于现有技术有以下有益效果：1.节约成本，用函数信号发生器代替高端示波器，完成对待测电池测试设备信号采样速率的验证。2.操作简单，准确性高，设定好输入信号后，只需要判断最高值Vh和所述最低值Vl的数量就可准确判断出待测电池测试设备设定的采样速率是否达到出厂设定值。3.适用范围广，适用于不同等级采集速率的电池测量设备。附图说明图1为本实施例中的电池测试设备采样速率的验证方法流程图。图2为本实施例中的波形示意图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施方式。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本专利技术的公开内容理解的更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。如图1所示为电池测试设备采样速率的验证方法的流程图，包括以下步骤：S01：获取待测电池测试设备的标定采样时间t0，待测电池测试设备实际采样时间记为T0；S02：设定标准型方波函数，设定标准型方波函数的周期T、占空比D、最高值Vh和最低值Vl，其中T＝n*t0，n*D为正整数；S03：向所述待测电池测试设备输入所述标准型方波函数，进行数据采集；S04：分析采集到的数据，若在一个周期内采集到n*D个最高值Vh、n*(1-D)个最低值Vl，则所述待测电池测试设备的实际采样时间T0不大于标定的采样时间t0；否则所述待测电池测试设备的实际采样时间T0大于所述标定的采样时间t0。进一步地，在步骤S02中，最高值Vh和最低值Vl可以在待测电池测试设备中识别到。进一步地，在步骤S02中，n为10的倍数。进一步地，所述标定采样时间t0为待测电池测试设备的出厂设定值。进一步地，在步骤S03中，向待测电池测试设备输入标准型方波函数，数量为m个。进一步地，m取值>＝1，为整数。进一步地，m为10的倍数。下面结合一个具体的例子对电池测试设备采样速率的验证方法进行详细说明，实施例一：请结合参照图2，假设刚出厂的待测电池测试设备的标定的采样时间t0＝1ms，即图2中的曲线1，设定标准型方波函数，即图2中的曲线2，需要说明的是，在本实施例中，n＝10，取占空比D＝80％，最高值Vh和最低值Vl都在待测电池测试设备的可识别的范围内，则标准型方波函数的周期T＝n*t0＝10*1＝10ms。向待测电池测试设备输入标准型方波函数，需要说明的是，在本实施例中，输入一个标准型方波函数，若在周期T＝10ms内，采集到n*D＝10*0.8＝8个最高值Vh和n*(1-D)＝10*0.2＝2个最低值Vl，即图2中曲线3标示的星点，则证明待测电池测试设备的实际采样时间T0不大于标定的采样时间t0。还需要说明的是，作为进一步的优选方案，可以向待测电池测试设备m个标准型方波函数，其中m>＝1，为整数，假设输入100个标准方波函数，从中随机任意抽取3个标准型方波信号，若在这随机任意抽取的3个的每一个标准型方波信号中都可以准确的采集到正确数量的最高值Vh和最低值Vl，则证明待测电池测试设备的采样时间达到要求；若这随机抽取的3个的每一个标准型方波函数中有其中一个不可以准确的采集到正确数量的最高值Vh和最低值Vl，则重新进行测试，标准型方波函数的参数不变，还是输入100个，再次随机任意抽取3个标准型方波信号，若在这随机任意抽取的3个的每一个标准型方波信号中都可以准确的采集到正确数量的最高值Vh和最低值Vl，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电池测试设备采样速率的验证方法，其特征在于，包括以下步骤：S01：获取待测电池测试设备的标定采样时间t

【技术特征摘要】
1.一种电池测试设备采样速率的验证方法，其特征在于，包括以下步骤：S01：获取待测电池测试设备的标定采样时间t0，待测电池测试设备实际采样时间记为T0；S02：设定标准型方波函数，设定标准型方波函数的周期T、占空比D、最高值Vh和最低值Vl，其中T＝n*t0，n*D为正整数；S03：向所述待测电池测试设备输入所述标准型方波函数，以待测电池测试设备标定采样时间t0对应的采样频率进行数据采集；S04：分析采集到的数据，若在一个周期T内采集到n*D个最高值Vh、n*(1-D)个最低值Vl，则所述待测电池测试设备的实际采样时间T0不大于标定的采样时间t0；否则所述待测电池测试设备的实际采样时间T0大于所述标定的采样时间t0。2.根据权利要求1所述的电池测试设备采样速率的验...

【专利技术属性】
技术研发人员：何修志，
申请(专利权)人：惠州市蓝微新源技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44