【技术实现步骤摘要】
一种多功能半导体电学性质快速测试装置
本专利技术涉及半导体测试
,具体为一种多功能半导体电学性质快速测试装置。
技术介绍
在已有技术中,对于半导体器件的电学性能测试,我们需要得到器件的电压、流过器件的电流,对于发光器件还需要获取器件的发光强度信息。测试时,一般通过铁夹子将电压源或电流源的正负极和半导体器件的相应电极连接起来,从而给半导体器件提供电压或电流,使器件处于工作状态。通常为了保证测试过程中电压源或电流源和器件之间接触良好,需要将铁夹子设计得很尖很硬,这样夹在器件两端就很有可能将电极夹坏;如果待测半导体器件为发光器件,还需要一台额外的光谱仪通过探头对焦后测量发光器件的光强,这样需要搭建一整套光学电学测试系统,操作繁琐且成本昂贵。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种多功能半导体电学性质快速测试装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种多功能半导体电学性质快速测试装置,包括测试盒本体,所述测试盒本体分为测试盒底座和测试盒上盖,所述测试盒底座和测试盒上盖活动连接,所述测试盒底座内设有多个卡槽,且所述卡槽内固定有帕尔贴片,所述卡槽的前端设有测试探针,且所述测试探针连接设置在测试探针下方的弹性伸缩组件。优选的,所述弹性伸缩组件包括滑动轴、滑动轴承、固定块、压缩弹簧、调节螺丝,所述滑动轴固定设置在探针一侧,所述滑动轴承设置在滑动轴上,所述固定块设置在滑动轴承两侧,所述压缩弹簧设置在滑动轴承上方,所述调节螺丝底端穿过压缩弹簧与滑动轴承顶端接触。优选的,所述测试探针、帕尔贴片分别连接PCB板,且测试探针分别并联连 ...
【技术保护点】
一种多功能半导体电学性质快速测试装置, 包括测试盒本体(1),其特征在于:所述测试盒本体(1)分为测试盒底座(2)和测试盒上盖(3),所述测试盒底座(2)和测试盒上盖(3)活动连接,所述测试盒底座(2)内设有多个卡槽(4),且所述卡槽(4)内固定有帕尔贴片(5),所述卡槽(4)的前端设有测试探针(6),且所述测试探针(6)连接设置在测试探针(6)下方的弹性伸缩组件(7)。
【技术特征摘要】
1.一种多功能半导体电学性质快速测试装置,包括测试盒本体(1),其特征在于:所述测试盒本体(1)分为测试盒底座(2)和测试盒上盖(3),所述测试盒底座(2)和测试盒上盖(3)活动连接,所述测试盒底座(2)内设有多个卡槽(4),且所述卡槽(4)内固定有帕尔贴片(5),所述卡槽(4)的前端设有测试探针(6),且所述测试探针(6)连接设置在测试探针(6)下方的弹性伸缩组件(7)。2.根据权利要求1所述的一种多功能半导体电学性质快速测试装置,其特征在于:所述弹性伸缩组件(7)包括滑动轴(8)、滑动轴承(9)、固定块(10)、压缩弹簧(11)、调节螺丝(12),所述滑动轴(8)固定设置在探针(6)一侧,所述滑动轴承(9)设置在滑动轴(8)上,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:张伟,张树霞,
申请(专利权)人:马鞍山纽盟知识产权管理服务有限公司,
类型:发明
国别省市:安徽,34
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