The present invention relates to an ultra wide band phase noise measurement system, which mainly solves the phase noise measurement system of low precision, big error, complicated structure, high cost, not easy to realize the ultra wideband and adaptive test problems. The system includes a modulation control module, optical modulation module is connected with the modulation control module, photoelectric detection module is connected with the optical modulation module, low pass filter is connected with the photoelectric detection module, which is connected with the low-pass filter of the computer. The invention adopts a design scheme based on a balanced photoelectric detector, and solves the problem better, and can be used for testing the phase noise of ultra wideband radio frequency microwave signals.
【技术实现步骤摘要】
一种超宽带相位噪声测试系统
本专利技术涉及测试系统领域,特别涉及到一种用于通信、遥控遥测、仪器仪表、航空航天装备、雷达成像,医疗仪器等领域的超宽带相位噪声测试系统。
技术介绍
目前,对微波信号源相位噪声的测量主要有用微波器件来实现的直接频谱仪法,差拍法,鉴频法和鉴相法。直接频谱仪法方法简单,但受频谱仪动态范围和最小分辨带宽的限制,该方法只适宜测量漂移较小、相位噪声相对较高的信号源。差拍法和鉴相法利用锁相方法把信号相互间的相位起伏转换为相应锁定电压的变化,再用一定的倍增因子提高测量的分辨率,但所述方法必须使用低噪声的合成频率作为标准频率,使得采用所述方法的系统设备复杂、造价高昂。鉴频法解决了大延迟的问题,但由于鉴频法采用普通电混频器,混频器的平坦度和频率响应对测量结果影响很大,且难以将普通电混频器的混频带宽扩大至40GHz以上,因此需要对高频微波信号源进行多次变频的方法来实现对其相位噪声的测量。因此,提供一种能够实现超宽带、高精度、构造简单合理的高频微波信号源相位噪声测试系统就很有必要。
技术实现思路
本专利技术针对现有微波信号源相位噪声测试系统测量精度低、系统构成复杂、成本过高、难以实现超宽带测量等问题,提出一种基于平衡光电探测器的超宽带相位噪声测量系统。为解决上述问题,本专利技术技术方案包括:提供一种超宽带相位噪声测试系统,所述系统包括调制控制模块,与调制控制模块相连接的光调制模块,与光调制模块相连接的光电探测模块,与光电探测模块相连接的低通滤波器204,与低通滤波器相连接的计算机205;所述调制控制模块控制光调制模块工作点始终处于线性调制范围内;所述光调制 ...
【技术保护点】
一种超宽带相位噪声测试系统,其特征在于:所述系统包括调制控制模块,与调制控制模块相连接的光调制模块,与光调制模块相连接的光电探测模块,与光电探测模块相连接的低通滤波器(204),与低通滤波器相连接的计算机(205);所述调制控制模块控制光调制模块工作点始终处于线性调制范围内;所述光调制模块将待测微波信号调制到光波上进而输出光载射频信号;所述光电探测模块将光调制模块输出的光载射频信号转化为带有待测微波信号相位噪声信息的直流信号。
【技术特征摘要】
1.一种超宽带相位噪声测试系统,其特征在于:所述系统包括调制控制模块,与调制控制模块相连接的光调制模块,与光调制模块相连接的光电探测模块,与光电探测模块相连接的低通滤波器(204),与低通滤波器相连接的计算机(205);所述调制控制模块控制光调制模块工作点始终处于线性调制范围内;所述光调制模块将待测微波信号调制到光波上进而输出光载射频信号;所述光电探测模块将光调制模块输出的光载射频信号转化为带有待测微波信号相位噪声信息的直流信号。2.根据权利要求1所述的一种超宽带相位噪声测试系统,其特征在于:所述调制控制模块包括调制驱动器(105),与调制驱动器相连接的第1光电探测器(103)和第2光电探测器(107)。3.根据权利要求1所述的一种超宽带相位噪声测试系统,其特征在于:所述光调制模块包括窄线宽分布式反馈激光器(101),与窄线宽分布式反馈激光器(101)相连接的保偏光纤耦合器(102),与保偏光纤耦合器(102)相连接的强度型光调制器(104),与强度型光调制器(104)相连接的第1单模光纤耦合器(108);所述强度型光调制器(104)的调制频率大于被测微波信号频率。4.根据权利要求3所述的一种超宽带相位噪声测试系统,...
【专利技术属性】
技术研发人员:不公告发明人,
申请(专利权)人:张家港市欧微自动化研发有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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