圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱及其使用方法技术

本发明专利技术公开了一种圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱及其使用方法，该样柱由第一圆锥体、第一圆柱体、第二圆锥体、第二圆柱体、第三圆柱体五段相接组成，第一圆锥体作为顶部，第三圆柱体作为底部，在第一圆锥体顶端在径向中心线两侧对称的向样柱的轴向开两个长凹槽，两个长凹槽开槽深度延伸至第二圆柱体的越程槽处；从样柱的底部延伸至样柱的第一圆柱体顶端处，开一圆柱形盲孔。在测量时，两个长凹槽分隔出的中间部分不会发生形变，能够确保样柱的测量精度。采用本发明专利技术的样柱测量圆柱滚子轴承实体保持架中心径，测得的数值精准，稳定，能够保证保持架产品的稳定性，提高产品质量。

【技术实现步骤摘要】
圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱及其使用方法
本专利技术涉及一种轴承实体保持架中心径测量量具，具体涉及圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱和使用方法。
技术介绍
圆柱滚子轴承实体保持架兜孔的测量方法是利用塞规去测量，塞规测量只能判断兜孔直径范围是否合格，而不能读它的实测值。在测保持架的回转中心时，保持架兜孔在中心径对称（双等分）或斜中心径（单等分）位置的兜孔中放入实体测量圆柱滚子，测量圆柱滚子直径等于保持架兜孔最小直径，在加工保持架兜孔时，保持架兜孔直径都加工成兜孔最大直径，保持架兜孔最大直径与保持架兜孔最小直径差在0.2mm~0.4mm之间，测量圆柱滚子与保持架兜孔直径存在一定的间隙。间隙的大小不一样，测量出的数值误差较大，导致测量出的保持架回转中心径不准确，与工艺设计尺寸偏差较大，轴承组装后，影响轴承回转。
技术实现思路
针对现有技术的缺陷，本专利技术的目的是公开一种圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱及其使用方法。本专利技术的样柱能够准确、快速、简便、测量保持架回转中心径的工艺尺寸。本专利技术的技术方案为：一种圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱，样柱由第一圆锥体、第一圆柱体、本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱，样柱由第一圆锥体、第一圆柱体、第二圆锥体、第二圆柱体、第三圆柱体五段相接组成，第一圆锥体作为顶部，第三圆柱体作为底部，在第一圆锥体顶端在径向中心线两侧对称的向样柱的轴向开两个长凹槽，两个长凹槽开槽深度延伸至第二圆柱体的越程槽处；从样柱的底部延伸至样柱的第一圆柱体顶端处，开一圆柱形盲孔。

【技术特征摘要】
1.一种圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱，样柱由第一圆锥体、第一圆柱体、第二圆锥体、第二圆柱体、第三圆柱体五段相接组成，第一圆锥体作为顶部，第三圆柱体作为底部，在第一圆锥体顶端在径向中心线两侧对称的向样柱的轴向开两个长凹槽，两个长凹槽开槽深度延伸至第二圆柱体的越程槽处；从样柱的底部延伸至样柱的第一圆柱体顶端处，开一圆柱形盲孔。2.如权利要求1所述的圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱，其特征在于所述样柱两个长凹槽开槽深度在第二圆柱体越程槽处。3.如权利要求1所述的圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱，其特征在于所述圆柱形盲孔直径比待测保持架兜孔直径小8mm。4.如权利要求1所述的圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱，其特征在于所述样柱第一圆锥体和第一圆柱体的总高度等于待测保持架兜孔深度。5.如权利要求1所述的圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱，其特征在于所述第三圆柱体外径尺寸为待测保持架兜孔的最大工艺尺寸。6.如权利要求1所述的圆柱滚子轴承实体保持架中心径测量样柱，其特征在于所述第一圆柱体外径大于待测保持架兜孔工艺尺寸0.2-0.4...

【专利技术属性】
技术研发人员：封荣春，康华，赵红霞，杨晓丽，冯光波，武鹏彪，许建业，吕国新，唐玉环，张留莹，
申请(专利权)人：宁夏宝塔石化科技实业发展有限公司，
类型：发明
国别省市：宁夏,64