一种圆孔倒角弧度测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种圆孔倒角弧度测量装置及方法，该装置包括支架、驱动支架升降运动的气缸，设于支架上的第一测量塞规和第二测量塞规以及激光测距单元，第一测量塞规包括由上至下依次连接的第一手柄、第一倒梯形圆台和第一沉台，第二测量塞规包括由上至下依次连接的第二手柄、第二倒梯形圆台和第二沉台，第一倒梯形圆台的侧面与竖直方向呈45度夹角，第二倒梯形圆台的侧面与竖直方向呈47度夹角。根据圆孔倒角的形状采用仿形的方法，设置第一测量塞规和第二测量塞规，通过气缸带动支架下降将第一测量塞规或第二测量塞规置于待测产品的圆孔内，根据相应的几何关系计算得到圆孔倒角的弧度测量值，无需人工测量，效率高，测量精度高，误判率低。

Device and method for measuring radian of circular hole chamfer

The invention discloses a circular arc chamfering measuring device and a method thereof, the device comprises a cylinder frame and a driving bracket lifting movement, which is arranged on the bracket on the first measurement gauge and second gauge measurement and the laser ranging unit, the first measuring gauge includes a first handle, even from up to down in the first round and the first Taiwan obtrapezoid sink, second measurement plug comprises sequentially connected from top to bottom second handle and second trapezoidal truncated cone and second sink units, the first side and the vertical direction of trapezoidal cone angle was 45 degrees, second obtrapezoid round table side at a 47 degree angle with the vertical direction. According to the profiling method using circular hole chamfer shape, set the first measurement gauge and second gauge measurement, through the cylinder to drive the bracket down hole will first plug or plug in second measurement measurement products to be tested in the calculation of measured value of chamfer hole curvature according to the geometric relations of the corresponding, without manual measurement, high efficiency and precision high, low misjudgment rate.

【技术实现步骤摘要】
一种圆孔倒角弧度测量装置及方法
本专利技术涉及一种圆孔倒角弧度测量装置及方法。
技术介绍
在工件加工时，为了安装便捷性和产品美观性，同时提高使用安全性，通常在安装孔中加工倒角，然而为了保证装配紧密度，需要对该倒角的弧度进行严格限定，通常控制在131～135度。在工件加工完成之后，需要对加工的倒角进行测量以检测产品的合格性，传统的方法是通过人工手持量角器进行测量，该方法不仅人工成本高、工作效率低且测量精度不高，未能满足实际生产的需要。
技术实现思路
本专利技术提供了一种圆孔倒角弧度测量装置及方法，以解决现有技术中存在的人工成本高、工作效率低以及测量精度不高问题。为了解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是：一种圆孔倒角弧度测量装置，包括支架、驱动所述支架升降运动的气缸，沿水平方向依次设于所述支架上的第一测量塞规和第二测量塞规以及激光测距单元，所述第一测量塞规包括由上至下依次连接的第一手柄、第一倒梯形圆台和第一沉台，所述第二测量塞规包括由上至下依次连接的第二手柄、第二倒梯形圆台和第二沉台，所述第一倒梯形圆台的侧面与竖直方向呈45度夹角，所述第二倒梯形圆台的侧面与竖直方向呈47度夹角。进一步的，还包括设于所述支架下方的定位板，所述定位板上设有与所述第一测量塞规对应的第一工位和与所述第二测量塞规对应的第二工位。进一步的，所述激光测距单元的位置与所述第一工位和第二工位对应。进一步的，所述气缸和定位板固定于一底板上。进一步的，所述第一沉台和第二沉台均为所述圆柱形结构，顶面半径分别与所述第一倒梯形圆台和第二倒梯形圆台的底面半径对应。本专利技术还包括一种如上所述的圆孔倒角弧度测量装置的测量方法，包括以下步骤：S1：确定所测产品的圆孔倒角的公差带范围；S2：将第一测量塞规置于待测产品的圆孔中，激光测距单元测量第一倒梯形圆台顶面与待测产品上表面的垂向距离和第一倒梯形圆台与圆孔底部的接触面外径，从而计算得到圆孔倒角的第一弧度测量值；S3：将第二测量塞规置于待测产品的圆孔中，激光测距单元测量第二倒梯形圆台顶面与待测产品上表面的垂向距离和第二倒梯形圆台与圆孔底部的接触面外径，并根据圆孔顶部内径以及第二倒梯形圆台的顶面外径计算得到圆孔倒角的第二弧度测量值；S4：判断所述第一弧度测量值和第二弧度测量值是否超出所述公差带范围，若第一弧度测量值和第二弧度测量值均未超出所述公差带范围，则为合格产品，否则为不合格产品。进一步的，所述步骤S1中，公差带范围为131°～135°。进一步的，所述步骤S2中，还包括将待测产品置于所述第一测量塞规对应的第一工位中，气缸驱动所述支架下降使第一测量塞规置于待测产品的圆孔中。进一步的，所述步骤S3中，将包括待测产品置于所述第二测量塞规对应的第二工位中，气缸驱动所述支架下降使第二测量塞规置于待测产品的圆孔中。进一步的，所述步骤S4中还包括，当第一弧度测量值或第二弧度测量值大于所述公差带上限时，根据圆孔的顶部内径、第一倒梯形圆台的顶面外径、第一倒梯形圆台顶面与待测产品上表面的垂向距离以及第一倒梯形圆台与圆孔底部接触面的外径，从而计算得到圆孔倒角的第三弧度测量值，判断所述第三弧度测量值是否大于所述公差带上限。本专利技术提供的圆孔倒角弧度测量装置及方法，该装置包括支架、驱动所述支架升降运动的气缸、沿水平方向依次设于所述支架上的第一测量塞规和第二测量塞规以及激光测距单元，所述第一测量塞规包括由上至下依次连接的第一手柄、第一倒梯形圆台和第一沉台，所述第二测量塞规包括由上至下依次连接的第二手柄、第二倒梯形圆台和第二沉台，所述第一倒梯形圆台的侧面与竖直方向呈45度夹角，所述第二倒梯形圆台的侧面与竖直方向呈47度夹角。根据圆孔倒角的形状采用仿形的方法，设计具有第一倒梯形圆台的第一测量塞规和具有第二倒梯形圆台的第二测量塞规，第一倒梯形圆台和第二倒梯形圆台的侧面具有与圆孔倒角类似的倒角形状，通过气缸带动支架下降将第一测量塞规或第二测量塞规置于待测产品的圆孔内，根据相应的几何关系，即圆孔的顶部内径、倒梯形圆台的顶面直径以及倒梯形圆台顶面与圆孔顶部的垂向距离即可计算得到圆孔倒角的弧度测量值，无需人工测量，效率高，测量精度高，误判率低。附图说明图1是本专利技术待测产品的结构示意图；图2是本专利技术圆孔倒角弧度测量装置的侧视图；图3a、3b分别是本专利技术第一测量塞规和第二测量塞规的结构示意图；图4是本专利技术第一测量塞规置于待测产品圆孔内的示意图；图5是当圆孔倒角弧度大于135°时第一测量塞规与待测产品的位置示意图；图6是当圆孔倒角弧度大于135°时第一测量塞规与待测产品的位置示意图。图中所示：1、支架；2、气缸；3、第一测量塞规；31、第一手柄；32、第一倒梯形圆台；33、第一沉台；4、第二测量塞规；41、第二手柄；42、第二倒梯形圆台；43、第二沉台；5、圆孔倒角；6、待测产品；7、定位板；71、第二工位；8、底板。具体实施方式下面结合附图对本专利技术作详细描述：如图2-3b所示，本专利技术提供一种圆孔倒角弧度测量装置，用于测量如图1所示的待测产品6中圆孔倒角5的弧度，包括支架1、驱动所述支架1升降运动的气缸2，沿水平方向依次设于所述支架1上的第一测量塞规3和第二测量塞规4以及激光测距单元(图中未标出)，所述第一测量塞规3包括由上至下依次连接的第一手柄31、第一倒梯形圆台32和第一沉台33，所述第二测量塞规4包括由上至下依次连接的第二手柄41、第二倒梯形圆台42和第二沉台43，如图3a-3b所示，所述第一倒梯形圆台32的侧面与竖直方向呈45度夹角，即第一倒梯形圆台32底面与侧面之间形成的钝角为135度，所述第二倒梯形圆台42的侧面与竖直方向呈47度夹角，即第一倒梯形圆台42底面与侧面之间形成的钝角为137度，与圆孔倒角5的形状相似，在测量时，通过气缸2带动支架1下降，使第一测量塞规3或第二测量塞规4置于待测产品6的圆孔内，根据相应的几何关系，即圆孔的顶部内径(即圆孔倒角5的最外侧)、倒梯形圆台的顶面直径以及倒梯形圆台顶面与圆孔顶部的垂向距离即可计算得到圆孔倒角5的弧度测量值，将该弧度测量值与设定的公差带范围进行比较，若未超出设定的公差带范围，则该待测产品6为合格产品，否则为不合格产品。优选的，圆孔倒角弧度测量装置还包括设于所述支架1下方的定位板7，所述定位板7上设有与所述第一测量塞规3对应的第一工位(图中未标出)和与所述第二测量塞规4对应的第二工位71，将待测产品6置于该第一工位或第二工位71中，通过气缸2带动该第一测量塞规3或第二测量塞规4向下运动直至完全位于圆孔倒角5内。优选的，所述激光测距单元的位置与所述第一工位和第二工位71对应，可以位于两者之间，用于当第一测量塞规3或第二测量塞规4位于圆孔倒角5内后，测量圆孔的顶部内径、倒梯形圆台的顶面直径以及倒梯形圆台顶面与圆孔顶部的垂向距离，以便得到圆孔倒角5的弧度测量值。优选的，所述定位板7和气缸2安装于一底板8上。优选的，所述第一沉台33和第二沉台均43为所述圆柱形结构，顶面半径分别与所述第一倒梯形圆台32和第二倒梯形圆台42的底面半径对应。本专利技术还提供一种如上所述的圆孔倒角弧度测量装置的测量方法，包括以下步骤：S1：确定所测产品的圆孔倒角的公差带范围；本实施例中，所述圆孔倒角的公差带范围为131～135度，即本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种圆孔倒角弧度测量装置，其特征在于，包括支架、驱动所述支架升降运动的气缸，沿水平方向依次设于所述支架上的第一测量塞规和第二测量塞规以及激光测距单元，所述第一测量塞规包括由上至下依次连接的第一手柄、第一倒梯形圆台和第一沉台，所述第二测量塞规包括由上至下依次连接的第二手柄、第二倒梯形圆台和第二沉台，所述第一倒梯形圆台的侧面与竖直方向呈45度夹角，所述第二倒梯形圆台的侧面与竖直方向呈47度夹角。

【技术特征摘要】
1.一种圆孔倒角弧度测量装置，其特征在于，包括支架、驱动所述支架升降运动的气缸，沿水平方向依次设于所述支架上的第一测量塞规和第二测量塞规以及激光测距单元，所述第一测量塞规包括由上至下依次连接的第一手柄、第一倒梯形圆台和第一沉台，所述第二测量塞规包括由上至下依次连接的第二手柄、第二倒梯形圆台和第二沉台，所述第一倒梯形圆台的侧面与竖直方向呈45度夹角，所述第二倒梯形圆台的侧面与竖直方向呈47度夹角。2.根据权利要求1所述的圆孔倒角弧度测量装置，其特征在于，还包括设于所述支架下方的定位板，所述定位板上设有与所述第一测量塞规对应的第一工位和与所述第二测量塞规对应的第二工位。3.根据权利要求2所述的圆孔倒角弧度测量装置，其特征在于，所述激光测距单元的位置与所述第一工位和第二工位对应。4.根据权利要求2所述的圆孔倒角弧度测量装置，其特征在于，所述气缸和定位板固定于一底板上。5.根据权利要求1所述的圆孔倒角弧度测量装置，其特征在于，所述第一沉台和第二沉台均为所述圆柱形结构，顶面半径分别与所述第一倒梯形圆台和第二倒梯形圆台的底面半径对应。6.一种如权利要求1所述的圆孔倒角弧度测量装置的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：确定所测产品的圆孔倒角的公差带范围；S2：将第一测量塞规置于待测产品的圆孔中，激光测距单元测量第一倒梯形圆台顶面与待测产品上表面的垂向距离和第一倒梯形圆台与圆孔底部的接触面外径，并根据圆孔的顶...

【专利技术属性】
技术研发人员：靳登科，王嵩，王志，
申请(专利权)人：苏州逸美德科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32