Incell自容模组面板的检测方法技术

本发明专利技术提供了一种Incell自容模组面板的检测方法。所述检测方法包括：设置步骤，在包括多个触控电极的Incell自容模组面板上方设置透明导电层，使得透明导电层覆盖且接近整个Incell自容模组面板的有效区，其中，所述透明导电层设置在透明的载体玻璃上使得透明导电层可拆卸地设置在Incell自容模组面板上；电路连接步骤，将所述透明导电层与地电性连接，并且在透明导电层与地之间连接检测电路；以及检测步骤，控制集成电路依次向Incell自容模组面板的每个触控电极输入测试信号，通过检测电路检测到的电流来确定所述Incell自容模组面板的异常状态。

Method for detecting panel of Incell self contained module

The invention provides a method for detecting a Incell self contained module panel. The detection method comprises the steps of setting, comprising a plurality of touch electrode Incell self-contained module panel is arranged above the transparent conductive layer, the transparent conductive layer covering area, and close to the entire Incell self-contained module panel wherein the transparent conductive layer is arranged on the transparent glass carrier on the transparent conductive layer can be removed is self contained in Incell panel module; circuit connection step the transparent conductive layer is electrically connected with the detection circuit, and the connection between the transparent conductive layer and ground; and the detection step, each touch electrode input test signal control integrated circuit Incell module in turn from the containing panel, the current through the detection circuit to determine the abnormal state of the Incell self containing module panel.

【技术实现步骤摘要】
Incell自容模组面板的检测方法
本专利技术涉及触摸显示领域，尤其涉及一种Incell自电容面板的性能检测方法。
技术介绍
随着显示技术的飞速发展，触摸屏的应用已经非常普及。其中，Incell(内嵌式)触摸屏将触摸屏的触控电极内嵌在液晶显示屏内部，可以减薄模组的厚度、降低制作成本，受到消费者和面板厂商的青睐。Incell触摸屏利用自电容或互电容的原理检测手指触摸的位置，其中，Incell自电容(简称，Incell自容)触摸屏由于其触控感应的准确度和信噪比比较高而被广泛应用。Incell自容触摸屏的工作原理为：在触摸屏中设置多个同层设置且相互独立的自电容电极，每个自容电极通过单独的引出线与触控检测芯片连接，当人体未触碰屏幕时，各个自容电极所承受的电容为一个固定值；而当人体触碰屏幕时，触碰位置对应的自容电极所承受的电容为固定值叠加人体电容，触控检测芯片通过检测各个自容电极的电容值的变化可以判断出触控检测位置。Incell自容触摸屏在覆盖装饰用的cover玻璃(盖板玻璃)之前会经历模组阶段。现在开发的Incell自容模组面板在模组阶段(如图1A所示)是将位于有效区(ActiveArea，简称AA区)中的公共电极(Com电极)分成各自独立且彼此分开的多个区块作为触控电极，每个触控电极(例如，110)仅与一条Rx信号线(例如，接收线，金属导线等)电连接且通过该条Rx信号线连接到集成电路(IC)输出端的pin(管脚)(未示出)，当通过每条Rx信号线向相应的触控电极施加公共电压时，可以显示图像。然而，与每个触控电极连接的每条Rx信号线是贯穿整个AA区的，在制程时会发生Rx信号线与非对应的触控电极短路的情况，即，一条Rx信号线连接到多个触控电极的情况。目前，为了避免不良产品的流出，通常会在模组阶段通过IC提供电信号以及通过光学元件提供光信号来检测Incell自容模组面板的显示性能，但是由于未覆盖可供触摸的cover玻璃而无法进行触控性能的检测(现有技术中是在覆盖cover玻璃之后，用手触摸或模拟手指触摸cover玻璃来进行触控性能的检测)，如此在模组检测时可能会漏掉触控性能不佳的样品，导致良品率降低和后续返工的麻烦。
技术实现思路
为克服现有技术的不足，本专利技术提出了一种Incell(内嵌式)自容模组面板的检测方法，通过对Incell自容模组面板增加模组检测元件和检测电路，使得能够在模组时不仅对Incell自容模组面板的显示性能进行检测，还能够对Incell自容模组面板的触控性能进行检测，从而避免不良产品的流出，提高产品的良品率。根据本专利技术的示例性实施例的一方面，提供了一种Incell自容模组面板的检测方法，所述检测方法包括以下步骤：设置步骤，在包括多个触控电极的Incell自容模组面板上方设置透明导电层，使得透明导电层覆盖且接近整个Incell自容模组面板的有效区，其中，透明导电层设置在透明的载体玻璃上使得透明导电层可拆卸地设置在Incell自容模组面板上；电路连接步骤，将透明导电层与地电性连接，并且在透明导电层与地之间连接检测电路；以及检测步骤，控制集成电路依次向Incell自容模组面板的每个触控电极输入测试信号，通过检测电路检测到的电流来确定Incell自容模组面板的异常状态。多个触控电极各自独立且彼此分开，并且位于同一层上而形成触控电极层。在设置步骤中，使透明导电层的面积大于或等于Incell自容模组面板的有效区的面积。检测步骤还包括：当检测电路检测到的电流值大于或小于预定电流值时，确定Incell自容模组面板处于异常状态。检测方法还包括移除步骤，在完成检测步骤之后，移除透明导电层。Incell自容模组面板的有效区还包括TFT玻璃层、液晶材料和彩色滤光片层，其中，触控电极层设置在TFT玻璃层上，彩色滤光片层设置在触控电极层上方，液晶材料设置在触控电极与彩色滤光片之间。在设置步骤中，透明导电层直接接触Incell自容模组面板。透明导电层的材料为铟锡氧化物。附图说明通过下面结合附图进行的对实施例的描述，本专利技术的上述和/或其它目的和优点将会变得更加清楚，其中：图1A是示出现有技术中Incell自容模组面板的俯视结构图；图1B是示出图1A中虚线框中所示的一个触控电极区域的放大图；图2是示出根据本专利技术示例性实施例对Incell自容模组面板100进行模组检测的方法和结构图；图3是示出沿着图2中的线I-I’截取的剖视图。具体实施方式现将详细描述本专利技术的示例性实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中，相同的标号指示相同的部分。以下将通过参照附图来说明所述实施例，以便解释本专利技术。图1A是示出现有技术中Incell自容模组面板的俯视结构图。图1B是示出图1A中虚线框中所示的一个触控电极区域110的放大图。Incell自容模组面板100包括有效区(AA区)和围绕AA区的外围区，在外围区中设置连接走线120和集成电路(IC)等。AA区中设有公共电极和设置在公共电极上方的多条Rx信号线(例如，130、131……等)。多条Rx信号线可以是起电连接作用和接收/传输信号的导线(例如接收线、金属线等)，在AA区中沿竖直方向平行布置并且均位于与公共电极不同的层上。在AA区中，公共电极被分成各自独立且彼此分开的多个区块，每个区块作为一个触控电极，每个触控电极仅通过一条Rx信号线连接到IC。例如，触控电极110通过连接构件140(例如，连接导线、金属孔等)而连接到Rx信号线130，Rx信号线130的另一端连接至一个IC输出pin(管脚)(未示出)并且通过连接走线120中的一条连接走线而连接到一个IC输出焊盘(未示出)，从而实现触控电极110与IC板的连接。类似地，每一个触控电极与每一条Rx信号线一一对应且通过连接构件来电连接，从而将每个触控电极均连接到IC板。然而，与每个触控电极连接的每条Rx信号线是贯穿整个AA区的，在制程时会发生Rx信号线与非对应的触控电极短路的情况，即，一条Rx信号线连接到多个触控电极的情况。为了避免不良产品的流出，根据本专利技术的实施例的检测方法不仅可以检测Incell自容模组面板的显示性能，而且可以检测Incell自容模组面板的触控性能。图2是示出根据本专利技术示例性实施例对Incell自容模组面板100进行模组检测的方法和结构图。参照图2，对Incell自容模组面板100进行模组检测的方法包括：首先，在Incell自容模组面板100上方设置透明导电层210，使得透明导电层210覆盖且接近整个Incell自容模组面板100的AA区，其中，透明导电层210的面积可以大于或等于Incell自容模组面板100的AA区的面积，透明导电层210可以由铟锡氧化物构成，但不限于此。然后，将所述透明导电层210与地电性连接，并且在透明导电层210与地之间连接一个检测电路220，检测电路220可以是实现检测电流功能的电路结构，但不限于此，也可以是实现检测其他电路功能(例如电压等)的任何形式的电路结构。之后，控制集成电路(IC)依次向Incell自容模组面板的每个触控电极输入测试方波，正常情况下，透明电极与地之间会有电流流过，利用检测电路220检测此电流的大小，根据检测电流的大小可以确定所述Incell自容模组面板的触控性能是否为异常状态。在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种Incell自容模组面板的检测方法，所述检测方法包括以下步骤：设置步骤，在包括多个触控电极的Incell自容模组面板上方设置透明导电层，使得透明导电层覆盖且接近整个Incell自容模组面板的有效区，其中，所述透明导电层设置在透明的载体玻璃上使得透明导电层可拆卸地设置在Incell自容模组面板上；电路连接步骤，将所述透明导电层与地电性连接，并且在透明导电层与地之间连接检测电路；以及检测步骤，控制集成电路依次向Incell自容模组面板的每个触控电极输入测试信号，通过检测电路检测到的电流来确定所述Incell自容模组面板的异常状态。

【技术特征摘要】
1.一种Incell自容模组面板的检测方法，所述检测方法包括以下步骤：设置步骤，在包括多个触控电极的Incell自容模组面板上方设置透明导电层，使得透明导电层覆盖且接近整个Incell自容模组面板的有效区，其中，所述透明导电层设置在透明的载体玻璃上使得透明导电层可拆卸地设置在Incell自容模组面板上；电路连接步骤，将所述透明导电层与地电性连接，并且在透明导电层与地之间连接检测电路；以及检测步骤，控制集成电路依次向Incell自容模组面板的每个触控电极输入测试信号，通过检测电路检测到的电流来确定所述Incell自容模组面板的异常状态。2.根据权利要求1所述的Incell自容模组面板的检测方法，所述多个触控电极各自独立且彼此分开，并且位于同一层上而形成触控电极层。3.根据权利要求1所述的Incell自容模组面板的检测方法，在所述设置步骤中，使透明导电层的面积大于或等于Incell自容模组面板的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王超，龚强，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42