卡尺检具制造技术

本发明专利技术涉及一种卡尺检具，包括第一检具，第一检具包括两个分离的基体，每个基体包括第一基座、第一平面测块、第一滑块和第一锁紧件，第一平面测块可移动地设于第一基座，第一滑块连接于第一锁紧件，第一锁紧件可相对第一基座移动以通过第一滑块推动第一平面测块移动，并可相对第一基座定位以限定第一平面测块的位置，两个基体对称设置从而使两个第一平面测块相对而设。采用本卡尺检具的第一检具，由于两个基体是分离的，因此可根据需要在两个第一平面测块之间放置数量和尺寸不同的量块，即使卡尺量程较大仍能满足需要，同时，由于两个基体是分离的，不使用时卡尺检具体积较小，便于携带。

Caliper gauge

The invention relates to a caliper gauge, comprising a first fixture, the first fixture base includes two separate, each substrate comprises a first base, the first plane block and the first slider and a first locking member, a first plane test block is movably arranged on the first base, the first slider is connected to the first locking member, a first the locking member may be relative to the first base to move through the first block drives the first plane test block and moving relative to the first base location to define a first plane block position, the two substrates are symmetrically arranged so that the two plane block which is arranged opposite to the first. The first check the caliper gauge, because the two substrates are separated, so according to the needs of the two first level test piece is placed between the number and size of different blocks, even larger range can still meet the need of caliper, at the same time, because the two substrates are separated, when not using caliper gauge volume small, easy to carry.

【技术实现步骤摘要】
卡尺检具
本专利技术涉及检测
，特别是涉及一种卡尺检具。
技术介绍
卡尺是一种常用的检具，目前卡尺的校准精度要求很高，且使用率很高，卡尺在使用一段时间后，可能和标准值之间产生误差，如果这样的卡尺继续使用，会导致测量不准确，带来一定的经济损失。为了保证卡尺测量的准确性，需要对卡尺进行校准。JJG34-2012通用卡尺检定规程规定，刀口内量爪的示值误差的检定方法与刀口外量爪的示值误差的检定方法一致。一种内沟槽卡尺示值误差校准方法，通过量块和量块附件进行卡尺的校准，内沟槽卡尺的测量面与量块附件表面接触，卡尺测量值和位于量块附件表面之间的量块之差即为刀口内量爪示值误差。然而，现有卡尺内尺寸校准装置一般量程受限，对于量程较大的卡尺无法校准，而一些量程较大的卡尺内尺寸校准装置，则存在体积较大、携带不便的问题。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种量程较大、体积较小、携带方便的卡尺检具。一种卡尺检具，包括第一检具，所述第一检具包括两个分离的基体，每个所述基体包括第一基座、第一平面测块、第一滑块和第一锁紧件，所述第一平面测块可移动地设于所述第一基座，所述第一滑块连接于所述第一锁紧件，所述第一锁紧件本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种卡尺检具，其特征在于，包括第一检具，所述第一检具包括两个分离的基体，每个所述基体包括第一基座、第一平面测块、第一滑块和第一锁紧件，所述第一平面测块可移动地设于所述第一基座，所述第一滑块连接于所述第一锁紧件，所述第一锁紧件可相对所述第一基座移动以通过所述第一滑块推动所述第一平面测块移动，并可相对所述第一基座定位以限定所述第一平面测块的位置，两个所述基体对称设置从而使两个所述第一平面测块相对而设。

【技术特征摘要】
1.一种卡尺检具，其特征在于，包括第一检具，所述第一检具包括两个分离的基体，每个所述基体包括第一基座、第一平面测块、第一滑块和第一锁紧件，所述第一平面测块可移动地设于所述第一基座，所述第一滑块连接于所述第一锁紧件，所述第一锁紧件可相对所述第一基座移动以通过所述第一滑块推动所述第一平面测块移动，并可相对所述第一基座定位以限定所述第一平面测块的位置，两个所述基体对称设置从而使两个所述第一平面测块相对而设。2.根据权利要求1所述的卡尺检具，其特征在于，所述第一检具还包括两个固定栓，每个所述第一基座设有一个所述固定栓。3.根据权利要求2所述的卡尺检具，其特征在于，所述第一检具还包括第一量块，所述第一量块上开设有两个间隔设置的连接孔，两个所述固定栓可分别穿过所述第一量块的两个所述连接孔，从而将两个所述基体连接。4.根据权利要求3所述的卡尺检具，其特征在于，所述第一检具还包括第二量块，所述第一量块和所述第二量块依次设于两个所述第一平面测块之间，且...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢才智，袁仍，冯志芳，叶凌华，
申请(专利权)人：广电计量检测北京有限公司，广州广电计量检测股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11