The invention discloses an embedded software running time will be measured before and after the test method of the embedded software code stub, can be tested using embedded chip IO port, in front of the code under test will set IO mouth is arranged at the rear end of low level, high level, and then use the oscilloscope to test the IO port, low time oscilloscope that is the running time of the measured embedded software code. The testing method of the invention is simple operation, high accuracy, software designers can easily test to the running time and the timing of the software, in order to adjust the design scheme; widely used in aerospace, intelligent equipment on embedded real-time control system.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于嵌入式软件测试
，特别是一种嵌入式软件运行时间测试方法。
技术介绍
当今，嵌入式控制系统的应用越来越广泛，嵌入式控制系统的软件也变得越来越复杂(孙鹤旭、林涛：《嵌入式控制系统》，清华大学出版社，2007年)，尤其是当嵌入式控制系统应用于航空航天、军事国防、智能制造、医疗卫生等领域时，对嵌入式控制系统的实时性和可靠性具有很高的要求，必须知道代码的运行时间和余量。因此，在设计和开发嵌入式软件时，既要保证系统控制逻辑、功能的准确性，还要严格满足系统的实时性要求，所以需要观测嵌入式软件运行状况。但是由于嵌入式软件需固化到硬件芯片中上电后自行运行，无法实时观测软件运行情况，也没有可靠的技术手段来检测代码运行时间和余量，因而目前还是一个技术难题需要解决。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种能够测量嵌入式软件运行时间的方法，以便测试嵌入式软件运行时间余量、实时性等是否满足系统要求。实现本专利技术目的的技术解决方案为：一种嵌入式软件运行时间测试方法，步骤如下：(1)选择需要测试的嵌入式软件对应的硬件芯片可测试的IO口，并对IO进行相应的初始化配置；(2)在被测嵌入式软件可执行代码前端后端进行插桩，其中代码前端将IO口输出值配置为低电平，代码后端将IO口输出值配置为高电平；(3)将修改后代码进行编译，编译无误后重新写入嵌入式硬件芯片，上电运行后，利用示波器测试该IO口，其中低电平时间即为被测嵌入式软件代码的运行时间。本专利技术与现有技术相比，其显著优点：(1)测试方法操作简便实用、准确度高，软件设计者可轻松测试到软件的运行时间和运行时序，以便及时调...
【技术保护点】
一种嵌入式软件运行时间测试方法，其特征在于步骤如下：(1)选择需要测试的嵌入式软件对应的硬件芯片可测试的IO口，并对IO进行相应的初始化配置；(2)在被测嵌入式软件可执行代码前端后端进行插桩，其中代码前端将IO口输出值配置为低电平，代码后端将IO口输出值配置为高电平；(3)将修改后代码进行编译，编译无误后重新写入嵌入式硬件芯片，上电运行后，利用示波器测试该IO口，其中低电平时间即为被测嵌入式软件代码的运行时间。
【技术特征摘要】
1.一种嵌入式软件运行时间测试方法，其特征在于步骤如下：(1)选择需要测试的嵌入式软件对应的硬件芯片可测试的IO口，并对IO进行相应的初始化配置；(2)在被测嵌入式软件可执行代码前端后端进行插桩，其中代码前端将IO口输出值配置为低电平，代码后端将IO口输出值配置为高电平；(3)将修改后代码进行编译，编译无误后重新写入嵌入式硬件芯片，上电运行后，利用示波器测试该IO口，其中低电平时间即为被测嵌入式软件代码的运行时间。...
【专利技术属性】
技术研发人员：孟娟，林希佳，龚茜茜，刘国辉，
申请(专利权)人：南京晨光集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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