【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及仪器测长，具体为一种用于圆柱形轴规测量的校准装置及方法。
技术介绍
1、轴规的高精度测量及校准目前市场上已知测量及校准结果不确定度可小于微米级的仪器有测长机和三坐标测量机，但是，应用在圆柱形轴规测量及校准时，测长机无法完成，而三坐标测量机的测量及校准结果不确定度可小于微米级，一台三坐标测量机需上千万的成本，极其高昂，一般单位无法承受，并且三坐标测量机并非专用于轴规的测量及校准。
2、针对目前市场上尚未有专门对圆柱形轴规进行测量及校准的装置，为此需提出一种用于圆柱形轴规测量的校准装置及方法，实现对圆柱形轴规的测量及校准，使测量结果的不确定度可小于微米级，量值可溯源至国家基准，减小阿贝误差等影响。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种用于圆柱形轴规测量的校准装置及方法，实现对圆柱形轴规的测量及校准，使测量结果的不确定度可小于微米级，量值可溯源至国家基准，减小阿贝误差等影响。
2、实现本专利技术目的的技术解决方案为：
3、一种用于圆柱形轴规测量的校准装置，包括：
4、定位机构，通过与被测圆柱形轴的轴肩端面接触实现端面位置的确定；
5、横向位移台，用于带动被测圆柱形轴的轴向移动，实现定位机构与被测圆柱形轴的不同轴肩端面的移动切换；
6、纵向位移台，用于带动定位机构的竖直上下运动，实现定位机构的与被测圆柱形轴的轴肩端面分离和接触；
7、第一顶针和第二顶针，用于夹持被测圆柱形轴或标准圆棒
8、滑台，用于带动第一顶针和第二顶针的滑移，实现第一顶针和第二顶针的靠近和分离，以实现对不同长度的被测圆柱形轴的夹持；
9、微调平台，配合千分表完成对标准圆棒的水平调整；
10、主校准机构，设有激光干涉仪、干涉镜和反射镜；反射镜固定在滑台上；激光干涉仪激光线与第一顶针和第二顶针两顶尖连线平行，用于测量被测圆柱形轴的不同轴肩端面的示数。
11、一种用于圆柱形轴规测量的校准装置，其用于圆柱形轴规测量的校准方法，包括以下步骤：
12、s1.首先通过第一顶针和第二顶针将标准圆棒夹紧，采用打表法，即千分表配合微调平台，通过微调平台调整标准圆棒至水平：当移动转动标准圆棒，千分表示值不发生变化或小于1微米，带动千分表至标准圆棒两端，千分表示值不发生变化或小于1微米，保证此时的标准圆棒的轴线与第一顶针和第二顶针两顶尖连线平行；
13、s2.将被测件安装替换标准圆棒标准圆棒，安装激光干涉仪，安装调整干涉镜和反射镜，将被测件轴线与第一顶针和第二顶针两顶尖连线平行，激光干涉仪激光线与第一顶针和第二顶针两顶尖连线平行；
14、s3. 通过纵向位移台，将定位机构的电感测微仪测头接触于被测圆柱形轴的第一个轴肩端面a，并移动横向位移台，将定位机构的电感测微仪示值调整至零值，记录下此时激光干涉仪的示值或直接清零；
15、s4. 通过纵向位移台使电感测微仪测头分别接触于被测圆柱形轴的其他轴肩端面，并且也移动横向位移台，将电感测微仪示值调整至零值；
16、s5.记录下在电感测微仪测头分别依次接触被测圆柱形轴的其他轴肩端面时电感测微仪示值为零值时的激光干涉仪示值，与在第一个轴肩端面a时的示值做差，即可测量得出轴肩端面之间的距离。
17、本专利技术与现有技术相比，其显著优点是：
18、（1）一种用于圆柱形轴规测量的校准装置该装置在测量及校准前通过标准圆棒、千分表和调平机构的配合将两顶尖连线调至平行，激光干涉仪调至满足测量条件时，使得被测件轴线、两顶尖轴线和激光干涉仪的激光线平行，减小阿贝误差的影响，提高测量及校准的不确定度。
19、（2）一种用于圆柱形轴规测量的校准装置，该装置通过电感测微仪测头分别在不同面进行接触，并通过横向位移台调至零值，能够保证测量两面之间的距离为准确值，最终测量不确定度可小于微米级。
20、（3） 一种用于圆柱形轴规测量的校准装置，该装置通过主校准机构、调平机构、位移机构、定位机构和轴线调整机构相互配合，满足圆柱形轴规测量及校准不确定度小于微米级的要求，极大降低成本，并可推广使用。
21、（4） 一种用于圆柱形轴规测量的校准方法，该方法实现尽可能减小被测件与双频激光干涉仪之间两者轴线之间的不同轴问题，消除因不同轴产生的测量误差问题。
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1.一种用于圆柱形轴规测量的校准装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的用于圆柱形轴规测量的校准装置，其特征在于，所述定位机构采用电感测微仪，电感测微仪通过夹头固定在纵向位移台上。
3.根据权利要求1所述的用于圆柱形轴规测量的校准装置，其特征在于，所述主校准机构还包括三角支架、第一支撑管和第一磁吸座，激光干涉仪底部安装有三角支架，干涉镜贯穿安装有第一支撑管，第一支撑管连接有第一磁吸座。
4.根据权利要求1所述的用于圆柱形轴规测量的校准装置，其特征在于，所述千分表安装在第二支撑管上，第二支撑管连接在第二磁吸座上，第二磁吸座用于安放在微调平台上。
5.根据权利要求1所述的用于圆柱形轴规测量的校准装置，其特征在于，所述滑台顶部安装有第一锁紧旋钮，第一锁紧旋钮用于锁定第一顶针和第二顶针，滑台底部安装有第二锁紧旋钮，第二锁紧旋钮用于锁定滑台。
6.根据权利要求1-5任一项所述的用于圆柱形轴规测量的校准装置，其特征在于，其用于圆柱形轴规测量的校准方法，包括以下步骤：
【技术特征摘要】
1.一种用于圆柱形轴规测量的校准装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的用于圆柱形轴规测量的校准装置，其特征在于，所述定位机构采用电感测微仪，电感测微仪通过夹头固定在纵向位移台上。
3.根据权利要求1所述的用于圆柱形轴规测量的校准装置，其特征在于，所述主校准机构还包括三角支架、第一支撑管和第一磁吸座，激光干涉仪底部安装有三角支架，干涉镜贯穿安装有第一支撑管，第一支撑管连接有第一磁吸座。
4.根据权利要求1所述的用于圆柱...
【专利技术属性】
技术研发人员：方明，张宝玉，马超超，方波，王建军，董克勇，
申请(专利权)人：南京晨光集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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