液晶模组测试设备制造技术

本实用新型专利技术提供一种液晶模组测试设备，用于测试待测液晶模组，包括基板，设于所述基板一侧的输入模块，设于所述基板上的核心控制模块、总线控制模块、数据存储模块、测试接口、电源模块及显示模块，所述核心控制模块采用型号为STC11L60XE的控制器，所述核心控制模块分别与所述总线控制模块、所述数据存储模块、所述测试接口及所述显示模块连接，用于接收所述检测信息，一方面传输给所述显示模块进行显示和编辑，一方面将所述检测信息通过所述测试接口传输给所述待测液晶模组。由于设有所述核心控制模块采用型号为STC11L60XE的控制器，所以使得所述液晶模组测试设备的测试系统变得更简单，没有采用ARM9或FPGA设计的测试设备那么复杂，且制造成本降低。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及液晶模组测试
，特别涉及一种液晶模组测试设备。
技术介绍
随着液晶模组的市场需求量快速增长，各大液晶模组生产厂商为了使自己的产品迅速占领市场，布置更多的生产线来生产产品，同时对液晶模组测试设备的需求也随之增长。目前，由于现在家电设备上或工业设备上的液晶模组中的模组接口基本上都是采用MCU接口，且很多的MCU接口现在都发展到24位数据线的MCU接口，所以市场上的液晶模组生产厂家，大多数采用ARM9或FPGA设计的测试设备来生产的液晶模组进行测试，但是采用ARM9或FPGA设计的测试设备的制造成本较高，测试系统的维护、维修成本也相当高，且有时候测试系统的问题不能及时解决，导致生产线停止生产作业，降低了工厂的生产效率，从而增加了生产成本。
技术实现思路
基于此，本技术的目的是提供一种测试系统简单且成本低的液晶模组测试设备。一种液晶模组测试设备，用于测试待测液晶模组，包括基板，设于所述基板一侧的输入模块，设于所述基板上的核心控制模块、总线控制模块、数据存储模块、测试接口、电源模块及显示模块：所述输入模块与所述核心控制模块连接，输入所述待测液晶模组需要检测的检测信息，并传送给所述核心控制模块；所述核心控制模块采用型号为STC11L60XE的控制器，所述核心控制模块分别与所述总线控制模块、所述数据存储模块、所述测试接口及所述显示模块连接，用于接收所述检测信息，一方面传输给所述显示模块进行显示和编辑，一方面将所述检测信息通过所述测试接口传输给所述待测液晶模组；所述总线控制模块分别与所述数据存储模块及所述测试接口连接。相较现有技术，本技术所述液晶模组测试设备中，由于设有所述核心控制模块采用型号为STC11L60XE的控制器，所以使得所述液晶模组测试设备的测试系统变得更简单，没有采用ARM9或FPGA设计的测试设备那么复杂，且制造成本降低。此外功耗相当低，不容易损坏，提高了制作良率、可靠性和使用效率，使得使用寿命加长。进一步地，所述总线控制模块采用型号为GAL16V8的芯片。进一步地，所述数据存储模块采用型号为SST39VF016的芯片。进一步地，所述数据存储模块能够存储8M位的图片数据。进一步地，所述测试接口为24位数据线的MCU接口。进一步地，所述液晶模组测试设备还包括报警模块，所述报警模块分别与所述核心控制模块和所述数据存储模块连接。进一步地，所述报警模块为蜂鸣器。附图说明图1为本技术一实施例中液晶模组测试设备的结构示意图。图2为图1中液晶模组测试设备的结构框图。主要元件符号说明基板10核心控制模块11总线控制模块12数据存储模块13测试接口14电源模块15报警模块16显示模块17输入模块18待测液晶模组20如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本技术。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的若干实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。请参阅图1和图2，本技术实施例提供的一种液晶模组测试设备，用于测试待测液晶模组20，包括基板10，设于所述基板10上的核心控制模块11、总线控制模块12、数据存储模块13、测试接口14及电源模块15；所述核心控制模块11分别与所述总线控制模块12、所述数据存储模块13及所述测试接口14连接；所述总线控制模块12分别与所述数据存储模块13及所述测试接口14连接。所述核心控制模块11采用型号为STC11L60XE的控制器，用于控制所述液晶模组测试设备。所述总线控制模块12采用型号为GAL16V8的芯片，实现总线方式通信，可以加快测试速度。所述数据存储模块13采用型号为SST39VF016的芯片，拥有足够大的容量可以存储8M位的图片数据，测试时，可以提供若干张显示图片的数据。所述测试接口14为24位数据线的MCU接口，包括24位数据线信号、控制信号、背光信号及电源信号。所述测试接口14同时与所述待测液晶模组20连接，对所述待测液晶模组20进行测试检验。所述电源模块15采用输入5V电源，通过所述核心控制模块11调节可以输出1.8V、2.8V、3.3V三种不同电压，给所述液晶模组测试设备中的各个模块供电，同时还给所述待测液晶模组20供电。请参阅图2，所述液晶模组测试设备还包括报警模块16，所述报警模块16分别与所述核心控制模块11和所述数据存储模块13连接。所述报警模块16为蜂鸣器，当所述待测液晶模组20被检测到存在不良时，将不良信息反馈给所述核心控制模块11，所述核心控制模块11控制所述报警模块16发出报警。请再参阅图1，所述液晶模组测试设备还包括显示模块17，所述显示模块17设于所述基板10上，且与所述核心控制模块11连接。请再参阅图1，所述液晶模组测试设备还包括输入模块18，所述输入模块18设于所述基板的一侧，并与所述核心控制模块11连接，所述输入模块18包括鼠标和键盘。本技术上述实施例中，所述液晶模组测试设备检测所述待测液晶模组20的步骤包括：(1)将所述待测液晶模组20与所述测试接口14连接，运行所述核心控制模块11；(2)所述输入模块18输入所述待测液晶模组20需要检测的检测信息，并传送给所述核心控制模块11；(3)所述核心控制模块11控制接收所述检测信息，一方面传输给所述显示模块17进行显示和编辑，一方面将所述检测信息通过所述测试接口14传输给所述待测液晶模组20；(4)所述待测液晶模组20被点亮，此时可观察所述待测液晶模组20的显示图像、工作电压及工作电流，是否存在缺陷；(5)测试完毕。综上，由于设有所述核心控制模块11采用型号为STC11L60XE的控制器，所以使得所述液晶模组测试设备的测试系统变得更简单，没有采用ARM9或FPGA设计构成的测试设备那么复杂，且制造成本降低，只有采用ARM9或FPGA设计的测试设备的成本的十分之一。此外功耗相当低，不容易损坏，提高了制作良率、可靠性和使用效率，使得使用寿命加长。以上所述实施例仅表达了本技术的某种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶模组测试设备，用于测试待测液晶模组，包括基板，设于所述基板一侧的输入模块，其特征在于：进一步包括设于所述基板上的核心控制模块、总线控制模块、数据存储模块、测试接口、电源模块及显示模块；所述输入模块与所述核心控制模块连接，输入所述待测液晶模组需要检测的检测信息，并传送给所述核心控制模块；所述核心控制模块采用型号为STC11L60XE的控制器，所述核心控制模块分别与所述总线控制模块、所述数据存储模块、所述测试接口及所述显示模块连接，用于接收所述检测信息，一方面传输给所述显示模块进行显示和编辑，另一方面将所述检测信息通过所述测试接口传输给所述待测液晶模组；所述总线控制模块分别与所述数据存储模块及所述测试接口连接。

【技术特征摘要】
1.一种液晶模组测试设备，用于测试待测液晶模组，包括基板，设于所述基板一侧的输入模块，其特征在于：进一步包括设于所述基板上的核心控制模块、总线控制模块、数据存储模块、测试接口、电源模块及显示模块；所述输入模块与所述核心控制模块连接，输入所述待测液晶模组需要检测的检测信息，并传送给所述核心控制模块；所述核心控制模块采用型号为STC11L60XE的控制器，所述核心控制模块分别与所述总线控制模块、所述数据存储模块、所述测试接口及所述显示模块连接，用于接收所述检测信息，一方面传输给所述显示模块进行显示和编辑，另一方面将所述检测信息通过所述测试接口传输给所述待测液晶模组；所述总线控制模块分别与所述数据存储模块及所述测试接口连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：张亦雄，
申请(专利权)人：江西联思触控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：江西;36