一种校准测光导轨上工作平面姿态的方法技术

一种校准测光导轨上工作平面姿态的方法，其中采用的工作平面校准器(15)包括主体(1)和叉丝管(2)；所述叉丝管(2)为中空管并且可装配地安置于所述主体(1)上；所述叉丝管(2)包括分别设于所述叉丝管(2)两个端面的两个十字叉丝(3)，所述两个十字叉丝(3)的中心连线与所述叉丝管(2)的轴线重合，所述叉丝管(2)的轴线垂直于所述主体(1)的前表面(5)；在主体(1)的前表面(5)上紧贴有两根细线(4)，所述两根细线(4)所限定的工作平面(6)也垂直于所述叉丝管(2)的轴线。与常用方法相比较,本发明专利技术的方法更方便，工作效率更高。

Working plane standard device and method for calibrating working plane attitude on metering guide rail

A light guide for calibration work plane work attitude level calibrator comprises a main body (1) and fork tube (2); the fork tube (2) is a hollow pipe and assembly arranged in the main body (1); the fork tube (2) including respectively the fork tube (2) two end of the two cross (3), the two cross (3) of the center line and the fork tube (2) to coincide with the axis of the fork tube (2) perpendicular to the axis of the body (1 the front surface (5)); (1) in the main body of the front surface (5) tightly affixed with two thin lines (4), the two threads (4) plane defined by (6) is perpendicular to the fork tube (2) axis. The invention also relates to a calibration device including the standard device and a method for calibrating the working plane attitude on the metering guide rail by using the standard device. Compared with the common method, the standard device of the invention has the advantages of convenient use and high work efficiency.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光辐射测量领域，涉及一种用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器，包括所述工作平面标准器的校准装置，以及利用该工作平面标准器或该校准装置校准测光导轨上工作平面姿态的方法。
技术介绍
在光辐射测量中，测光导轨是光辐射测量中的基本装置，用来放置探测器、光源、漫反射板、滤色片等光学器件，使之能平滑地运动并保证水平和垂直方向的平直度，实现高精度的直线往复运动，还装有精密的标尺或采用光栅尺来测量两个光学器件之间的距离。测光导轨一般要求水平、垂直方向平直性误差小于1mm，1m之内的距离误差小于0.2mm。光辐射测量时位于测光导轨上的探测器的前表面、光源的灯丝平面、漫反射板表面等都需要精密的调整其位置,使其于测光导轨的光学轴线垂直，并且中心通过测光导轨的光学轴线,才能保证测量结果的准确度。传统的调整测光导轨上光学器件工作平面位置的方法是采用两个轴线相互垂直的水准仪(或经纬仪),占用的空间位置大，这种方法调整效率低，过程复杂，需要两个人协同工作。或采用两条重垂线构成垂直于测光导轨轴线的平面，这种方法调整精度低，并且效率低。因此，光辐射测量中需要提供一种调整测光导轨上器件工作平面位置的标准器，其可安放在测光导轨上,占用空间位置小，能快速、准确地调整放置在测光导轨上的器件如探测器、光源等的位置，使探测器平面、灯丝平面垂直于测光导轨的光学轴线，并且中心位于测光导轨的光学轴线上。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有方法的不足，提供了一种校准测光导轨上光学器件工作平面姿态的工作平面标准器，包括所述工作平面标准器的校准装置，和利用该工作平面标准器或该校准装置校准测光导轨上工作平面姿态的方法。本专利技术能够快速、准确地调整测光导轨上光学器件的空间姿态。具体而言，本专利技术提供了以下技术方案：1、一种用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器，其特征在于，包括主体(1)和叉丝管(2)；所述叉丝管(2)为中空管并且可装配地安置于所述主体(1)上；所述叉丝管(2)包括分别设于所述叉丝管(2)两个端面的两个十字叉丝(3)，所述两个十字叉丝(3)的中心连线与所述叉丝管(2)的轴线重合，所述叉丝管(2)的轴线垂直于所述主体(1)的前表面(5)；在主体(1)的前表面(5)上紧贴有两根细线(4)，所述两根细线(4)所限定的工作平面(6)也垂直于所述叉丝管(2)的轴线。2、根据技术方案1的所述用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器，其特征在于，所述主体(1)上开有一个圆形孔，可装配地安置叉丝管(2)，圆形孔的轴线与前表面(5)垂直；所述主体(1)的前表面(5)由上部和下部组成，上部平面和下部平面是一个平面的两部分。3、根据技术方案2的所述用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器，其特征在于，所述两根细线(4)竖直地设于所述主体(1)的前表面(5)的左右两侧，所述两根细线(4)的每一根的两端分别设于所述主体(1)的前表面(5)的上部和下部。4、一种用于校准测光导轨上工作平面姿态的校准装置，其特征在于，包括根据技术方案1-3中任一项的所述用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器(15)，投影灯(10)和标记板(14)。5、根据技术方案4的所述用于校准测光导轨上工作平面姿态的校准装置，其特征在于，所述工作平面标准器(15)安放在所述测光导轨(12)上，所述投影灯(10)和标记板(14)分别放置于所述测光导轨(12)的两侧外部，所述叉丝管(2)的两个十字叉丝(3)的中心均处在测光导轨(12)的测量轴线上，所述工作平面(6)垂直于测光导轨的測量轴线，所述投影灯(10)和所述标记(14)板的位置经调整使得所述两根细线(4)在所述标记板(14)上形成重合、清晰的投影，在标记板(14)上所述投影的位置处设有标志线。6、一种校准测光导轨上工作平面姿态的校准方法，包括以下步骤：S100，提供根据技术方案1-3中任一项的所述用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器(15)，投影灯(10)，水准仪(13)和标记板(14)，或者提供根据技术方案4或5的所述用于校准测光导轨上工作平面姿态的校准装置和水准仪(13)；S200，将水准仪(13)安放在测光导轨(12)的一端，调整水准仪(13)的位置使其轴线与测光导轨(12)的轴线一致；将所述工作平面标准器(15)安放在位于所述测光导轨(12)的滑车(11)上，利用滑车(11)上的调整装置调整工作平面标准器(15)的空间姿态，使工作平面(6)与导轨的轴线垂直；将所述投影灯(10)和所述标记板(14)分别设置于所述测光导轨(12)的两侧外部；S300，打开所述投影灯(10)，调节所述投影灯(10)和标记板(14)相对于所述测光导轨(12)的位置和空间姿态使得所述工作平面标准器(15)的两根细线(4)由所述投影灯(10)在所述标记板(14)上形成的投影清晰且相互重合，在所述标记板(14)上用标志线记录所述投影的位置，固定所述投影灯(10)和所述标记板(14)的相对于所述测光导轨(12)的位置；S400,用待校准工作器件替换安放在所述测光导轨(12)上的所述工作平面标准器(15)，调节所述待校准工作器件在所述测光导轨(12)上的位置和空间姿态，使得所述待校准工作器件的工作平面的由所述投影灯(10)在所述标记板(14)上形成的投影与步骤S300中在所述标记板(14)上设置的标志线重合。7、根据技术方案6的所述校准测光导轨上工作平面姿态的校准方法，其中，在步骤S200中：将所述工作平面标准器(15)安放在位于所述测光导轨(12)的滑车(11)上，利用滑车(11)上的调整装置调整工作平面标准器(15)的空间姿态，通过水准仪(13)观察使得叉丝管(2)的两个叉丝(3)均位于测光导轨(12)的光学轴线上，叉丝管(2)的轴线及主体(1)上所开圆形孔的轴线均与测光导轨(12)的光学轴线一致，并且由所述标准器的前表面(5)上的两根细线(4)所限定的工作平面(6)与所述测光导轨(12)的轴线垂直。8、根据技术方案6的所述校准测光导轨上工作平面姿态的校准方法，其中，在步骤S200中：在所述工作平面标准器(15)的底面处设置磁铁，通过磁铁的磁力将工作平面标准器(15)固定在滑车(11)上。9、根据技术方案6的所述校准测光导轨上工作平面姿态的校准方法，其中，在步骤S400中：在所述待校准工作器件的底面处设置磁铁，通过磁铁的磁力将待校准工作器件固定在滑车(11)上。在一些情况下，根据技术方案4或5的所述用于校准光辐射测量中工作器件的空间姿态的装置还包括校准附件，所述校准附件包括用于在所述投影灯(10)照射下在所述标记板(14)上形成投影的标志平面、以及用于连接所述标记板(14)、投影灯(10)和工作器件的连接件，所述连接件具有调节机构用于调节所述标记板(14)、投影灯(10)与所述工作器件的工作平面之间的位置关系，使得所述工作器件的工作平面的投影与所述标记板(14)的标志线相互重合或平行。所述标记板(14)可以为玻璃、金属、木质等材质的平板并且标志平面附有坐标纸或刻线。所述连接件为由螺栓和螺母等组合的光具座，可实现工作器件五自由度的空间位置调整及投影灯(10)、标记板(14)的空间位置调整，改变所述投影灯(10)本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器，其特征在于，包括主体(1)和叉丝管(2)；所述叉丝管(2)为中空管并且可装配地安置于所述主体(1)上；所述叉丝管(2)包括分别设于所述叉丝管(2)两个端面的两个十字叉丝(3)，所述两个十字叉丝(3)的中心连线与所述叉丝管(2)的轴线重合，所述叉丝管(2)的轴线垂直于所述主体(1)的前表面(5)；在主体(1)的前表面(5)上紧贴有两根细线(4)，所述两根细线(4)所限定的工作平面(6)也垂直于所述叉丝管(2)的轴线。

【技术特征摘要】
1.一种用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器，其特征在于，包括主体(1)和叉丝管(2)；所述叉丝管(2)为中空管并且可装配地安置于所述主体(1)上；所述叉丝管(2)包括分别设于所述叉丝管(2)两个端面的两个十字叉丝(3)，所述两个十字叉丝(3)的中心连线与所述叉丝管(2)的轴线重合，所述叉丝管(2)的轴线垂直于所述主体(1)的前表面(5)；在主体(1)的前表面(5)上紧贴有两根细线(4)，所述两根细线(4)所限定的工作平面(6)也垂直于所述叉丝管(2)的轴线。2.根据权利要求1的所述用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器，其特征在于，所述主体(1)上开有一个圆形孔，可装配地安置叉丝管(2)，圆形孔的轴线与前表面(5)垂直；所述主体(1)的前表面(5)由上部和下部组成，上部平面和下部平面是一个平面的两部分。3.根据权利要求2的所述用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器，其特征在于，所述两根细线(4)竖直地设于所述主体(1)的前表面(5)的左右两侧，所述两根细线(4)的每一根的两端分别设于所述主体(1)的前表面(5)的上部和下部。4.一种用于校准测光导轨上工作平面姿态的校准装置，其特征在于，包括根据权利要求1-3中任一项的所述用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器(15)，投影灯(10)和标记板(14)。5.根据权利要求4的所述用于校准测光导轨上工作平面姿态的校准装置，其特征在于，所述工作平面标准器(15)安放在所述测光导轨(12)上，所述投影灯(10)和标记板(14)分别放置于所述测光导轨(12)的两侧外部，所述叉丝管(2)的两个十字叉丝(3)的中心均处在测光导轨(12)的测量轴线上，所述工作平面(6)垂直于测光导轨(12)的測量轴线，所述投影灯(10)和所述标记板(14)的位置经调整使得所述两根细线(4)在所述标记板(14)上形成清晰且相互重合的投影，在标记板(14)上所述投影的位置处设有标志线。6.一种校准测光导轨上工作平面姿态的校准方法，包括以下步骤：S100，提供根据权利要求1-3中任一项的所述用于校准测光导轨上工作平面姿态的工作平面标准器(15)，投影灯(10)，水准仪(13)和标记板(14)，或者提供根据权利要求4或5的所述用于校准测光导轨上工作平面姿...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘慧，杨臣铸，赵伟强，刘建，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11