一种可降低测试成本的金属刀片针卡制造技术

技术编号:14926744 阅读:117 留言:0更新日期:2017-03-30 18:36
本实用新型专利技术提供一种可降低测试成本的金属刀片针卡,包括第一探针、第二探针、第一金属刀片、第二金属刀片、印刷线路板和转接件,转接件上设置有第一金属条和第二金属条,第一探针通过第一金属刀片连接第一金属条,第二探针通过第二金属刀片连接第二金属条,印刷线路板与转接件连接从而分别电路连接第一金属条和第二金属条。较佳地,第一金属条和第二金属条成八字形设置。转接件为矩形板、等腰梯形板或三角翼形板。印刷线路板与转接件卡接并焊接连接。本实用新型专利技术的可降低测试成本的金属刀片针卡使得芯片测试的成本降低,设计巧妙,结构简洁,使用方便,适于大规模推广应用。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及探针卡制造
,特别涉及金属刀片探针卡
,具体是指一种可降低测试成本的金属刀片针卡。
技术介绍
在芯片测试中,有一类芯片的测试点位为2个,也就是说需要制作2针的探针卡来进行测试,请参见图1所示,现有的制作方法为制作2根刀片针,每根刀片针的结构为一片金属刀片2上焊接一根已经弯好的探针1,再将2根刀片针各自的金属刀片2分别焊接到PCB板3上,由专业人员进行位置的矫正工作,两根探针1的针尖相对位置符合要求即可。现有的金属刀片探针在制作好针卡进行测试时,会遇到随着测试数量的增加,探针1与探针1之间会出现高高低低的情况,由于探针1的针尖之间的间距很小,没有专业技能的人无法调整探针1的高低,这时就需要将针卡寄回制作厂商进行维修,需要耗费运输和维修的时间及维修的费用。由于这类芯片的数量非常多,测试损耗很快,为了避免影响测试进度,一般情况下一张在测试的针卡需要再准备几张例如三张备卡随时替换损坏的针卡。但是装在测试机上的PCB板3加上焊接的电子元器件价格很贵,而两根探针1之间的间距很小,之间的相对位置的调整需要在针卡厂商进行。因此,芯片测试的成本太高。因此,需要提供一种金属刀片探针卡,其使得芯片测试的成本降低,且使用方便。
技术实现思路
为了克服上述现有技术中的缺点,本技术的一个目的在于提供一种可降低测试成本的金属刀片针卡,其使得芯片测试的成本降低,适于大规模推广应用。本技术的另一目的在于提供一种可降低测试成本的金属刀片针卡,其设计巧妙,结构简洁,使用方便,适于大规模推广应用。为达到以上目的,本技术的可降低测试成本的金属刀片针卡包括第一探针、第二探针、第一金属刀片、第二金属刀片和印刷线路板,其特点是,所述的可降低测试成本的金属刀片针卡还包括转接件,所述转接件上设置有第一金属条和第二金属条,所述第一探针通过所述第一金属刀片连接所述第一金属条,所述第二探针通过所述第二金属刀片连接所述第二金属条,所述印刷线路板与所述转接件连接从而分别电路连接所述第一金属条和所述第二金属条。较佳地,所述第一金属刀片包括第一竖向部分和第一横向部分,所述第一竖向部分连接所述第一横向部分形成顺时针旋转90度的L形,所述第一探针安装在所述第一竖向部分的下部,所述第一横向部分的底面安设在所述第一金属条上。较佳地,所述第一探针焊接在所述第一金属刀片上,所述第一金属刀片焊接在所述第一金属条上。较佳地,所述第二金属刀片包括第二竖向部分和第二横向部分,所述第二竖向部分连接所述第二横向部分形成顺时针旋转90度的L形,所述第二探针安装在所述第二竖向部分的下部,所述第二横向部分的底面安设在所述第二金属条上。较佳地,所述第二探针焊接在所述第二金属刀片上,所述第二金属刀片焊接在所述第二金属条上。较佳地,所述第一金属条和所述第二金属条成八字形设置。较佳地,所述转接件为矩形板、等腰梯形板或三角翼形板。较佳地,所述印刷线路板与所述转接件卡接并焊接连接。更佳地,所述印刷线路板具有卡部,所述转接件具有卡槽,所述卡部卡接在所述卡槽中。更进一步地,所述印刷线路板包括第三竖向部分和第三横向部分,所述第三竖向部分连接所述第三横向部分形成顺时针旋转90度的L形,所述卡部位于所述第三竖向部分的下部。本技术的有益效果主要在于:1、本技术的可降低测试成本的金属刀片针卡包括第一探针、第二探针、第一金属刀片、第二金属刀片、印刷线路板和转接件,转接件上设置有第一金属条和第二金属条,第一探针通过第一金属刀片连接第一金属条,第二探针通过第二金属刀片连接第二金属条,印刷线路板与转接件连接从而分别电路连接第一金属条和第二金属条,由此,在探针损坏时仅需更换第一探针、第二探针、第一金属刀片、第二金属刀片和转接件的组件,而无需备用印刷线路板,使得芯片测试的成本降低,适于大规模推广应用。2、本技术的可降低测试成本的金属刀片针卡包括第一探针、第二探针、第一金属刀片、第二金属刀片、印刷线路板和转接件,转接件上设置有第一金属条和第二金属条,第一探针通过第一金属刀片连接第一金属条,第二探针通过第二金属刀片连接第二金属条,印刷线路板与转接件连接从而分别电路连接第一金属条和第二金属条,由此,在探针损坏时仅需更换第一探针、第二探针、第一金属刀片、第二金属刀片和转接件的组件,设计巧妙,结构简洁,使用方便,适于大规模推广应用。本技术的这些和其它目的、特点和优势,通过下述的详细说明,附图和权利要求得以充分体现,并可通过所附权利要求中特地指出的手段、装置和它们的组合得以实现。附图说明图1是现有的金属刀片探针卡的主视示意图。图2是本技术的可降低测试成本的金属刀片针卡的一具体实施例的立体示意图。图3是图2所示的具体实施例的转接件的主视示意图。图4是图2所示的具体实施例的印刷线路板的主视示意图。(符号说明)1探针;2金属刀片;3PCB板;4第一探针;5第二探针;6第一金属刀片;61第一竖向部分;62第一横向部分;7第二金属刀片;71第二竖向部分;72第二横向部分;8转接件;9第一金属条;10第二金属条;11卡部;12卡槽;13印刷线路板;14第三竖向部分;15第三横向部分。具体实施方式为了能够更清楚地理解本技术的
技术实现思路
,特举以下实施例详细说明。请参见图2-图4所示,本技术的可降低测试成本的金属刀片针卡包括第一探针4、第二探针5、第一金属刀片6、第二金属刀片7、印刷线路板13和转接件8,所述转接件8上设置有第一金属条9和第二金属条10,所述第一探针4通过所述第一金属刀片6连接所述第一金属条9,所述第二探针5通过所述第二金属刀片7连接所述第二金属条10,所述印刷线路板13与所述转接件8连接从而分别电路连接所述第一金属条9和所述第二金属条10。需要说明的是,在所述印刷线路板13与所述转接件8连接后可以分别电路连接所述第一金属条9和所述第二金属条10,表示机械连接部位同时也是电路连接部位。所述第一金属刀片6可以具有任何合适的构成,请参见图2所示,在本技术的一具体实施例中,所述第一金属刀片6包括第一竖向部分61和第一横向部分62,所述第一竖向部分61连接所述第一横向部分62形成顺时针旋转90度的L形,所述第一探针4安装在所述第一竖向部分61的下部,所述第一横向部分62的底面安设在所述第一金属条9上。所述第一探针4通过所述第一金属刀片6连接所述第一金属条9可以采用任何合适的结构,较佳地,所述第一探针4焊接在所述第一金属刀片6上,所述第一金属刀片6焊接在所述第一金属条9上。在本技术的一具体实施例中,在所述第一探针4安装在所述第一竖向部分61的下部以及所述第一横向部分62的底面安设在所述第一金属条9上的情况下,所述第一探针4焊接在所述第一竖向部分61的下部,所述第一横向部分62的底面焊接在所述第一金属条9上。所述第二金属刀片7可以具有任何合适的构成,请参见图2所示,在本技术的一具体实施例中,所述第二金属刀片7包括第二竖向部分71和第二横向部分72,所述第二竖向部分71连接所述第二横向部分72形成顺时针旋转90度的L形,所述第二探针5安装在所述第二竖向部分71的下部,所述第二横向部分72的底面安设在所述第二金属条10上。所述第二探针5通过所述第二金属刀片7连接所述第二金本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种可降低测试成本的金属刀片针卡,包括第一探针、第二探针、第一金属刀片、第二金属刀片和印刷线路板,其特征在于,所述的可降低测试成本的金属刀片针卡还包括转接件,所述转接件上设置有第一金属条和第二金属条,所述第一探针通过所述第一金属刀片连接所述第一金属条,所述第二探针通过所述第二金属刀片连接所述第二金属条,所述印刷线路板与所述转接件连接从而分别电路连接所述第一金属条和所述第二金属条。

【技术特征摘要】
1.一种可降低测试成本的金属刀片针卡,包括第一探针、第二探针、第一金属刀片、第二金属刀片和印刷线路板,其特征在于,所述的可降低测试成本的金属刀片针卡还包括转接件,所述转接件上设置有第一金属条和第二金属条,所述第一探针通过所述第一金属刀片连接所述第一金属条,所述第二探针通过所述第二金属刀片连接所述第二金属条,所述印刷线路板与所述转接件连接从而分别电路连接所述第一金属条和所述第二金属条。2.如权利要求1所述的可降低测试成本的金属刀片针卡,其特征在于,所述第一金属刀片包括第一竖向部分和第一横向部分,所述第一竖向部分连接所述第一横向部分形成顺时针旋转90度的L形,所述第一探针安装在所述第一竖向部分的下部,所述第一横向部分的底面安设在所述第一金属条上。3.如权利要求1所述的可降低测试成本的金属刀片针卡,其特征在于,所述第一探针焊接在所述第一金属刀片上,所述第一金属刀片焊接在所述第一金属条上。4.如权利要求1所述的可降低测试成本的金属刀片针卡,其特征在于,所述第二金属刀片包括第二竖向部分和第二横向部分,所述第二竖向部分连接所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员:王懿饶凤梅
申请(专利权)人:上海依然半导体测试有限公司
类型:新型
国别省市:上海;31

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