【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据信息存储
，尤其涉及一种存储阵列管理方法及装置。
技术介绍
虽然，随着存储技术的不断发展，存储成本也在不断下降，但是，读写速度快的存储模块的价格依然是相对昂贵的，为了能够更有效的利用这些价格昂贵的存储速度快的存储模块，存储阵列的技术也在逐渐的普及。目前，常用的存储速度较快的两种Flash介质如下。SLC(Single-LevelCell，单层单元):是单层单元，特点是成本高、容量小、速度快；SLC闪存的优点是复写次数高达100000次，比MLC闪存高10倍。MLC(Multi-LevelCell，多层单元):是多层单元，MLC的每个单元是2bit的，相对SLC来说整整多了一倍。容量大成本低，但是由于每个MLC存储单元中存放的资料较多，结构相对复杂，出错的几率会增加，必须进行错误修正，所以存储速度相对SLC慢很多。基于大家公认的SLC和MLC特点和性能差异，现有技术一般默认将最热数据、可靠性要求最高的数据放置在SLC，MLC次之。图1示出了现有技术中一种包含SLC和MLC的存储阵列。如图1所示，数据需要被写入到存储阵列中时，首先将其存储在介质为SLC的硬盘1上，当数据活跃度逐渐降低时，它们被迁移到介质为MLC的硬盘2中，当数据的活跃度降到更低时，再将其放入到机械硬盘中。但是，在实际应用中，由于厂家生产的SLC和MLC标准不一，很多低端的SLC性能和可靠性尚不如MLC，所以用于存储活跃度较高的存储分区的性能尚且没有用于存储活跃度较低的存储分区的性能好。总而言之，现有技术中提供的存储阵列不能够更合理有效的利用各个存储模块，所以迫切需要本...
【技术保护点】
一种存储阵列管理方法，其特征在于，包括：获取存储阵列中的各存储模块的性能测试数据；所述存储阵列中至少包括一个存储模块；根据所述存储阵列中的各个存储模块的性能测试数据，确定各存储模块所属的分区类别，其中，不同类别的分区用于存储不同活跃度的数据。
【技术特征摘要】
1.一种存储阵列管理方法，其特征在于，包括：获取存储阵列中的各存储模块的性能测试数据；所述存储阵列中至少包括一个存储模块；根据所述存储阵列中的各个存储模块的性能测试数据，确定各存储模块所属的分区类别，其中，不同类别的分区用于存储不同活跃度的数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述存储阵列中的各个存储模块的性能测试数据，确定各存储模块所属的分区类别，包括：根据各存储模块的性能测试数据确定各存储模块的性能得分；根据所述得分对各存储模块进行排序；根据排序结果确定各存储模块所属的分区类别。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定出各存储模块所属的分区类别后还包括：将存储模块的标识信息添加到对应分区类别的模块标识列表中。4.根据权利要求1所述的存储阵列管理方法，其特征在于，所述方法还包括：预先对所述存储模块进行性能测试得到性能测试数据，将所述性能测试数据存储在存储模块特定位置处；所述获取存储阵列中的存储模块的性能测试数据包括：获取存储在所述存储模块特定位置处的性能测试数据。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：判断所述特定位置处存储的性能测试数据信息的准确性；如果不准确，则根据预置场景分别对各个所述存储模块进行性能测试，分别得到各个所述存储模块的性能测试数据。6.根据权利要求5所述的存储阵列管理方法，其特征在于，还包括：根据所述测试得到的性能测试数据，更新所述存储模块上的特定位置处
\t存储的性能测试数据。7.根据权利要求1所述的存储阵列管理方法，其特征在于，所述获取存储阵列中的各存储模块的性能测试数据包括：在设定的时间间隔和/或系统空闲时，根据预制场景，对个所述存储模块进行读写测试；所述预制场景包括，顺序读、写，随机读、写，或者读写混合；根据测试结果分别确定各个所述存储模块的性能测试数据；所述性能测试数据包括，每秒进行读、写(I/O)操作的次数，读、写带宽，读、写延时中的至少一项。8.根据权利要求1-7任意一项所述的存储阵列管理方法，其特征在于，所述存储阵列为全闪存阵列，所述存储模块的介质类型包括SLC介质以及MLC介质，所述不同类别的分区用于存储不同活跃度的数据包括：判断属于各分区类别的存储模块的介质类型；若由性能测试数据较优的存储模块构成的分区中包括MLC介质的存储模块，则将所述MLC介质的存储模块用于存储活跃度较高的数据；若由性能测试数据较差的存储模块构成的分区中包括SLC介质的存储模块，则将所述SLC介质的存储模块用于存储活跃度较低的数据。9.一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：邱鑫，许利霞，刘通良，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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