空间分辨率的测试系统技术方案

本发明专利技术实施例提供了一种空间分辨率的测试系统，包括：X光机，用于发射CT空间分辨率测试用的X射线；检测标准件，检测标准件具有标准件本体、周期性排布在标准件本体上的测试部和隔离部，所述测试部具有凸起部和凹槽；探测器，X射线通过测试标准件的凸起部和凹槽后被探测器接收，并转化为电信号，将电信号转化为可视化的灰度图像，灰度图像的边缘处具有凹凸特征，随着所述线对的尺寸逐渐减少，所述凹凸特征的尺寸也逐渐减少，当所述凹凸特征点灰度值低点与灰度值高点之差达到第一阈值时，单位长度1MM内的线对数即为对应的空间分辨率。本发明专利技术空间分辨率的测试系统，实现了降低加工难度和成本，减少检测时间成本，检测精度更高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种空间分辨率的测试系统，尤其涉及一种CT空间分辨率的测试系统。
技术介绍
目前，CT的空间分辨率通常使用线对卡，但是线对卡摆放必须垂直于X光出射方向，否则摆放倾斜会导致CT的空间分辨率测试不准确。其次线对卡中测试标准件的铁丝特别细，加工以及并列时摆放会有限制。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种空间分辨率的测试系统，从而利用在测试标准件上周期性改变的测试部检测空间分辨率，降低加工难度和成本，减少检测时间成本，检测精度更高。为实现上述目的，本专利技术实施例提供了一种空间分辨率的测试系统，所述系统包括：X光机，用于发射CT空间分辨率测试用的X射线；检测标准件，所述检测标准件具有标准件本体、周期性排布在标准件本体上的测试部和隔离部，所述测试部具有凸起部和凹槽，相邻的一组凸起部和凹槽组成一个线对，所述凸起部的厚度和凹槽的深度规律性变化；探测器，所述探测器与所述X光机相对于所述检测标准件对向设置，所述X射线通过所述测试标准件的凸起部和凹槽后被所述探测器接收，并转化为电信号，将所述电信号转化为可视化的灰度图像，所述灰度图像的边缘处具有凹凸特征，随着所述线对的尺寸逐渐减少，所述凹凸特征的尺寸也逐渐减少，当所述凹凸特征点灰度值低点与灰度值高点之差达到第一阈值时，单位长度1MM内的线对数即为对应的空间分辨率。进一步，所述凸起部的厚度和凹槽的深度按照每一分段逐段减小，每一个分段之间具有一个隔离部。进一步，在同一分段内的凸起部的厚度相同，凹槽深度相同。进一步，在同一分段内的凸起部的厚度和凹槽深度相同。进一步，每一分段内的凸起部数量相同，凹槽数量相同。进一步,相邻分组之间的所述凸起部的厚度和凹槽的深度之差为0.1mm。进一步，所述标准件本体为圆柱形。进一步，所述隔离部厚度大于最大凸起部厚度。本专利技术空间分辨率的测试系统，利用在测试标准件上周期性改变的测试部检测空间分辨率，从而实现了降低加工难度和成本，并且减少检测时间成本，另外检测精度更高。附图说明图1为本专利技术实施例提供的空间分辨率的测试系统的结构示意图。具体实施方式下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。图1为本专利技术实施例提供的空间分辨率的测试系统的结构示意图，如图1所示，本专利技术实施例的空间分辨率的测试系统包括：X光机1、检测标准件2和探测器3。X光机1的作用是用来发射电子计算机断层扫描(ComputedTomography,CT)空间分辨率测试用的X射线；该X射线的目的是用来检测CT空间分辨率的。再如图1所示，检测标准件2具有标准件本体20、周期性排布在标准件本体上的测试部21以及隔离部23，测试部具有凸起部210和凹槽211，相邻的一组凸起部和凹槽组成一个线对，凸起部210的厚度和凹槽211的深度规律性变化。具体的所述规律性变化是每一分段凸起部的厚度和凹槽的深度逐段减小，在同一分段内的凸起部的厚度相同，凹槽深度相同，每一分段之间具有一个隔离部23，隔离部厚度大于最大凸起部厚度，每一分段内的凸起部数量相同，凹槽数量相同，相邻分组之间的凸起部的厚度和凹槽的深度之差为0.1mm逐段递减变化。具体的，检测标准件2的制作材质可以是铝、铁等，优选的标准件2的本体为圆柱形。测试部21周期性的排布在标准件本体20的外侧。可选的检测标准件2可以分四段，每一段凸起部210的厚度和凹槽211的深度可以按0.3mm、0.4mm,、0.5mm、0.6mm逐段分布，可选的每段分布8个凸起部和8个凹槽，相邻段之间由厚度相等的隔离部23隔开，避免不同组之间互相干扰，可选的隔离部厚度为2mm。，，另外，凸起部210和凹槽211的加工方法可以是螺旋加工，所述加工方式的加工精度会比常规线对卡的制作好，加工过程更加便捷，加工成本比现有技术低得多。探测器3与X光机1相对于检测标准件2对向设置，X射线通过所述测试标准件的凸起部210和凹槽211后被探测器3接收，并转化为电信号，将电信号转化为可视化的灰度图像，输出的灰度图像的边缘处具有凹凸特征，相同的一组凸起部和凹槽组成一个线对，随着线对的尺寸逐渐减少，凹凸特征的尺寸也逐渐减少，当所述凹凸特征点灰度值低点与灰度值高点之差达到第一阈值时，单位长度1MM内的线对数即为对应的空间分辨率，可选的第一阀值为10％。具体的，使用方法：将检测标准件2放置在X光机1出口与探测器3，调节至三点一线，调节CT放大倍数将CT图像调整到合适位置。从X光机1出射的测试X射线在经过检测标准件2的凸起部210和凹槽211后，被探测器3接收X射线，然后将X射线转化为电信号进行后续处理。将电信号再转化为可视信号，目的是用来检测可视信号中图像的精度。例如，可选的，检测标准件2分成4段，不同段的槽深从上至下依次为0.3mm，0.4mm，0.5mm，0.6mm，不同段的凸起部分厚度从上至下依次为0.3mm，0.4mm，0.5mm，0.6mm，隔离部厚度2mm，从上到下的线对换算成精度值对应为1.667lp/mm,1.250lp/mm,1.00lp/mm,0.834lp/mm,如果CT机判断在凹凸特征点灰度值低点与灰度值高点之差达到第一阈值时，可选的第一阀值为10％，识别出槽深为0.3mm的线对，CT机的空间分辨率即为1.667lp/mm，此CT空间分辨率是以凹凸特征点灰度值低点与灰度值高点之差达到第一阀值要求，单位长度1MM内线对数来确定的。现有技术中的CT的空间分辨率通用线对卡，但是线对卡中的铁丝特别细，加工以及并列时摆放会有限制，加工成本高，精度相对低，而且摆放必须是垂直于X光出射方向，不可以倾斜，否则测试不准确。而本专利技术的检测标准件的凸起部和凹槽的加工可以利用车床进行螺旋加工，而车床的加工成本低，并且加工精度可以降低到微米级别，加工的误差更可控，实现更高的检测精度。因此较线对卡来说，圆柱形的检测标准件，因为摆放起来更方便，所以检测简便，而且不需要更换，利用一个检测标准件就可以检测CT空间分辨率。以上所述的具体实施方式，对本专利技术的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本专利技术的具体实施方式而已，并不用于限定本专利技术的保护范围，凡在本专利技术的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种空间分辨率的测试系统，其特征在于，所述系统包括：X光机，用于发射电子计算机断层扫描CT空间分辨率测试用的X射线；检测标准件，所述检测标准件具有标准件本体、周期性排布在标准件本体上的测试部和隔离部，所述测试部具有凸起部和凹槽，相邻的一组凸起部和凹槽组成一个线对，所述凸起部的厚度和凹槽的深度规律性变化；探测器，所述探测器与所述X光机相对于所述检测标准件对向设置，所述X射线通过所述测试标准件的凸起部和凹槽后被所述探测器接收，并转化为电信号，将所述电信号转化为可视化的灰度图像，所述灰度图像的边缘处具有凹凸特征，随着所述线对的尺寸逐渐减少，所述凹凸特征的尺寸也逐渐减少，当所述凹凸特征点灰度值低点与灰度值高点之差达到第一阈值时，单位长度1MM内的线对数即为对应的空间分辨率。

【技术特征摘要】
1.一种空间分辨率的测试系统，其特征在于，所述系统包括：X光机，用于发射电子计算机断层扫描CT空间分辨率测试用的X射线；检测标准件，所述检测标准件具有标准件本体、周期性排布在标准件本体上的测试部和隔离部，所述测试部具有凸起部和凹槽，相邻的一组凸起部和凹槽组成一个线对，所述凸起部的厚度和凹槽的深度规律性变化；探测器，所述探测器与所述X光机相对于所述检测标准件对向设置，所述X射线通过所述测试标准件的凸起部和凹槽后被所述探测器接收，并转化为电信号，将所述电信号转化为可视化的灰度图像，所述灰度图像的边缘处具有凹凸特征，随着所述线对的尺寸逐渐减少，所述凹凸特征的尺寸也逐渐减少，当所述凹凸特征点灰度值低点与灰度值高点之差达到第一阈值时，单位长度1MM内的线对数即为对应的空间分辨率。2.根据权利要求1所述的空...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴金杰，王鹏，蒋伟，周振杰，廖振宇，余继利，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11